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公开(公告)号：CN104238077B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410447873.7
申请日：2014-09-04
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G02B13/00
Abstract: 本发明提供了一种线性色散物镜，轴向色散在F光至C光波长范围内与波长近似成线性关系，具有大的色散、大的工作距离、小的球差。本发明的色散物镜由靠近针孔的整体为负光焦度的透镜组与靠近物体的整体为正光焦度的透镜组组合而成，物镜最靠近物体的表面为凹面，正、负透镜组的材料满足一定的色散校正关系。该发明可提供较大的设计自由度，用于光谱共焦技术的装置，可有效提升装置的整体性能，主要应用于位移、透明元件厚度、微小三维结构、表面粗糙度等检测。
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公开(公告)号：CN103940333B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410202911.2
申请日：2014-05-15
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B7/13
Abstract: 本发明提供了一种基于柔性铰链的电子塞规，所述的电子塞规的基体上有一个柔性铰链和绕其转动的杠杆，杠杆转动位移由电感位移传感器测出；球头Ｉ固定在基体上杠杆相对的一侧，球头固定在杠杆一端随杠杆绕柔性铰链转动，这两个球头共线；球头分别固定在限位轴两头，限制电子塞规在被测孔中的平移和转动范围；四个球头成“十”形对称共面分布，每个球头下有一垫片。限位轴固定在基体下部的孔上并由螺钉紧固，定位座控制测量位置。本发明能够快速在位测量孔径。
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公开(公告)号：CN214066981U
公开(公告)日：2021-08-27
申请号：CN202120117908.6
申请日：2021-01-15
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本实用新型涉及零件检测技术领域，具体涉及一种半球类零件翻转检测工装；采用的技术方案是：一种半球类零件翻转检测工装，包括支架，所述支架上设有环形工装体，所述环形工装体用于容纳待检测半球类零件，所述环形工装体在支架竖向的角度可变；所述环形工装体上端可拆卸连接有固定环，以通过所述固定环和环形工装体的配合固定待检测半球类零件。本实用新型的环形工装体为环形、固定环为环形，能够确保对半球类零件内球面的进行射线探测；并且环形工装体在支架竖向的角度可变，能够对半球类零件内球面进行多角度的射线探测；因此，本实用新型能够实现对半球类零件内球面的全方位探测。
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公开(公告)号：CN210487059U
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201921941776.8
申请日：2019-11-11
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种柔性铰链模块、柔性铰链模块加工辅助装置，该柔性铰链模块为直梁型柔性铰链，所述柔性铰链模块包括多个模块座及串联在模块座之间的单元铰链，所述模块座包括第一模块座和第二模块座，第一模块座和第二模块座上均设置有连接单元，所述连接单元用于实现第一模块座与第二模块座之间的刚性连接，所述刚性连接为可拆卸连接。所述加工辅助装置及加工方法与所述柔性铰链模块的结构设计对应。本方案提供的柔性铰链模块结构设计、辅助工具的结构设计以及相应的加工方法，可有效提升柔性铰链模块加工的产品合格率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN209745191U
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201920801602.5
申请日：2019-05-30
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种用于孔、轴带稍的检测装置，所述检测装置包括位移检测装置，还包括杆架、支架、测杆、杠杆及多个球头，所述测杆的下端设置有第一测针，杠杆的下端设置有第二测针；所述球头均通过支架安装在杆架上，且球头、第一测针及第二测针均位于杆架的同一侧，球头的下表面位于同一个平面上，所述平面与杆架的轴线平行；所述位移检测装置用于检测杠杆上端的位移量。所述检测装置结构简单，采用所述装置和方法可便捷的完成孔、轴端部带稍尺寸检测。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN211262068U
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202020243900.X
申请日：2020-03-03
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B5/08
Abstract: 本实用新型涉及几何量测量技术领域，具体涉及一种孔腔直径测量装置；所采用的技术方案为：一种孔腔直径测量装置，包括测杆，所述测杆一端设有球头，所述测杆另一端设有位移传感器，所述位移传感器的位移杆可沿测杆长度方向滑动；还包括推杆，所述推杆一端与测杆中部铰接。本实用新型使用时先测量已知尺寸的槽或孔的尺寸，对位移传感器进行清零；然后将测量装置送入目标孔腔使球头接触孔腔侧壁，推动测杆使测杆绕球头与零件接触点转动，测得转动过程中位移传感器的最小值，便可测得目标腔体的直径。能够确保测量的精度和准确性，具有操作简单方便、量准确、具有可重复性、测量精度高和便携的特点。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN211178284U
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202020258463.9
申请日：2020-03-05
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种大尺寸圆柱类零件素线直线度误差检测装置，包括分别用于设置在被测圆柱两端的压线装置、拉线装置，所述压线装置与拉线装置之间连接钢丝绳，所述压线装置用于夹持钢丝绳的一端，所述拉线装置用于将钢丝绳拉直；还包括振镜、激光器、相机、计算模块；所述激光器用于发出线结构光线；所述振镜用于将激光器发出的光线反射至被测圆柱表面；所述相机用于采集被测圆柱的图像数据；所述计算模块用于接收与处理相机采集的数据。本实用新型用以解决现有技术中大尺寸圆柱类零件的素线直线度检测难度大，检测过程复杂，检测精度低的问题，实现便于携带、适用范围广、测量精度高的目的。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN208889606U
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201821724000.6
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: H01J49/42
Abstract: 本实用新型公开了一种离子阱用基座、离子阱，离子阱用基座，该基座用于双曲面线性离子阱，所述基座包括基座本体及设置在基座本体上的通孔，所述通孔为圆形孔；还包括设置于所述通孔孔壁上的槽体，所述槽体的数量为四条，且槽体均为长度方向沿着所述通孔轴线方向的条形槽，且四条槽体环形均布于所述孔壁上；各槽体均贯通基座本体的两端。所述双曲面四极杆包括所述基座，所述加工方法为所述双曲面四极杆的加工方法。以上结构设计及加工方法可使得四个双曲面极杆的单独加工变成一体化加工，可降低双曲面极杆加工难度、提高加工效率和产品成品率，同时可避免双曲面极杆加工过程以及装配过程中双曲面极杆与基座本体形成累计误差。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN204331133U
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201420834138.7
申请日：2014-12-25
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
Abstract: 本实用新型提供一种高低倍共焦复合镜像面照度匹配装置。所述的装置包括在显微镜主光路中设置的高倍显微镜部分和在显微镜副光路中设置的低倍显微镜部分；所述的显微镜主光路中光轴上依次设置有物镜镜组、内照明环形光源、透反比例分光棱镜和构成高倍显微镜负组的镜组Ⅰ，组成复合显微镜的高倍显微镜部分。在与显微镜主光路中光轴线相垂直的光路光轴上固定设置有构成低倍显微镜负组的镜组Ⅱ，通过共用显微镜主光路中的物镜镜组、内照明环形光源和透反比例分光棱镜，组成复合显微镜的低倍显微镜部分。本实用新型结构简单，解决了高倍显微镜与低倍显微镜对相同物面成像所引起的照度不匹配问题。
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公开(公告)号：CN214308524U
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202120773272.0
申请日：2021-04-15
Applicant: 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
IPC: G01B5/12
Abstract: 本实用新型涉及几何测量技术领域，具体为一种内球面圆弧半径的测量装置，还包括基座、固定在基座上的立柱，立柱远离基座的一端转动连接第一转动梁，第一转动梁远离立柱的一端转动连接第二转动梁，第二转动梁远离第一转动梁的一端转动连接表座连接杆，表座连接杆上固定设有表座，形成表座沿竖直方向转动的结构，表座上安装有两个球头接触杆和千分表，千分表位于两个球头接触杆之间，基座上设有放置机构、定位板，定位板位于放置机构与立柱之间并朝放置机构延伸，定位板水平放置并抵持在工件上方，形成工件水平置于放置机构内的结构，读取千分表测量数值，进行计算后即可获得所测圆弧段的半径值，使用方便，测量速度快，测量准确度高。
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