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公开(公告)号：CN111273065A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010278987.9
申请日：2020-04-10
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于射频器件测试系统技术领域，具体涉及一种基于导电胶夹具的射频器件测试系统及方法，所述射频器件工作系统包括供电电源、射频器件夹具、射频PCB测试板，所述射频PCB测试板上设置有供电部分，所述供电电源通过供电部分与射频PCB测试板连接，所述射频器件夹具设置在射频PCB测试板上；所述射频芯片控制板通过导线与供电电源连接，所述射频芯片控制板通过控制端口连接有射频PCB测试板，所述矢量网络分析仪通过同轴连接器与射频PCB测试板连接。本发明可以在不损坏射频芯片的情况下，对有封装的芯片进行测试，测试成本低，有利于批量射频芯片的测试。本发明用于射频器件的测试。
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公开(公告)号：CN111257740A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010263660.4
申请日：2020-04-07
Applicant: 中北大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于测试夹具技术领域，具体涉及一种用于射频开关芯片测试的PCB夹具，包括弹片、PCB夹具底座和PCB夹具盖，所述PCB夹具盖设置在PCB夹具底座上，所述PCB夹具底座包括上层、下层，所述上层为弹片限位块，所述弹片设置在弹片限位块内，所述下层为PCB夹具底板，所述弹片限位块固定在PCB夹具底板上，所述弹片限位块四面分别置有大小相同的矩形槽口，所述弹片限位块中心处的PCB夹具底板上固定有支撑衬底，所述支撑衬底上设置有芯片支撑块，所述芯片支撑块的四周设置有四个大小相同的弹簧固定槽。本发明具有结构简单、灵敏度高、寿命长、制作成本低的特点，本发明可以根据不同PCB测试板做改变，有效降低设计成本。本发明用于射频开关芯片的测试。
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公开(公告)号：CN111156862A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN202010025916.8
申请日：2020-01-10
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于激光告警结构技术领域，具体涉及一种基于二向色镜和光栅衍射的宽波段激光告警结构，包括前置视场压缩光学系统、二向色镜、可见光闪耀光栅、近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、第二后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器、可见光焦平面探测器，所述前置视场压缩光学系统的一侧设置有二向色镜，所述二向色镜的一侧依次设置有可见光闪耀光栅、第二后置聚焦光学系统、可见光焦平面探测器，所述二向色镜的另一侧依次设置有近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器。本发明采用光栅衍射方法实现激光波长的探测，具有波长分辨率高、探测波段宽等优点。本发明用于激光告警。
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公开(公告)号：CN104977084B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201510391690.2
申请日：2015-07-06
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及AOTF光谱成像技术领域，涉及一种提高AOTF成像空间分辨率和光谱分辨率的方法；提出一种采用多次迭代去逼近真值的优化算法，在某波长下，将CCD成像的每个象元得到的光强减去由于光谱和衍射角展宽的干扰光，从而获得光强真值，该真值是经过多次迭代获得，因此方法将AOTF获得的二维图像和一维光谱的数据立方经过多次迭代来提高最终的成像空间分辨率和光谱分辨率；首先对AOTF衍射角展宽进行测量，然后对AOTF衍射光谱展宽进行测量，经过上述两者的测量得出衍射效率η(xi+m,yj,λk,mdλ)；通过AOTF光谱成像获得被测目标在CCD的象元(xi,yj)探测的光强I0(xi,yj,λk)；通过公式进行多次迭代；本发明主要应用在AOTF光谱成像方面。
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公开(公告)号：CN104165604B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410367905.2
申请日：2014-07-24
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明属于深孔直线度检测的技术领域，特别涉及一种单激光单PSD储存式深孔直线度检测装置，解决深孔零件直线度检测的技术难题。其包括牵引部分，检测部分及数据处理部分，利用激光准直，通过数据储存器记录光斑空间位置的变化并由数据处理器进行处理，进而计算得到深孔零件的直线度误差。本发明的有益效果：设计了工件姿态调整结构，采用激光固定，工件空间位置调整的调光方案，实现对激光入射角度的调节，可操作性强；采用了储存式数据记录方式，使结构集成化，避免了无线检测方案信号不稳定的弊端。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104165604A
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201410367905.2
申请日：2014-07-24
Applicant: 中北大学
IPC: G01B11/27
Abstract: 本发明属于深孔直线度检测的技术领域，特别涉及一种单激光单PSD储存式深孔直线度检测装置，解决深孔零件直线度检测的技术难题。其包括牵引部分，检测部分及数据处理部分，利用激光准直，通过数据储存器记录光斑空间位置的变化并由数据处理器进行处理，进而计算得到深孔零件的直线度误差。本发明的有益效果：设计了工件姿态调整结构，采用激光固定，工件空间位置调整的调光方案，实现对激光入射角度的调节，可操作性强；采用了储存式数据记录方式，使结构集成化，避免了无线检测方案信号不稳定的弊端。
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公开(公告)号：CN119845871A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202510026178.1
申请日：2025-01-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于光弹调制技术领域，具体涉及一种高速高精度四光弹调制闭环控制Mueller矩阵测量装置及方法，所述第一光弹调制器设置在起偏器的光路方向上，所述第二光弹调制器设置在第一光弹调制器的光路方向上，所述待测Muller矩阵样品设置在第二光弹调制器的光路方向上，所述第三光弹调制器设置在待测Muller矩阵样品的光路方向上，所述第四光弹调制器设置在第三光弹调制器的光路方向上，所述检偏器设置在第四光弹调制器的光路方向上，所述探测器设置在检偏器的光路方向上。本发明采用四个光弹调制器调制，通过锁相四个光弹调制器不同和频、差频信号及不同频率信号幅值比值，实时获得四个光弹调制器的相位延迟幅值、消除光源光强波动影响。
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公开(公告)号：CN111156862B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202010025916.8
申请日：2020-01-10
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于激光告警结构技术领域，具体涉及一种基于二向色镜和光栅衍射的宽波段激光告警结构，包括前置视场压缩光学系统、二向色镜、可见光闪耀光栅、近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、第二后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器、可见光焦平面探测器，所述前置视场压缩光学系统的一侧设置有二向色镜，所述二向色镜的一侧依次设置有可见光闪耀光栅、第二后置聚焦光学系统、可见光焦平面探测器，所述二向色镜的另一侧依次设置有近红外光闪耀光栅、第一后置聚焦光学系统、近红外光焦平面探测器。本发明采用光栅衍射方法实现激光波长的探测，具有波长分辨率高、探测波段宽等优点。本发明用于激光告警。
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公开(公告)号：CN114739511A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210288415.8
申请日：2022-03-23
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于高光谱成像技术领域，具体涉及一种基于光谱调制阵列的快照式高光谱成像芯片结构，包括快照式高光谱成像芯片、被测光通过透镜阵列，所述被测光通过透镜阵列设置在快照式高光谱成像芯片的正下方，所述快照式高光谱成像芯片包括面阵探测器和光谱调制阵列，所述面阵探测器设置在光谱调制阵列上，所述光谱调制阵列与被测光通过透镜阵列一一对应。本发明无需分光元件、体积小、光谱分辨率率高、芯片级，且单次成像就可实现高光谱成像探测，速度快；本发明采用光谱调制阵列，实现快照式光谱透过率调制测量矩阵，结合压缩感知理论实现高光谱成像；且本发明是芯片级，前置光学系统简单，易于集成，无需扫描，且光谱通道数多。
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公开(公告)号：CN111123187B
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010072007.X
申请日：2020-01-21
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于标定测试技术领域，具体涉及一种基于双脊形波导的磁阻芯片标定测试系统及方法，包括磁阻芯片场强检测系统、强电磁辐射产生装置，磁阻芯片场强检测系统包括磁阻探头检测模块、电源模块、示波器，所述强电磁辐射产生装置包括射频信号源、波同转换器、双脊形波导，双脊形波导的两端分别连接有波同转换器，磁阻探头检测模块设置在双脊形波导的内部，射频信号源通过波同转换器与双脊形波导连接，磁阻探头检测模块通过导线分别与电源模块、示波器连接。本发明通过射频信号源施加激励信号，可在双脊形波导内部产生电磁场，适合隧道磁阻芯片在宽频带范围内进行标定，并且场强可以在一定范围内保持均匀。本发明用于磁阻芯片的标定测试。
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