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公开(公告)号：CN113030687B
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202110197136.6
申请日：2021-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域，公开了一种性能测试方法，包括在不同的温度环境下对待测样品进行测试，获取待测样品的谐振频率温度系数；将待测样品固定于红外成像设备上，将红外成像设备加热至预设温度；向待测样品施加预设输入功率，使用红外成像设备对待测样品进行成像测试，获取待测样品在预设输入功率条件下的表面温度场信息；保持待测样品上施加的预设输入功率不变的情况下，测试获取待测样品的特征频率；根据谐振频率温度系数和特征频率，计算获取待测样品在预设输入功率条件下的等效温升。通过获取在预设功率负载下待测样品的表面温度场信息以及等效温升值，为相关产品的设计、可靠性评价及分析、失效机理建模等工作提供可靠的支撑。
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公开(公告)号：CN116381441A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202310250336.2
申请日：2023-03-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种半导体器件失效分析方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法应用于测试系统，测试系统包括透明腔体、电力接口和图像采集设备，透明腔体用于放置待测半导体器件，所述方法包括：在透明腔体内的测试环境信息和待测半导体器件的电学偏置条件满足预设测试环境信息和预设电学偏置条件时，通过电力接口获取待测半导体器件的电学输出信息和电学输入信息；根据电学输出信息确定待测半导体器件是否放电；若放电，则通过图像采集设备采集待测半导体器件放电时的图像信息，并根据图像信息、电学输出信息、电学输入信息和测试环境信息确定待测半导体器件的失效信息。采用本方法能够确定半导体器件在低气压环境下放电的失效信息。
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公开(公告)号：CN111258344B
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202010098953.1
申请日：2020-02-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G05D11/13
Abstract: 本申请涉及一种气体浓度调节系统、方法及装置；其中，气体浓度调节系统，包括密封腔体，用于向密封腔体冲入填充气体、混合气体的配气装置，用于检测密封腔体内目标气体浓度的目标气体检测仪，以及用于测量密封腔体内部压力的气压测量装置；还包括控制装置；控制装置包括控制电路以及连接控制电路的多个气动阀；气压测量装置、目标气体检测仪均连接控制电路；各气动阀分别连接在密封腔体与配气装置之间、密封腔体与目标气体检测仪之间；本申请解决了密封腔体内目标气体浓度的自动调节和精确控制问题。
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公开(公告)号：CN111413560B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202010160624.5
申请日：2020-03-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种圆片键合质量可靠性测试结构及可靠性测试方法；其中，圆片键合质量可靠性测试结构，包括依次相接触串联固定在机械支撑层上的多个圆片键合结构组件；还包括设于首个圆片键合结构组件处的第一测试位点，和设于末端圆片键合结构组件处的第二测试位点；圆片键合结构组件包括通过导电的桥梁结构连接的两个圆片键合结构；圆片键合结构包括依次层叠在机械支撑层上的金属层、结构层；任一圆片键合结构的结构层通过桥梁结构连接另一圆片键合结构的结构层；任一圆片键合结构的金属层与相邻圆片键合结构组件中任一圆片键合结构的金属层通过金属布线相接触；本申请可通过测试圆片键合结构的接触电阻，实现对圆片键合的无损检测。
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公开(公告)号：CN114005486A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202111190652.2
申请日：2021-10-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G11C29/56
Abstract: 本申请涉及一种非易失性存储器辐射效应测试方法、装置、计算机设备和存储介质，应用于内置非易失性存储器的存储芯片，该方法包括：对被测芯片进行工作模式配置和初始数据写入操作，以使被测芯片中的易失性存储器写入初始数据；控制被测芯片断电，等待预设时长，以使初始数据从非易失性存储器自动写入非易失性存储器；控制辐照装置以预设辐照参数，辐照非易失性存储器；控制被测芯片上电，等待设定时间，以使易失性存储器从非易失性存储器中读出反馈数据；获取反馈数据，并根据反馈数据和初始数据，得到辐射效应测试结果并输出。上述非易失性存储器辐射效应测试方法，无需直接访问非易失性存储器，有利于扩展存储器辐射效应测试方法的应用场景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110045204B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201910341865.7
申请日：2019-04-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，采集待测器件的电流，并将采集到的电流确认为效应电流；以效应电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流，直至监测到处于当前离子束辐照中的待测器件、退出单粒子闩锁效应时，将当前的输入电流确认为待测器件对应的退出电流；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的退出电流；将各退出电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁维持电流，从而，本申请能够获得待测器件在辐射环境下的单粒子闩锁维持电流，提高了测试单粒子闩锁维持电流的准确度，进而为改进器件抗闩锁设计提供数据支持。
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公开(公告)号：CN109200868B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201811003407.4
申请日：2018-08-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种可快速混合高温高压气体的实验装置及方法。所述可快速混合高温高压气体的实验装置，包括实验容器、主动转动座、搅动机构及从动转动座，实验容器内设有实验腔体，主动转动座设置在实验腔体外，搅动机构和从动转动座设置在实验腔体内，搅动机构安装在从动转动座上以跟随从动转动座转动，主动转动座上设有第一磁性机构，从动转动座上设有第二磁性机构，主动转动座通过第一磁性机构与第二磁性机构的配合带动从动转动座转动。使用时先按照预定要求往实验腔体送入各种气体，再转动主动转动座，主动转动座通过第一磁性机构与第二磁性机构的配合带动从动转动座转动，从动转动座驱动搅动机构转动，从而可实现高温高压气体的快速混合。
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公开(公告)号：CN111398778A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010181489.2
申请日：2020-03-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置及监测方法；其中，MEMS器件敏感结构辐照在线监测装置，包括对敏感结构与信号处理电路进行预设距离隔离的移动载体，以及对信号处理电路进行辐照屏蔽的屏蔽体；其中，移动载体包括用于布设敏感结构的第一固定部，和用于布设信号处理电路的第二固定部，第一固定部与第二固定部间隔设置、以使敏感结构与信号处理电路以预设距离隔离，敏感结构连接信号处理电路；屏蔽体设有空腔，屏蔽体顶部设有与空腔相连通的出入孔，以供布设有信号处理电路的第二固定部的进出；当信号处理电路位于空腔内时进行辐照，并基于待测MEMS器件的在线输出参数得到监测结果。本申请可实现只针对敏感结构的辐照及在线监测。
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公开(公告)号：CN111258344A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010098953.1
申请日：2020-02-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G05D11/13
Abstract: 本申请涉及一种气体浓度调节系统、方法及装置；其中，气体浓度调节系统，包括密封腔体，用于向密封腔体冲入填充气体、混合气体的配气装置，用于检测密封腔体内目标气体浓度的目标气体检测仪，以及用于测量密封腔体内部压力的气压测量装置；还包括控制装置；控制装置包括控制电路以及连接控制电路的多个气动阀；气压测量装置、目标气体检测仪均连接控制电路；各气动阀分别连接在密封腔体与配气装置之间、密封腔体与目标气体检测仪之间；本申请解决了密封腔体内目标气体浓度的自动调节和精确控制问题。
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公开(公告)号：CN110045204A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910341865.7
申请日：2019-04-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种单粒子闩锁维持电流测试方法、装置及系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，采集待测器件的电流，并将采集到的电流确认为效应电流；以效应电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流，直至监测到处于当前离子束辐照中的待测器件、退出单粒子闩锁效应时，将当前的输入电流确认为待测器件对应的退出电流；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的退出电流；将各退出电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁维持电流，从而，本申请能够获得待测器件在辐射环境下的单粒子闩锁维持电流，提高了测试单粒子闩锁维持电流的准确度，进而为改进器件抗闩锁设计提供数据支持。
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