双轴取向聚芳硫醚膜及其制造方法

    公开(公告)号:CN101678604A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200880015409.3

    申请日:2008-05-07

    Abstract: 本发明提供一种断裂伸长率及平面性优异的仅由聚芳硫醚树脂形成的双轴取向膜。所述双轴取向聚芳硫醚膜的长度或宽度方向的断裂伸长率为110%以上,长度或宽度方向的断裂应力为200MPa以下,在260℃、10分钟条件下的长度及宽度方向的热收缩率为0%以上至10%以下。另外,提供一种双轴取向聚芳硫醚膜,其长度及宽度方向的平均断裂伸长率为110%以上,长度及宽度方向的平均断裂应力为200MPa以下,在260℃、10分钟条件下的长度及宽度方向的热收缩率为0%以上至10%以下。另外,本发明提供一种双轴取向聚芳硫醚膜的制造方法,是在长度及宽度方向以面积拉伸倍率为13倍以下进行拉伸,拉伸后的热定形分2步以上进行,每步的温度不同,第1步的热定形温度为160℃以上至220℃以下,第2步以后的热定形最高温度为240℃以上至280℃以下。

    聚丙烯膜、金属膜层叠膜及膜电容器

    公开(公告)号:CN115135703A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202180015631.9

    申请日:2021-02-18

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种聚丙烯膜,其在用于高电压电容器时的高温环境下的耐电压特性、可靠性优异,适合于在高温度、高电压下使用的电容器用途等,并且,所述聚丙烯膜具有对热的稳定性优异的结构,进而在包括蒸镀工序的搬运工序中不会产生褶皱,加工性优异。本发明为一种聚丙烯膜,通过广角X射线衍射测定的、沿着α晶(110)面的主取向方向扫描而得到的微晶尺寸与沿着与主取向方向正交的方向扫描而得到的微晶尺寸之差的绝对值为3.0nm以下,在进行热机械分析(TMA)时升温速度为10℃/min的升温过程中,135℃下的长度方向的收缩应力(SF135MD)为2.0MPa以下。

    聚丙烯膜和使用它的金属膜层叠膜、膜电容器

    公开(公告)号:CN113382839A

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN202080012289.2

    申请日:2020-02-20

    Abstract: 本发明提供一种聚丙烯膜,其在130℃下其长度方向与宽度方向的F5值之和为15MPa以上,在130℃下的绝缘击穿试验中,在150℃进行1分钟的热处理后的绝缘击穿电压(B150)(V/μm)与没进行热处理时的绝缘击穿电压(B0)(V/μm)满足以下关系。另外还提供在用于高电压电容器时的高温环境下长时间的使用可靠性优异,适合于所涉及的电容器用途等的、结构的热稳定性优异的聚丙烯膜、和使用它的金属膜层叠膜和膜电容器。(B150)/(B0)≥0.80。

    聚丙烯膜及脱模膜
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112888729A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN201980069235.7

    申请日:2019-10-24

    Abstract: 本发明提供改善表面柔软性,并且表面平滑性、透明性、脱模性优异,可以适合用作脱模膜的聚丙烯膜。本发明的聚丙烯膜的至少一个表面的通过纳米压痕法测得的弹性模量为2.5GPa以下,通过差示扫描量热计DSC以20℃/分钟从25℃升温到250℃、接着以20℃/分钟从250℃降温到25℃时的结晶峰温度(Tc)为110℃以上。

    聚丙烯薄膜以及使用其的金属膜叠层薄膜、薄膜电容器

    公开(公告)号:CN112585197A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN201980054675.5

    申请日:2019-08-20

    Abstract: 本发明的课题是,提供用于高电压电容器时在高温环境下长时间的使用可靠性优异、能够很好地用于该电容器等的对于热的结构稳定性优异的聚丙烯薄膜、和、使用该聚丙烯膜的金属膜叠层薄膜以及薄膜电容器,本发明的要旨是,一种聚丙烯薄膜,在135℃下进行固定粘弹性测定而求得的薄膜长度方向与宽度方向的储能弹性模量之和E’135(MD+TD)与在125℃下进行固定粘弹性测定而求得的薄膜长度方向与宽度方向的储能弹性模量之和E’125(MD+TD)之间的关系满足下式。E’135(MD+TD)/E’125(MD+TD)>0.7。

    聚丙烯膜和膜电容器
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106574061B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201580045117.4

    申请日:2015-09-16

    Abstract: 本发明涉及一种聚丙烯膜,在125℃气氛下测定膜上30点的绝缘击穿电压(V/μm),分别去掉击穿电压最大的5点和最小的5点,将剩下20点中的最大值与最小值之差除以该20点的平均值,算出的百分率(125R%)小于50%;而且,在23℃气氛下测定膜上30点的绝缘击穿电压(V/μm),分别去掉击穿电压最大的5点和最小的5点,将剩下20点中的最大值与最小值之差除以该20点的平均值,算出的百分率(23R%)小于20%。本发明涉及绝缘缺陷少、抑制高温环境下绝缘击穿电压的不均匀的聚丙烯膜,提供特别是在高电压用电容器用途中表现高耐电压性和可靠性的聚丙烯膜。

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