一种终端模糊测试方法及装置

    公开(公告)号:CN109918297B

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN201910126338.4

    申请日:2019-02-20

    Abstract: 本发明提供了一种终端模糊测试方法及装置,所述方法包括:根据被检测终端证书的类型,生成相应类型的模糊测试异常证书;抽取被检测终端校验证书模块的API;根据所述API,将所述模糊测试异常证书导入所述被检测终端并运行;监控并记录被检测终端产生的异常参数信息并输出报告。应用本发明能高效地对证书校验模块的安全性进行全方位的评估,可以广泛应用于智能终端和物联网设备的安全性检测,该测试工具不仅可以实时准确地捕捉异常的产生,更具有高度自动化、运行灵活、易于移植等特点。

    芯片故障注入检测设备及方法

    公开(公告)号:CN108228373B

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN201711429672.4

    申请日:2017-12-26

    Abstract: 本发明提供了一种芯片故障注入检测设备及方法,其中,该设备包括:控制装置,用于在故障注入检测过程中,接收到待测芯片热启动失败的反馈结果时,发送冷启动指令至故障注入装置;故障注入装置,用于根据所述冷启动指令,驱动所述冷启动装置启动,产生冷启动触发控制信号,将冷启动触发控制信号发送至冷启动装置;冷启动装置,与所述故障注入装置和待测芯片连接,用于根据所述冷启动触发控制信号,驱动待测芯片冷启动。上述技术方案实现了在故障注入检测过程中待测芯片热启动失败时,可自动重启待测芯片,降低了芯片故障注入检测的人工工作量,节约芯片故障注入检测的人力成本,提高了芯片故障注入检测的效率。

    密码芯片中的密钥的获取方法及系统

    公开(公告)号:CN109583235A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811474308.4

    申请日:2018-12-04

    CPC classification number: G06F21/6209

    Abstract: 本发明提供一种密码芯片中的密钥的获取方法及系统,利用多元线性回归的方法,可以有效提高密钥恢复的效率,无论密钥长度为多少,都可以同时恢复得到密钥的多个比特,相较于传统的单比特的分析方法,加快了密钥分析的速度,节约检测时间,提高检测效率,具有显著的优势。同时,本发明利用多元线性回归的方法进行能量分析,轮输出的变化并不会影响中间值与能量迹之间的相关性,这种分析方法对使用了掩码的密码算法非常有效,可以大大提高攻击的成功率,此外,本发明还具有很强的可扩展性,对于具有类似算法结构的密码算法同样适用。

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