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公开(公告)号：CN104076047A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410362941.X
申请日：2014-07-28
Applicant: 重庆大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 本发明公开了一种流体渗流过程监测的计算机层析成像(CT)系统，属于射线无损检测技术领域。该系统包括CT扫描装置、机架、线缆支架、操作控制台、图像重建处理装置等。射线源和探测器被固定在一个大圆环上，在CT扫描时，将流体渗流试验箱固定在支架上使之穿过圆环中心，然后驱动安装有射线源和探测器的圆环做精密旋转扫描，并根据扫描结果进行图像重建和显示。相比于现有技术，其优点在于：流体渗流试验箱无须旋转，而射线源-探测器环绕试验箱同步旋转，实现CT扫描成像。本发明同现有技术相比，可实现检测对象的非旋转运动CT扫描成像。
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公开(公告)号：CN103163166A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310094716.8
申请日：2013-03-22
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种用于工业CT探测器的采集电路装置和方法，属于工业CT探测器应用领域；该装置包括一个FPGA、一个信号选择单元、一个放大反相电路、一个单端转差分电路、一个A/D转换单元和两个电平转换单元；FPGA通过电平转换单元与探测器相连，探测器输出的并行信号被传送至信号选择单元，FPGA向信号选择单元发送控制信号，信号选择单元根据接收到的控制信号选择一路信号进行输出，该路信号经放大反相电路和单端转差分电路处理后被传送至A/D转换单元，A/D转换单元对信号进行转换后传送至FPGA进行缓存；本装置能够实现工业CT探测器采集数据的分时复用，两路数据交叉输出，提高了采集电路的利用效率；同时，降低了电路的复杂度，节约了成本。
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公开(公告)号：CN111553960B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202010336246.1
申请日：2020-04-24
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法，属于图像处理领域，包括以下步骤：S1：投影图像预处理。通过对亮场图像和暗场图像设定阈值找出坏像元与有缺陷像元，应用插值方法替换掉这些像元后再完成增益校正；S2：获得投影均值图像。将增益校正后的所有投影图像对应像元相加后求均值，得到基于所有投影图像的投影均值图像；S3：获得校正系数阵列。选用适当的滤波方式对投影均值图像进行平滑滤波，得到平滑的理想投影均值图像，通过投影均值图像与理想投影均值图像得到校正系数阵列；S4：投影图像校正。运用校正系数阵列对每个投影图像进行校正。
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公开(公告)号：CN113126138B
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202110463228.4
申请日：2021-04-23
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T1/20
Abstract: 一种多层耦合结构高分辨闪烁屏的制造方法及其闪烁屏，制造步骤为：1、计算闪烁屏厚度；2、计算最大分层数；3、当前分层数下计算各分层X射线吸收效率；4、计算第一闪烁层的全反射角、荧光探测效率、X射线转换因子；5、依次计算2～m层闪烁层耦合剂折射率；6、判断是否可以选型；若否转向步骤3或5。本发明与同等厚度单层闪烁屏相比，在使用相同介质耦合图像传感器的条件下，该闪烁屏能够实现更高的空间分辨率。
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公开(公告)号：CN114477267A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210194184.4
申请日：2022-03-01
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明涉及一种无铅卤素微米晶的制备方法及其产品和应用，属于无铅卤素微米晶制备技术领域。本发明公开了一种无铅卤素微米晶的制备方法，将氯化银(AgCl)和氯化铷(RbCl)在二甲基亚砜中溶解，通过反溶剂法萃取得到Rb2AgCl3无铅卤素微米晶。本发明使用常温法进行制备，具有实验步骤简单、容易操作的优点，制备的Rb2AgCl3无铅卤素微米晶与含铅卤化物相比，解决了铅的有毒性，尤其与铯铅溴对比，本发明制备的Rb2AgCl3无铅卤素微米晶作为闪烁体材料在X射线下的发光量高于铯铅溴，而且能够将微米晶粉末制成膜的工艺简单，制成薄膜后，薄膜中材料分布均匀使得成像效果更好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104101615A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410363159.X
申请日：2014-07-28
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种车载移动式计算机层析成像(CT)检测系统，属于无损检测技术领域。该检测系统包括检测车、操作车、电源车、CT环形扫描装置、工件支架、防护设施等。检测车上安装有带减震装置的CT环形扫描装置，射线源和探测器分别安装在精密圆环的中心对称轴两侧，在电机驱动下，实现同步旋转，从而对工件进行CT扫描。本检测系统的优点在于：被检测的工件无须旋转，而通过射线源和探测器环绕工件同步旋转，实现工件的CT扫描成像；检测车上安装有工件支架，用于装夹和移动检测对象；同时，还具有易调校、可移动、可实施异地外场检测等特点。
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公开(公告)号：CN104090291A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410355518.7
申请日：2014-07-24
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T1/16
Abstract: 本发明公开了一种包括探测器模块和准直器阵列的工业CT设备串扰校正装置，所述准直器阵列包括n个沿轴向紧密排列的准直器片，每m个准直器片组成一个准直器阵列单元，其中m大于等于3，n为m的整数倍，每个准直器阵列单元的第一块准直器片上设置有两个射线导向槽，其余准直器片上设置有一个射线导向槽；每个准直器阵列单元的第一块准直器片上侧的射线导向槽形成用于串扰系数测定的第二准直孔阵列区，其余射线导向槽形成第一准直孔阵列区。本发明提供的串扰校正装置，增加了串扰系数测定准直孔阵列区，该阵列区与探测器模块间可做相对运动，通过使用该准直孔阵列区进行数据采集，可计算出每个探测通道间信号串扰系数，提高图像质量。
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公开(公告)号：CN103206931A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310073027.9
申请日：2013-03-07
Applicant: 重庆大学
IPC: G01B15/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线测厚方法及装置，属于射线测量领域；该X射线测厚方法包括步骤（1）：设置X射线发射器，调节其发射参数；步骤（2）：开启X射线发射器，测量未放置物体时空气中的射线能量数据I0；步骤（3）：开启X射线发射器，使X射线穿过厚度d已知的标准待测材料，测量穿过标准待测材料后的射线能量数据I；步骤（4）：采用以下方法求取校正参数：根据公式：求得对应的线衰减系数μ，再根据公式：μ(d)＝A(e-αd+β)进行最小二乘曲线拟合标定得到校正参数A,α,β；再根据公式：进行待测材料的厚度测量；该方法客服了因X射线“射束硬化”现象带来的测量不准的问题，使得X射线测厚方法具有校正功能；该方法和装置简单易行，且准确度高，可靠性强。
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公开(公告)号：CN115266779B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202210863816.1
申请日：2022-07-21
Applicant: 重庆大学
IPC: G01N23/046 , G06F17/11
Abstract: 本申请提供一种CT扫描用平板探测器像元响应非线性校正方法，步骤为：对CT扫描所有投影图像进行图像预处理；将探测器像元在CT扫描中所有投影的灰度值组成向量集，并按灰度值大小划分为m组；计算每组向量的灰度均值，并建立m‑1个实际线性响应方程组；对探测器每组向量的灰度均值图像进行平滑滤波，得到的平滑后均值图像，并建立m‑1个理想线性响应方程组；通过实际线性响应方程组与理想线性响应方程组求解校正系数矩阵；根据投影图像各像元的灰度值所处分组范围，选择校正系数矩阵，实现像元的响应非线性校正。本申请利用对投影图像的数据处理，得到了CT扫描探测器像元非线性校正系数，不需要额外的扫描步骤，提高了CT扫描效率。
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公开(公告)号：CN113126138A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN202110463228.4
申请日：2021-04-23
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T1/20
Abstract: 一种多层耦合结构高分辨闪烁屏的制造方法及其闪烁屏，制造步骤为：1、计算闪烁屏厚度；2、计算最大分层数；3、当前分层数下计算各分层X射线吸收效率；4、计算第一闪烁层的全反射角、荧光探测效率、X射线转换因子；5、依次计算2～m层闪烁层耦合剂折射率；6、判断是否可以选型；若否转向步骤3或5。本发明与同等厚度单层闪烁屏相比，在使用相同介质耦合图像传感器的条件下，该闪烁屏能够实现更高的空间分辨率。
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