一种显微成像辐射校准基片及其制备方法

    公开(公告)号:CN109580172A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811312322.4

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法,该基片包括:积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板,其中,积分球的底端位于基板上,积分球的顶端处设置第一通孔,若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁,每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路,光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法,制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能,依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片,以满足显微成像设备辐射校准需求。

    一种LED灯丝发光强度标准灯

    公开(公告)号:CN105570701B

    公开(公告)日:2018-10-30

    申请号:CN201610113751.3

    申请日:2016-02-29

    Abstract: 提供一种LED灯丝发光强度标准灯,包括:灯头和灯壳,灯壳内设置有玻璃芯柱、灯丝支架、LED灯丝,灯壳密封并充有散热保护气体;灯丝支架固定于玻璃芯柱上,玻璃芯柱内引出两根导丝分别为正极连线和负极连线,正极连线和负极连线分别与灯头的两极相连;LED灯丝固定于灯丝支架上,等间隔平行排布于灯壳内的一个平面内,平面的中心与灯壳的中心一致;灯壳表面涂黑并开有透光窗口,透光窗口位于涂黑面的中心并与LED灯丝所在平面的中心一致。本发明的LED灯丝发光强度标准灯结构简单、易于装调、水平和垂直角度特性良好、光照场分布均匀,具有稳定性好、抗震动、成品率高、成本低的优点,且能显著减小光谱失配引起的测量结果的不确定度。

    空心阴极灯的波长标定方法及装置

    公开(公告)号:CN108061601A

    公开(公告)日:2018-05-22

    申请号:CN201711249595.4

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 本发明提供了一种空心阴极灯的波长标定方法及装置,包括:S1,基于修正后的迈克尔逊干涉仪,采集待标定的空心阴极灯发出的光信号的第一光谱曲线,并从所述第一光谱曲线中提取第一峰值波长,所述迈克尔逊干涉仪具有预设尺寸的口径;S2,基于所述修正后的迈克尔逊干涉仪的修正曲线,确定所述第一峰值波长的准确值,以完成对所述空心阴极灯的波长标定。本发明提供的方法及装置,可以用于标定空心阴极灯的波长。而且,由于采用了大口径的迈克尔逊干涉仪,可以分辨出相差皮米(pm)量级的两种波长,使标定结果更准确。

    一种基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法及系统

    公开(公告)号:CN108037078A

    公开(公告)日:2018-05-15

    申请号:CN201711250397.X

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 本发明提供的一种基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法及系统,其中所述方法包括:S1,获取光强周期性变化的光源在不同电流和不同波长下的光谱分布矩阵;S2,用所述光强周期性变化的光源照射探测器,以获取所述探测器的响应矩阵;S3,用所述光强周期性变化的光源照射测量对象,获取所述探测器的输出信号,并结合所述响应矩阵和所述光谱分布矩阵,获取所述测量对象在不同波长下的光学性能。本发明提供的基于矩阵变换的测量材料光学性能的方法,简化了测量步骤,且该光谱仪的电路简单,使得整个测量系统的成本较低,提高了该方法和系统的实用性。

    一种光谱中性滤光装置
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107976734A

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:CN201711248737.5

    申请日:2017-12-01

    Abstract: 本发明提供的一种光谱中性滤光装置,包括:左侧滤光片组和右侧滤光片组;所述左侧滤光片组的透射面与水平方向的夹角为锐角,所述右侧滤光片组的透射面与光线入射方向水平方向的夹角为负角,且所述负角的大小与所述锐角的大小相同;所述左侧滤光片组和所述右侧滤光片组由数量相同的多片高纯石英滤光片依次堆叠形成。本发明提供的光谱中性滤光装置可对光产生特定的透射比;且该光谱中性滤光装置既可以用于可见波段透射比的标定,也可用于紫外波段透射比的标定,扩大了该光谱中性滤光装置的标定范围。

    一种总光通量标准灯
    27.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107575755B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN201710950741.X

    申请日:2017-10-13

    Abstract: 本发明涉及一种总光通量标准灯,其中在灯壳(6)与灯头(1)的连接处设有从灯壳(6)的内壁向中心延伸的芯柱(3),芯柱(3)的底部与灯头(1)固定连接,从芯柱(3)的端部向下设有组合灯丝(5),组合灯丝(5)包括环绕并固定在芯柱(3)上的第一导体环(71)、第二导体环(72)和第三导体环(73),第一导体环(71)和第二导体环(72)之间的第一LED灯丝(51),以及第二导体环(72)和第三导体环(73)之间第二LED灯丝(52)。本发明的总光通量标准灯,光强空间分布均匀,在用球形光度计测量时有效减小了由于标准灯与被测灯的光强空间分布不一致的偏差及被测光源为LED时的光谱失配误差。具有寿命长,抗震动,成本低的优点。

    基于多次反射结构的高功率激光功率测量系统

    公开(公告)号:CN112834029A

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN202110137182.7

    申请日:2021-02-01

    Abstract: 本发明公开了基于多次反射结构的高功率激光功率测量系统,涉及激光测量技术领域。包括:测量反射镜、测量模块、第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜,其中,测量反射镜的非反光面与测量模块的测量端连接,且测量模块的测量方向与测量反射镜的反光面垂直,第三反射镜的反光面与测量反射镜的反光面相对放置,第一反射镜用于改变入射的高功率激光的光路,第二反射镜用于改变出射的高功率激光的光路,使高功率激光经过测量反射镜和第三反射镜的反射后沿入射光路的方向射出。该系统的体积小、重量轻、响应速度快、无需水冷且可在线测量,测量准确度高且稳定性好,且可实现更低的激光功率分辨能力,大大降低测量装置成本。

    一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法

    公开(公告)号:CN110702236B

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN201911084805.8

    申请日:2019-11-08

    Abstract: 本发明提出了一种用于光纤波长标准器的高精度光谱定标方法,包括以下步骤:S1、利用可调谐激光器发射激光;S2、利用光纤分束器对激光进行分束处理,得到第一光束和第二光束;S3、将第一光束通过待定标的光纤波长标准器,利用光功率计分别测量第一光束和第二光束的光功率,利用光波长计测量第二光束的波长;S4、基于第一光束和第二光束的光功率、第二光束的波长获得吸收峰扫描曲线,计算吸收峰波长;S5、将计算得到的吸收峰波长赋予待定标的光纤波长标准器,实现光纤波长标准器的光谱定标。本发明方法可以为光纤波长标准器提供高精度定标,为高分辨率、高精度光纤波长提供了量值溯源的可靠途径与保障。

    一种显微成像辐射校准基片及其制备方法

    公开(公告)号:CN109580172B

    公开(公告)日:2020-09-15

    申请号:CN201811312322.4

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种显微成像辐射校准基片及其制备方法,该基片包括:积分球、若干个光源、光源驱动控制电路和基板,其中,积分球的底端位于基板上,积分球的顶端处设置第一通孔,若干个光源发出的光能直接或者间接照射到积分球的内壁,每一光源可直接或者间接连接至光源驱动控制电路,光源驱动控制电路可直接或间接与基板连接。本发明实施例提供的一种显微成像辐射校准基片及其制备方法,制备多个子基片分别实现积分球、光源、光源驱动控制电路等部件的整体或者局部功能,依次堆叠这些子基片后可构建成第一通孔处具有均匀辐射亮度的基片,以满足显微成像设备辐射校准需求。

Patent Agency Ranking