公开(公告)号：CN116626567B

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202310479397.6

申请日：2023-04-28

Applicant: 苏州大学

Inventor： 孙宝印 ,  徐傅 ,  杨俊义 ,  徐亚东 ,  周坤 ,  刘波

IPC: G01R33/18

Abstract: 本发明涉及一种磁致伸缩系数测量装置及测量方法，其包括可变磁场、成像组件、相机及处理器；目标件设置于所述可变磁场内因磁致伸缩效应而形变，所述目标件连接所述光学装置一侧，所述光源垂直入射所述光学装置的另一侧，并使所述光学装置产生牛顿环干涉条纹；所述目标件的形变量变化时，所述干涉条纹外涌或内陷；所述相机用于采集所述干涉条纹，所述处理器连接所述相机，处理得到磁致伸缩系数；本发明利用光学干涉法测出波长量级的微小长度变化，精度高准确性好，实现装置的智能化和测量的实时性；结构简单，成本较低，具有良好的可重复性和可推广性；可视化程度高、便于观察，对磁致伸缩效应具有良好的展示效果。

公开(公告)号：CN116626567A

公开(公告)日：2023-08-22

申请号：CN202310479397.6

申请日：2023-04-28

Applicant: 苏州大学

Inventor： 孙宝印 ,  徐傅 ,  杨俊义 ,  徐亚东 ,  周坤 ,  刘波

IPC: G01R33/18

Abstract: 本发明涉及一种磁致伸缩系数测量装置及测量方法，其包括可变磁场、成像组件、相机及处理器；目标件设置于所述可变磁场内因磁致伸缩效应而形变，所述目标件连接所述光学装置一侧，所述光源垂直入射所述光学装置的另一侧，并使所述光学装置产生牛顿环干涉条纹；所述目标件的形变量变化时，所述干涉条纹外涌或内陷；所述相机用于采集所述干涉条纹，所述处理器连接所述相机，处理得到磁致伸缩系数；本发明利用光学干涉法测出波长量级的微小长度变化，精度高准确性好，实现装置的智能化和测量的实时性；结构简单，成本较低，具有良好的可重复性和可推广性；可视化程度高、便于观察，对磁致伸缩效应具有良好的展示效果。