基于NEQR表达的量子FAST角点检测方法

    公开(公告)号:CN114548415A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202210168323.6

    申请日:2022-02-23

    Abstract: 本发明公开了基于NEQR表达的量子FAST角点检测方法,包括以下步骤:S1、制备中心图像和辅助图像的NEQR表达式;S2、设计量子可逆减法器和求绝对值的量子线路,计算获得中心图像和辅助图像的像素差值;S3、设计量子比较器线路,使步骤S2获得的像素差值与图像角点所需要的阈值进行比较;S4、通过量子测量提取比较结果和中心图像的位置信息,并将其制备到步骤S1的NEQR表达式中;S5、设计角点检测的量子线路,基于步骤S4制备的NEQR表达式获得角点图像表达式;S6、对S5的量子线路进行测量,得到图像中的灰度信息与位置信息,并将其转化为经典图像信息。本发明通过NEQR量子制备方式将图像信息制备到量子线路中,能够降低图像处理损耗时间。

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