公开(公告)号：CN112667524A

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN202011088888.0

申请日：2020-10-13

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李庚德 ,  沈荣燮

IPC: G06F12/02 ,  G06F12/1009

Abstract: 一种存储装置的存储器管理方法，包括：在存储块中对请求写入的数据进行编程；对从存储块的最后一页编程有请求写入的数据的时间开始的经过时间进行计数；当经过时间超过阈值时，触发存储装置的垃圾收集；以及在存储块的第一干净页对通过垃圾收集所收集的有效数据进行编程。

公开(公告)号：CN109509490A

公开(公告)日：2019-03-22

申请号：CN201910018564.0

申请日：2017-01-12

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 陈东燮 ,  尹弼相 ,  孙弘乐 ,  孔骏镇 ,  沈荣燮 ,  韩真晚

IPC: G11C7/02 ,  G11C16/04 ,  G11C16/26 ,  G11C16/28 ,  G11C29/02 ,  G11C29/50

Abstract: 一种用于控制非易失性存储器件的方法包括：从该非易失性存储器件中请求多个第一采样值，该第一采样值中的每个采样值表示具有在第一采样读电压和第二采样读电压之间的测量阈值电压的存储器单元的数量。通过非线性滤波操作处理该第一采样值来估计在第一采样读电压和第二采样读电压之间的测量阈值电压的存储器单元的数量。

公开(公告)号：CN109493911A

公开(公告)日：2019-03-19

申请号：CN201811022123.X

申请日：2018-09-03

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 方光奎 ,  沈荣燮 ,  姜熙烨 ,  李庚德

IPC: G11C29/44 ,  G11C29/00

CPC classification number: G06F11/006 ,  G06F3/0653 ,  G06F11/073 ,  G06F11/0772 ,  G06F11/0787 ,  G11C29/44 ,  G11C29/82

Abstract: 一种用于控制非易失性存储器件的存储器控制器的操作方法包括：从非易失性存储器件接收关于操作失败的信息，从非易失性存储器件接收锁出状态信息，基于锁出状态信息确定是否输出了锁出信号，以及根据确定结果将与关于操作失败的信息相对应的失败块确定为正常块或坏块。

公开(公告)号：CN108694989A

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201810249317.7

申请日：2018-03-23

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李庚德 ,  沈荣燮

IPC: G11C29/56 ,  G11C29/00

CPC classification number: G11C29/44 ,  G11C29/38 ,  G11C29/789 ,  G11C29/56008 ,  G11C29/82

Abstract: 一种存储设备包括非易失性存储器设备，该非易失性存储器设备在选定的存储单元的编程操作期间检测多个目标状态中的至少一个目标状态的状态通过循环的循环计数，并且基于检测到的状态通过循环的循环计数来生成指示编程操作是否成功的状态循环计数信息(SLCI)；以及存储控制器，其响应于检测到操作条件或外部命令，向非易失性存储器设备请求状态循环计数信息，并且基于来自非易失性存储器设备的状态循环计数信息，将包括选定的存储单元的存储块指派为坏块。