薄膜晶体管阵列基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN101097928B

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN200710126331.X

    申请日:2007-06-29

    CPC classification number: H01L27/1288 H01L27/12 H01L27/1248

    Abstract: 提供了一种薄膜晶体管(TFT)阵列基板以及该TFT阵列基板的制造方法,在所述TFT阵列基板中,在接触部分中提供了导电材料之间足够大的接触面积。所述TFT阵列基板包括设置在绝缘基板上的栅极互连线、覆盖所述栅极互连线的栅极绝缘层、设置在所述栅极绝缘层上的半导体层、包括设置在所述半导体层上的数据线、源电极和漏电极的数据互连线、设置在所述数据互连线上并暴露所述漏电极的第一钝化膜、设置在所述第一钝化膜上的第二钝化膜、以及与所述漏电极电连接的像素电极。所述第二钝化膜的外侧壁位于所述第一钝化膜的外侧壁之内。半导体层除了位于所述源电极和所述漏电极之间的部分之外,基本与数据线、源电极和漏电极具有相同的平面形状。

    薄膜晶体管基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN1832182A

    公开(公告)日:2006-09-13

    申请号:CN200610056776.0

    申请日:2006-03-06

    Abstract: 本发明提供一种TFT基板,其包括底部基板、形成在底部基板之上的栅极布线、栅极绝缘层、活性层、氧化抑制层、数据布线、保护层以及像素电极。栅极布线包括栅极线和栅电极。栅极绝缘层形成在底部基板之上以覆盖栅极布线。活性层形成在栅极绝缘层之上。氧化抑制层形成在活性层之上。数据布线包括数据线、源电极和漏电极。源电极和漏电极设置在氧化抑制层之上,由于氧化抑制层的存在,降低了用于开启TFT的开电流(“Ion”)并增大了用于关闭TFT的闭电流(“Ioff”)。

    等离子体装置
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1794431A

    公开(公告)日:2006-06-28

    申请号:CN200510129428.7

    申请日:2005-12-08

    CPC classification number: H01J37/321 H01L21/67069

    Abstract: 本发明公开了一种等离子体装置。所述等离子体装置包括:反应室,具有反应空间以容纳被处理的基板;线圈,位于所述反应空间的外部上;电源,将交流频率电源施加到所述线圈上;以及导电板,位于所述线圈和所述反应空间之间且从施加到所述线圈上的交流频率电源产生感应电流。因此,本发明提供了等离子体装置,其在反应室的内部气体中诱发均匀的电场。

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