-
公开(公告)号：CN102183493A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201110054571.X
申请日：2011-03-08
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种高灵敏度单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光通过样品后的光路中设置一圆形挡板，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场挡板的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、测量灵敏度非常高，数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小，极大地减少测量成本。
-
公开(公告)号：CN101532959B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200910030608.8
申请日：2009-04-17
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种单脉冲单光束测量材料非线性的方法，在探测光的透镜之前的光路中设置一相位物体，在一个单脉冲作用下，通过测量开孔和远场小孔的非线性透过率，确定材料的非线性吸收和非线性折射系数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，单脉冲测量、样品无需移动，可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号，测量结果精确，极大地减少测量成本。
-
公开(公告)号：CN101308091B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200810123176.0
申请日：2008-06-17
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种能测量介质界面光学非线性以及应用反射光测量薄膜光学非线性的方法，属于非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域。入射激光通过分束镜分成两路，一路为探测光进入测量光路，通过4f相位相干成像系统后由CCD相机采集；另一路为参考光；其特征在于：所述样品以反射方式放置于测量光路的第一凸透镜的焦平面处，沿反射光传播方向在一倍焦距处放置与第一凸透镜相同焦距的第二凸透镜，由此构成反射4f相位相干成像系统；其测量分能量校准和光学非线性测量两部分进行。本发明具有测量方便、光路简单、没有样品的移动、单脉冲测量、不易损伤介质的表面、对光源能量稳定性以及空间的稳定性要求不高等优点。
-
公开(公告)号：CN101477047B
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN200910029164.6
申请日：2009-01-07
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/59
Abstract: 本发明公开了一种基于透镜几何光学成像的非线性吸收的测量方法，把激光器输出来的光分为监测光和探测光，监测光被一能量计探头接收，用来实时监测入射到待测样品上的能量，探测光经聚焦透镜聚焦以后照射到位于其焦点或附近位置的待测样品上，非线性导致经过样品的探测光空间分布发生变化，这种变化经过放在后面的成像透镜被CCD相机记录。按本发明方法工作的测量系统理论模型非常简单，数据处理容易，测量速度快，单脉冲测量降低了光学累积效应，非线性吸收的测量不受非线性折射的影响，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确，实验结果直观明了等优点。
-
公开(公告)号：CN101609001A
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200910182228.6
申请日：2009-07-01
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于相位物体单脉冲反射测量材料非线性的方法，入射激光通过第一分束镜分成两束，一束为监测光，由第一探测器记录，另一束光经过相位物体后被透镜聚焦到待测样品上，被待测样品表面反射的脉冲光被第二分束镜分成两路，一路直接由第二探测器记录，另一路通过一个中心和光轴重合的小孔光阑后进入第三探测器。本发明开发了一种新的测量介质表面的光学非线性的方法，实现了对非线性折射和吸收系数的测量，可广泛应用于介质界面非线性光学以及薄膜非线性光学测量的研究领域。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101571481A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910033969.8
申请日：2009-05-27
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种测量光学非线性的两次4f相位相干成像装置，主要由入射光路、测量光路和参考光路构成，入射激光束由分束镜分成两束，一束为探测光进入测量光路，另一束为参考光，进入参考光路，测量光路中，由第一凸透镜和第二凸透镜构成4f相位相干成像系统，待测样品放置在第一凸透镜的焦平面上，在第二凸透镜光路中设有全反镜，探测光自第一凸透镜入射，照射在待测样品上，透射光经第二凸透镜后，由全反镜反射，反射光再次反向进入4f相位相干成像系统中，最后由分束镜反射进入CCD相机；参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本发明利用两次4f相位相干成像测量材料非线性的装置，提高了系统的测量精度。
-
公开(公告)号：CN101477047A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200910029164.6
申请日：2009-01-07
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/59
Abstract: 本发明公开了一种基于透镜几何光学成像的非线性吸收的测量方法，把激光器输出来的光分为监测光和探测光，监测光被一能量计探头接收，用来实时监测入射到待测样品上的能量，探测光经聚焦透镜聚焦以后照射到位于其焦点或附近位置的待测样品上，非线性导致经过样品的探测光空间分布发生变化，这种变化经过放在后面的成像透镜被CCD相机记录。按本发明方法工作的测量系统理论模型非常简单，数据处理容易，测量速度快，单脉冲测量降低了光学累积效应，非线性吸收的测量不受非线性折射的影响，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确，实验结果直观明了等优点。
-
公开(公告)号：CN101261224A
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN200810023628.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法，4f相位相干成像系统通过分束镜将入射激光分成两束，一束为探测光进入测量光路，通过4f系统后用CCD相机采集；另一路为参考光，进入参考光路后用同一个CCD相机采集；样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面，其特征在于参考光路是4f系统，且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行。对参考光路进行了改进使得该发明可以在获得样品上脉冲激光能量的同时可以获得代表入射面上入射脉冲空间分布情况，可以在光斑空间分布不稳定的情况下测量介质的非线性折射率，光路简单，测试速度快，结果准确，数据处理方便。
-
公开(公告)号：CN101109703A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710025839.0
申请日：2007-08-06
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测方法，把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光两束，泵浦光经过一个时间延迟平台聚焦到非线性样品上使之产生非线性；探测光探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化，并被CCD纪录。在泵浦光经过不同的时间延迟的情况下，从样品出射的探测光的位相和强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况，从而确定各个能级的吸收截面和寿命以及折射率体积。本发明光路简单，理论处理方便、单脉冲测量减少了光学积累效应，吸收泵探和折射泵探同时完成而不需要分别进行测量、可以同时测量非线性吸收和折射的大小和符号，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确等优点。
-
公开(公告)号：CN116626567B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202310479397.6
申请日：2023-04-28
Applicant: 苏州大学
IPC: G01R33/18
Abstract: 本发明涉及一种磁致伸缩系数测量装置及测量方法，其包括可变磁场、成像组件、相机及处理器；目标件设置于所述可变磁场内因磁致伸缩效应而形变，所述目标件连接所述光学装置一侧，所述光源垂直入射所述光学装置的另一侧，并使所述光学装置产生牛顿环干涉条纹；所述目标件的形变量变化时，所述干涉条纹外涌或内陷；所述相机用于采集所述干涉条纹，所述处理器连接所述相机，处理得到磁致伸缩系数；本发明利用光学干涉法测出波长量级的微小长度变化，精度高准确性好，实现装置的智能化和测量的实时性；结构简单，成本较低，具有良好的可重复性和可推广性；可视化程度高、便于观察，对磁致伸缩效应具有良好的展示效果。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
80
records
(took 0.025 seconds)
