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公开(公告)号:CN1846254A
公开(公告)日:2006-10-11
申请号:CN200480025272.1
申请日:2004-09-01
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00452 , G11B7/0901 , G11B7/24065
Abstract: 根据本发明的一种光学记录介质(10),包括:其上形成有凹槽(11a)的支撑基板(11)、透光层(12),在支撑基板(11)与透光层(12)之间设置的贵金属氧化物层(23),其中,凹槽(11a)的深度设定为大于λ/8n但小于等于60nm,此处,n是透光层(12)对波长为λ的光的折射率。因此,通过将激光束照射在贵金属氧化物层(23)上,在进行超分辨率记录和超分辨率读取时,可获得良好的信号特性,尤其是有足够幅值的推挽信号。此外,因为凹槽的深度设定为60nm或更小,在生产用于制造基板的模片时不会出现较大的困难。
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公开(公告)号:CN1816455A
公开(公告)日:2006-08-09
申请号:CN200480018578.4
申请日:2004-06-30
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/2433 , B82Y10/00 , G11B7/2403 , G11B7/24065 , G11B7/252 , G11B7/2534 , G11B7/2542 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716 , G11B2007/25718
Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘,包括:衬底(2),反射层(3),第三介电层(4),光吸收层(5),第二介电层(6),含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(7),第一介电层(8),和光透射层(9),并且构成该光学记录盘,使得在从光透射层(9)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时,在分解反应层(7)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧,使得通过由此产生的氧气在分解反应层(7)中形成泡状凹坑,并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内,由此在分解反应层(7)中形成了记录标志。
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公开(公告)号:CN110114697B
公开(公告)日:2021-10-08
申请号:CN201780081093.7
申请日:2017-12-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的课题在于,提高金属异物的检测精度。金属异物检测装置(14A)具备:具有接受磁场或电流而产生振动信号(Vb)的至少一个天线线圈(L3)的传感器部(S);得到与振动信号(Vb)对应的信号(Vd)的波形的积分值(IV)的积分电路(144);基于该积分值(IV)和没有接近的金属异物时的积分值(IV)即基准积分值(CIV),判定与天线线圈(L3)接近的金属异物的有无的判定电路(145)。积分值(IV)和基准积分值(CIV)通过将相同波数的量的波形进行积分而得到。
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公开(公告)号:CN110114697A
公开(公告)日:2019-08-09
申请号:CN201780081093.7
申请日:2017-12-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的课题在于,提高金属异物的检测精度。金属异物检测装置(14A)具备:具有接受磁场或电流而产生振动信号(Vb)的至少一个天线线圈(L3)的传感器部(S);得到与振动信号(Vb)对应的信号(Vd)的波形的积分值(IV)的积分电路(144);基于该积分值(IV)和没有接近的金属异物时的积分值(IV)即基准积分值(CIV),判定与天线线圈(L3)接近的金属异物的有无的判定电路(145)。积分值(IV)和基准积分值(CIV)通过将相同波数的量的波形进行积分而得到。
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公开(公告)号:CN104682573B
公开(公告)日:2018-05-04
申请号:CN201410714380.5
申请日:2014-11-28
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: H01F27/346 , B60L11/00 , B60L11/182 , B60L11/1824 , B60L2230/10 , B60L2270/147 , H01F5/00 , H01F27/24 , H01F27/28 , H01F27/38 , H01F27/42 , H01F37/00 , H01F38/00 , H01F38/14 , H02J5/005 , H02J7/0042 , H02J7/025 , H02J17/00 , H02J50/10 , H02J50/40 , H02J50/70 , Y02T10/7005 , Y02T10/7088 , Y02T90/12 , Y02T90/121 , Y02T90/122 , Y02T90/14
Abstract: 本发明公开了一种送电线圈单元以及无线电力传输装置,该送电线圈单元(Ltu1)具备送电线圈(Lta、Ltb)和辅助线圈(Lca、Lcb),辅助线圈(Lca、Lcb)被配置为不与和受电线圈(Lr)交链的磁通相交链,该受电线圈(Lr)当传输电力时与送电线圈(Lta、Ltb)相对置,辅助线圈(Lca、Lcb)的轴向与送电线圈(Lta、Ltb)和受电线圈(Lr)的对置方向不平行,由辅助线圈(Lca、Lcb)产生的磁通(Bc1a至Bc1d)的环绕方向和由送电线圈(Lta、Ltb)产生的磁通(Bt1a至Bt1d)的环绕方向相反。
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公开(公告)号:CN104681259B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201410712342.6
申请日:2014-11-28
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供确保抗冲击性并且具备防止发热的磁性体的线圈单元。线圈单元(接收电力线圈单元(101))具备绕组(绕组部(200))和磁性体(202),在磁性体(202)中,具有在厚度方向上相对的2个主面的多个单片在与厚度方向大致正交的方向上行列状配置,2个主面呈多边形状,且构成多边形状的内角全部为钝角(但是,直角除外)。
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公开(公告)号:CN101300624B
公开(公告)日:2011-02-02
申请号:CN200680040936.0
申请日:2006-12-20
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B20/10055
Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法,包括:在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据;将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较;以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。
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公开(公告)号:CN101300624A
公开(公告)日:2008-11-05
申请号:CN200680040936.0
申请日:2006-12-20
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B20/10055
Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法,包括:在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据;将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较;以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。
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公开(公告)号:CN100373467C
公开(公告)日:2008-03-05
申请号:CN200480018847.7
申请日:2004-06-29
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/125 , G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00454 , G11B7/00452 , G11B7/24038 , G11B7/24065 , G11B7/243 , G11B2007/24304 , G11B2007/2432 , G11B2007/25706 , G11B2007/25715
Abstract: 一种光学记录介质(10)包括基板(11)、透光层(12),和插入到所述透光层(12)和所述基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。当将激光束(40)施加到透光层(12)侧时,将数据记录/再现。当λ为激光束(40)的波长并且NA为物镜的数值孔径时,将λ/NA设置为640nm或更小。当Pw和Pr分别为所述激光束(40)的记录功率和再现功率时,设置Pw×0.1≤Pr≤Pw×0.5。因此,记录包括长度为λ/4NA或更小的记录标记的记录标记序列和从所述记录标记序列再现数据。
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公开(公告)号:CN1839433A
公开(公告)日:2006-09-27
申请号:CN200480024159.1
申请日:2004-08-12
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/00452 , G11B7/00736 , G11B7/24065 , G11B7/243
Abstract: 本发明公开了一种光学记录介质,包括:支撑基板(11)和透光层(12),以及,当从透光层侧观看,以下述次序在透光层与支撑基板(11)之间进一步设置的电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、电介质层(32)、光吸收层(22)和电介质层(33)。透光层(22)包含由下式表示的材料作为主要成分(SbaTe1-a)1-bMAb(其中,MA是除锑(Sb)和碲(Te)之外的元素,0<a<1且0≤b<1=,此外,该材料区别于由下式表示的金属互化物{(GeTe)c(Sb2Te3)1-c}dMB1-d(其中,MB是除锑(Sb)、碲(Te)和锗(Ge)之外的元素,c为1/3、1/2或2/3,且0<d≤1)。
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