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公开(公告)号：CN119388142B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202510005850.9
申请日：2025-01-03
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本公开属于轨道交通技术领域，提供了一种信号产品的组装方法、装置、电子设备以及存储介质，该方法包括：当监测到第一工位的各第一治具上放置对应的第一部件时，传送各第一治具至第二工位，在第二工位确定各第一部件放置正确后，利用多个第三工位组装各第一部件，第一部件为组装安全信号灯所需的部件；当监测到第二工位的缓存轨道上存在各第二部件时，将第一工位存储的第二治具传送至第二工位，第二工位将各第二部件放置在第二治具上，利用多个第三工位组装各第二部件，第二部件为组装数字轨道电路所需的部件，第二治具与第一治具不同。本公开提高了信号产品的组装效率。
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公开(公告)号：CN118858817A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411069026.1
申请日：2024-08-06
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本发明公开了一种信号测试装置、衰耗冗余控制器和轨道电路系统。该信号测试装置应用于衰耗冗余控制器，该信号测试装置包括：塞孔插座、连接器、线束和设置在衰耗冗余控制器上的面板；其中，连接器的第一端与衰耗冗余控制器的控制板卡连接，连接器的第二端通过线束与塞孔插座的第一端连接；面板上设置有多个安装区域，每个安装区域设置有一塞孔插座；塞孔插座的第二端设置在面板上，且每个塞孔插座的第二端端面与对应的安装区域齐平设置；其中，塞孔插座的第二端端面上设置有多个内缩式测试孔；内缩式测试孔用于为待测设备提供信号测试通道。通过将测试通道内缩式设计，阻止外界静电场进入设备内部，提高设备的抗静电性能，增强电气安全性。
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公开(公告)号：CN117922633A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410022185.X
申请日：2024-01-05
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本发明提出一种微电子接收器，涉及轨道交通技术领域，可以提高轨道电路监测/控制的可靠性和效率。该微电子接收器包括：使用微电子接收器替换二元二位继电器，微电子接收器包括两个独立的二取二信号处理结构，均可以独立完成对轨道电压和局部电压进行各种防护、隔离、偏置等操作后送入两个处理器，以便该两个处理器均可以独立的对轨道电压和局部电源进行同步采样、确定轨道状态、生成驱动信号和报警信号，驱动模块即可根据两个处理器发送的驱动指令生成轨道继电器的实际驱动指令，且报警盒也可以根据两个处理器发送的报警信号生成报警继电器的实际报警指令。
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公开(公告)号：CN114252715B
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202111376458.3
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种兼容性性能测试方法及系统，方法用于轨道电路产品，包括如下步骤：通用主机控制部件接收可执行测试命令，对所述可执行测试命令进行解析，得到控制命令，所述可执行测试命令是由测试案例生成的带参数的可执行测试命令；通用主机控制部件通过控制命令对设备运行载体内的多种轨道电路产品进行性能测试。解决目前轨道电路产品性能测试方法具有的只针对轨道电路单类型产品进行测试，未考虑不同类型轨道电路产品测试的兼容性问题以及只针对单类型轨道电路单台产品进行测试，未考虑规模测试的问题。
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公开(公告)号：CN116750037B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202311036237.0
申请日：2023-08-17
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Inventor： 王华超 , 乔志超 , 孙国营 , 任国桥 , 杨轶轩 , 郜志强 , 袁诚 , 赵宇鑫 , 陈懿 , 李海龙 , 刘卿君 , 王玉章 , 刘锐冬 , 刘志明 , 陈弘博 , 李自生 , 张璐 , 海宁 , 苏博 , 赵立娜
IPC: B61L1/18
Abstract: 本发明公开了一种通用轨道电路，涉及铁路信号技术领域。包括具有两个独立CPU模块的数字控制单元，能够配置轨道电路设备类型、编码模式，动态读取编码条件信号；每个CPU模块根据获得的信号载频和低频信息，控制生成并放大相应的移频信号，并将移频信号返回CPU模块进行幅度和频率检查，当移频信号符合幅度和频率要求时，CPU模块控制发送信号生成及回检模块输出对应的功出信号至钢轨；每个CPU模块通过信号输入模块解调从钢轨返回的信号并进行区段状态判定，根据区段状态判定情况，对轨道继电器进行相应控制，并通信输出区段状态。本发明能够检查区段空闲/占用状态，并且减少了轨道电路设备种类、数量和成本，便于设计及维护。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114325161B
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202111401845.8
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本发明提供一种兼容性性能测试方法及系统，方法用于轨道电路产品，包括如下步骤：通用主机控制部件接收可执行测试命令，对所述可执行测试命令进行解析，得到控制命令，所述可执行测试命令是由测试案例生成的带参数的可执行测试命令；通用主机控制部件通过控制命令对设备运行载体内的多种轨道电路产品进行性能测试。解决目前轨道电路产品性能测试方法具有的只针对轨道电路单类型产品进行测试，未考虑不同类型轨道电路产品测试的兼容性问题以及只针对单类型轨道电路单台产品进行测试，未考虑规模测试的问题。
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公开(公告)号：CN116750037A
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN202311036237.0
申请日：2023-08-17
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Inventor： 王华超 , 乔志超 , 孙国营 , 任国桥 , 杨轶轩 , 郜志强 , 袁诚 , 赵宇鑫 , 陈懿 , 李海龙 , 刘卿君 , 王玉章 , 刘锐冬 , 刘志明 , 陈弘博 , 李自生 , 张璐 , 海宁 , 苏博 , 赵立娜
IPC: B61L1/18
Abstract: 本发明公开了一种通用轨道电路，涉及铁路信号技术领域。包括具有两个独立CPU模块的数字控制单元，能够配置轨道电路设备类型、编码模式，动态读取编码条件信号；每个CPU模块根据获得的信号载频和低频信息，控制生成并放大相应的移频信号，并将移频信号返回CPU模块进行幅度和频率检查，当移频信号符合幅度和频率要求时，CPU模块控制发送信号生成及回检模块输出对应的功出信号至钢轨；每个CPU模块通过信号输入模块解调从钢轨返回的信号并进行区段状态判定，根据区段状态判定情况，对轨道继电器进行相应控制，并通信输出区段状态。本发明能够检查区段空闲/占用状态，并且减少了轨道电路设备种类、数量和成本，便于设计及维护。
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公开(公告)号：CN114264898B
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202111400303.9
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种兼容性性能测试方法及系统，方法用于轨道电路产品，包括如下步骤：通用主机控制部件接收可执行测试命令，对所述可执行测试命令进行解析，得到控制命令，所述可执行测试命令是由测试案例生成的带参数的可执行测试命令；通用主机控制部件通过控制命令对设备运行载体内的多种轨道电路产品进行性能测试。解决目前轨道电路产品性能测试方法具有的只针对轨道电路单类型产品进行测试，未考虑不同类型轨道电路产品测试的兼容性问题以及只针对单类型轨道电路单台产品进行测试，未考虑规模测试的问题。
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公开(公告)号：CN116191077A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310233742.8
申请日：2023-03-13
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
Abstract: 本发明涉及轨道设备技术领域，公开一种轨道电路信号传输装置。其中轨道电路信号传输装置包括电路印制板、设备底座和连接器，电路印制板和设备底座相互间隔设置；连接器设置于电路印制板和设备底座之间，连接器包括壳体和设置于壳体内的连接片，连接片的一端凸设于壳体的上方，并与电路印制板电性连接，另一端与设备底座电性连接。本发明通过设置连接器，用于实现电路印制板与设备底座之间的电性连接。通过连接片替代现有技术中的软线，有效地减少了单独配线时间，减少了工作量；同时，降低了接线错误率和检修维护的难度。
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公开(公告)号：CN114264899A
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202111400565.5
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种兼容性性能测试方法及系统，方法用于轨道电路产品，包括如下步骤：通用主机控制部件接收可执行测试命令，对所述可执行测试命令进行解析，得到控制命令，所述可执行测试命令是由测试案例生成的带参数的可执行测试命令；通用主机控制部件通过控制命令对设备运行载体内的多种轨道电路产品进行性能测试。解决目前轨道电路产品性能测试方法具有的只针对轨道电路单类型产品进行测试，未考虑不同类型轨道电路产品测试的兼容性问题以及只针对单类型轨道电路单台产品进行测试，未考虑规模测试的问题。
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