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公开(公告)号：CN109633570B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201811511086.9
申请日：2018-12-11
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S7/38
Abstract: 本发明涉及一种快速任意形状随机箔条云团建模方法，包括以下步骤：根据试验数据与资料，建立箔条云团三维几何模型；采用FDTD网格剖分技术将Catia建模的箔条云团外形进行Yee氏网格剖分；根据箔条云团在空间的密度分布，建立箔条云团模型；根据生成的箔条云团，建立BVH层次包围盒；利用弹跳射线法采用MPI并行计算时序回波。本发明在试验数据的基础上，基于FDTD网格剖分技术进行任意形状随机箔条几何建模，基于BVH层次包围盒实现快速并行射线追踪，以期快速而准确地获取回波特性。
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公开(公告)号：CN111859704A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010751032.0
申请日：2020-07-30
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种分布式多视角下非刚体目标电磁散射建模方法，包括以下步骤：步骤1：电磁波照射非刚体目标，基于RWG基函数，获得具有目标振动特性的感应电磁流；步骤2：构建出具有目标振动状态的电磁场描述模型；步骤3：根据电磁场描述模型进行快速多极计算，获得不同采样时刻下的高精度目标电磁散射回波数据；步骤4：根据高精度目标电磁散射回波数据，计算不同激励条件下的具有目标振动状态的电磁场描述模型，从而获得非刚体目标电磁散射特征。此发明解决了常规电磁散射特性仿真建模技术对非刚体目标电磁特性分析逼真度较差的问题，将不同基函数的振动特性映射到电磁场矩量法的空间分组中心，开展迭代计算，提升了仿真建模的适应性和精确度。
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公开(公告)号：CN109581096A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811214279.8
申请日：2018-10-18
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种屏蔽室下金属屏蔽材料屏蔽效能分析模型及其测量方法，建立矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型，该矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型包含：矩形腔体、设置在矩形腔体上的矩形开孔处的电磁材料网、设置在矩形腔体外部的激励源、以及设置在矩形腔体中心的场强监测点，获得矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型的电磁屏蔽材料屏蔽效能，在矩形开孔屏蔽室屏蔽效能模型中矩形腔体的顶面内部安装吸收介质片，形成具有吸收介质片的屏蔽室屏蔽效能分析模型，获得具有吸收介质片的屏蔽室屏蔽效能分析模型的电磁屏蔽材料屏蔽效能。本发明通过在屏蔽室内部增加介质结构的方式，降低屏蔽室电磁谐振效应，并显著降低金属网屏蔽效能结果的波动性，提高金属屏蔽材料的屏蔽效能测试精度。
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公开(公告)号：CN107462775A
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201710532835.5
申请日：2017-07-03
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/0835 , G01R29/0821
Abstract: 一种电磁屏蔽效能测试系统及其改善屏蔽效能的测试方法，电磁屏蔽效能测试系统包含屏蔽暗室以及设置在屏蔽暗室内的金属平板、信号源、发射天线、接收天线和接收机。采用金属平板代替小型屏蔽室，并调节金属平板在屏蔽暗室底面上的投影与屏蔽暗室的底面长边之间具有角度θ。本发明配置更简单，操作更便捷，克服了屏蔽暗室中电磁波反射叠加的缺陷，有效提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN105279349A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510843443.1
申请日：2015-11-26
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种Volterra级数行为模型的简化降阶方法，包含以下步骤：建立通用的离散形式的Volterra级数行为模型，根据待描述电路的物理特征对未知Volterra核进行简化，并对Volterra级数进行截取；采用预设的修剪方法对各阶的Volterra核进行修剪；根据修剪后的Volterra核对输入信号进行重组，建立输入信号矩阵；利用预设的辨识方法辨识得到简化的Volterra级数行为模型。本发明解决了通用Volterra级数行为模型中维数灾难的问题，使其能够应用于强非线性和记忆长度的非线性电路建模，方便应用于非线性电路的系统级电磁兼容仿真。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103473427A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310437424.X
申请日：2013-09-24
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: Y02E40/76 , Y02E60/76 , Y04S10/545 , Y04S40/22
Abstract: 本发明公开了一种应用于标签天线设计的复阻抗匹配方法，属于天线设计技术领域，该匹配方法包括下列步骤：1）利用标签天线端接负载的复阻抗的值，将标签天线阻抗进行归一化变换，此时负载复阻抗映射到Smith圆图的中心；2）测取标签天线阻抗在变换后的Smith圆图上各个点到中心的距离，即为反射系数的模|Γ|；3）根据步骤二中得到的|Γ|计算标签天线与负载的功率传输系数σ；4）根据步骤三中得到的σ判断匹配设计是否满足要求，如不满足继续调整标签天线参数直至实现匹配。该方法可以直观地从Smith圆图读出标签天线复阻抗与负载的反射系数的模，从而快速计算功率传输系数，解决了在常规Smith圆图上天线复阻抗匹配实现操作较为繁琐的问题，为标签天线复阻抗匹配设计提供有力的手段。
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公开(公告)号：CN119545769A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411520169.X
申请日：2024-10-29
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种高强辐射场中设备自适应电磁辐射抑制方法，具体步骤包括：建立外部平面波照射下的电子设备模型；设置平面波强度，获得电子设备模型内腔的场强分布；根据电子设备模型内腔的场强分布，确定屏蔽电磁效应薄弱点；建立包括若干呈阵列排布的缝隙谐振贴片的能量选择表面结构；将所述能量选择表面结构设置在屏蔽电磁效应薄弱点所在的表面上，建立能量选择表面防护结构模型；将能量选择表面防护结构模型中屏蔽电磁效应薄弱点处场强与防护需求进行对比，判断能量选择表面结构是否满足防护需求。
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公开(公告)号：CN116008684A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211558355.3
申请日：2022-12-06
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01R29/24
Abstract: 本发明提供一种箔条静电荷电特性测试方法，其包含：步骤S1：搭建外场条件下箔条静电荷电特性试验系统；步骤S2：根据箔条静电荷电特性试验系统，建立三维坐标系；步骤S3：箔条发射模块远程控制箔条弹发射，所述静电监测模块和辅助监测模块同步开展测试记录；步骤S4：测量获取箔条的发射初始状态、扩散状态及飘落状态的静电场信息和运动轨迹；步骤S5：分别选取箔条发射初始状态、扩散状态及最终飘落状态阶段对应的一个典型轨迹坐标点；步骤S6：获取不同位置坐标下的静电场测试结果，建立位置坐标‑静电场矩阵；步骤S7：计算获取箔条的静电荷电特性。本发明可以直接获取箔条在发射后不同阶段的静电荷电量信息，为抗箔条干扰的性能分析提供数据。
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公开(公告)号：CN114220646A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111545606.X
申请日：2021-12-16
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于微颗粒的电磁特征主动调控的标准样件的构造方法，包括以下步骤：S1、对微颗粒进行金属化处理，得到金属微颗粒；S2、构造金属三面角：采用焊接的方式粘结三个相同的等腰三角形平板的顶角和相邻两个等腰三角形平板的腰，形成无底面锥形结构；S3、构造基于金属微颗粒的可调控面板，其内部设置多个可填充导电液体的空腔，形成多个导电液体支路；S4、可调控样件的总装与模拟：将可调控面板设置于金属三面角的锥形结构底面，构成可调控样件；针对不同的频率需求，控制可调控面板中各个导电液体支路处于通电或断电的不同状态，实现电磁散射可调控的目的。本发明能够实现不同波段的电磁调控，具有更好的宽带雷达响应特性。
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公开(公告)号：CN113742937A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202111075284.7
申请日：2021-09-14
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F30/20
Abstract: 一种特征结构散射特性计算方法，包含：步骤S1、建立特征结构的有限大阵列，根据计算规模选择低频算法；步骤S2、获取与入射方向关于特征结构法线方向对称的反射方向上距离特征结构表面固定倍数波长的位置上的反射电场；步骤S3、根据反射系数的定义，结合步骤S2中获取的反射电场计算得出特征结构的近似反射系数；步骤S4、利用步骤S3中得到的近似反射系数，采用基于特征反射系数的弹跳射线法仿真计算特征结构的散射特性。本发明可以高效计算并精确仿真难以求解的电大尺寸特征结构单元的反射系数问题。
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