-
公开(公告)号：CN106153575A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610538739.7
申请日：2016-07-11
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N21/359 , G01N21/01
CPC classification number: G01N21/359 , G01N21/01 , G01N2021/0112 , G01N2201/0668
Abstract: 本发明公开了一种声光调制双光路双探测器型近红外光谱仪及测试方法。该仪器包括光谱分析光学、射频驱动模块、信号采集模块、控制及处理模块、电源模块、比色皿样品测试结构。该发明采用双光路双探测器设计，结合按次序测试无器皿、空器皿及含样品器皿时的参考光及测量光信号的测试方法，通过综合数据处理达到有效降低光源不稳定、两探测器差异、环境干扰、样品器皿差异等引起的测试误差的目的。
-
公开(公告)号：CN105371953A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510866388.8
申请日：2015-12-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种通用型便携式地物光谱成像仪，它包括光谱分析模块、数据采集与处理模块、软件控制模块、安装基座。光谱分析模块采用视场光阑与探测器共轭成像的光学设计，以及通用型标准接口设计，实现成像镜头可切换的精细光谱成像探测；数据采集与处理模块通过多射频复合声光可调驱动技术实现可编程光谱选择，获取目标图像和光谱数据；对软件控制模块进行配置，实现光谱和图像数据实时处理与分析；光机构型采用折转设计，实现仪器紧凑、轻小型。采用本发明实施的仪器，在具备高性能精细光谱成像分析功能的同时，满足体积、重量及多种类环境、功能的特殊要求，适应多应用领域的光谱探测及应用。
-
公开(公告)号：CN104748851A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201510145520.6
申请日：2015-03-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种提升凝视型红外光谱仪工作效率的变增益控制系统及方法，系统包括输入微弱光谱信号模块，变增益控制放大模块，同频参考信号的整形移相模块，相敏检波处理模块，信号的低通滤波与直流放大模块，每个波段的光谱信号处理时首先通过所述的4个调整电阻和4个模拟开关，针对信号的幅值通过程序控制模拟开关的通断状态实时调整各个波段信号的增益参数，调整后的信号再经过低通滤波处理送后级的相敏检波模块，本发明的优点在于：电路实现形式较为简单，对于提升凝视型红外光谱仪的探测效率有显著效果。
-
公开(公告)号：CN118641484A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410783052.4
申请日：2024-06-18
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明提供一种基于实时温度测量的热去除装置及方法，属于物质检测方法技术领域，该装置包括相互连接的温度测量系统和光谱测量系统，该方法包括：所述温度测量系统和所述光谱测量系统同步获取被测目标的光谱信号，所述光谱信号包括目标反射光谱与目标自身热辐射的光谱；所述温度测量系统通过对所述光谱信号中多个谱段的红外波段信号进行实时测量与解算，得到被测目标的温度；所述光谱测量系统根据被测目标的温度，对所述光谱信号中目标自身热辐射的光谱进行实时热去除，得到目标反射光谱。该装置及方法通过测量物体表面的热辐射来实时获得物体的温度，进而根据被测目标的温度，实现准确的光谱热去除，提高目标识别与反演分析的准确度。
-
公开(公告)号：CN111623876B
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202010623576.9
申请日：2020-07-01
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于S矩阵狭缝阵列的推扫式高光谱成像系统及方法，包括主望远镜、视场光阑、S矩阵狭缝阵列、高精度电控位移台、光谱仪组件、视场补偿镜以及数据处理模块。将S矩阵狭缝阵列固定在高精度电控位移台，放置于主望远镜的一次焦面，使用视场光阑控制编码宽度，精确移动实现对面视场三维光谱图像信号的全采样，使用视场补偿镜消除编码过程中的运动模糊，通过数据处理实现空谱三维数据立方体的获取。本发明作为一种典型的计算成像方法，不存在信息丢失的问题，并且具有高通量的特点，特别适用于弱光下或者受限于积分时间的快速曝光成像场景，可搭载于卫星、飞机等具有稳定运动特性的平台开展高光谱遥感应用。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116519148A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310498348.7
申请日：2023-05-06
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于丝杠、凸轮、机械光阑的黑体在轨定标装置，包括丝杠组件、导轨、步进电机、凸轮槽、机械光阑组件、黑体组件、行程开关、光阑安装座。丝杠组件、步进电机、导轨构成的驱动部分与黑体组件、机械光阑构成的黑体定标组件分别安装在不同的层面，黑体组件的运动方向与电机旋转面的径向平行，但不共面，两部分由凸轮槽通过凸轮机构原理将两部分连接。本发明的特点在于采用驱动部分组件与黑体定标执行部件安装界面不共面，且允许部分交叉；通过凸轮作用将驱动与黑体定标执行部件连接，安装环境适应强。采用的滑动丝杠和凸轮槽凸轮线均具备自锁能力，同时具有抗力学能力。
-
公开(公告)号：CN112284687B
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202010992382.6
申请日：2020-09-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开一种适用于深空探测成像光谱仪的成像模拟系统和方法，本发明系统包括低温箱、透光窗口、摆镜、反射镜、步进电机、低温箱控制器、低温箱数据和控制线，步进电机控制器，步进电机数据和控制线。该系统通过步骤(1)确定成像场景，安置成像光谱仪，连接各组件之间的数据和控制线；(2)确定低温箱的温度控制曲线；(3)确定摆镜的转动速度曲线；(4)高光谱数据采集和三维模型数据采集；(5高光谱数据辐射定标和几何校正；(6)根据所获取的辐射亮度图像，从图像和三维模型数据中选择验证点评价模拟成像环境下辐射和几何畸变。本发明的成像模拟系统和方法可用于成像光谱仪研制和发射前的成像质量评价。
-
公开(公告)号：CN114969615A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210259813.7
申请日：2022-03-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于光谱分辨率降级的热红外高光谱温度发射率反演方法，涉及红外高光谱遥感领域。所要解决的是热红外高光谱数据的温度发射率反演问题。该方法步骤如下：(1)获取热红外高离地辐射亮度光谱及其同步的大气下行辐射亮度光谱；(2)候选温度集合确定；(3)黑体辐射亮度光谱计算；(4)光谱分辨率降级；(5)候选发射计算；(6)代价函数计算；(7)最优温度确定；(8)最终发射率计算。本发明以提高温度求解精度为切入点，通过提高温度的求解精度实现温度和发射率求解精度的同步提高。
-
公开(公告)号：CN113029339A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110268809.2
申请日：2021-03-12
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开一种用于深空探测成像光谱仪的在轨多溯源光谱辐射定标方法，该方法步骤如下：(1)当环绕器抵达环绕器轨道的远天体轨道时，进行对日定标；(2)对日定标数据采集完成后，进行对冷空间及积分球定标；(3)扣除对日定标辐射数据与对积分球定标辐射数据中的暗背景，分别计算光谱辐射定标系数。用对日定标的光谱辐射定标系数校准对积分球定标的辐射定标系数；(4)环绕器抵达近天体轨道，同时采集成像光谱数据与暗背景数据；(5)用所得在轨光谱辐射定标系数将成像光谱数据转换为辐射亮度。本方法克服了因积分球辐射强度的定标系数偏移，保证了在轨辐射定标的实时性、持续性与数据的准确性。
-
公开(公告)号：CN112284537A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202010966364.0
申请日：2020-09-15
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种推扫式高光谱成像仪光谱弯曲和梯形畸变检测方法，该方法步骤如下：(1)制作适用于光谱弯曲检测和梯形畸变检测的参考靶标；(2)暗背景数据测量；(3)光谱弯曲检测靶标成像数据测量；(4)梯形畸变检测靶标成像数据测量；(5)成像数据处理；(6)时间维方向平均；(7)光谱弯曲计算；(8)梯形畸变计算。本发明的以推扫式高光谱成像仪的光谱弯曲和梯形畸变的产生机理为基础，以参考靶标测量的方式，通过一定数据处理获取了高光谱成像仪全幅的光谱弯曲和梯形畸变，在保证测量精度的同时，提高了工作效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
71
records
(took 0.035 seconds)
