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公开(公告)号：CN101308091A
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200810123176.0
申请日：2008-06-17
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种能测量介质界面光学非线性以及应用反射光测量薄膜光学非线性的方法，属于非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域。入射激光通过分束镜分成两路，一路为探测光进入测量光路，通过4f相位相干成像系统后由CCD相机采集；另一路为参考光；其特征在于：所述样品以反射方式放置于测量光路的第一凸透镜的焦平面处，沿反射光传播方向在一倍焦距处放置与第一凸透镜相同焦距的第二凸透镜，由此构成反射4f相位相干成像系统；其测量分能量校准和光学非线性测量两部分进行。本发明具有测量方便、光路简单、没有样品的移动、单脉冲测量、不易损伤介质的表面、对光源能量稳定性以及空间的稳定性要求不高等优点。
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公开(公告)号：CN101308091B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200810123176.0
申请日：2008-06-17
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种能测量介质界面光学非线性以及应用反射光测量薄膜光学非线性的方法，属于非线性光子学材料和非线性光学信息处理领域。入射激光通过分束镜分成两路，一路为探测光进入测量光路，通过4f相位相干成像系统后由CCD相机采集；另一路为参考光；其特征在于：所述样品以反射方式放置于测量光路的第一凸透镜的焦平面处，沿反射光传播方向在一倍焦距处放置与第一凸透镜相同焦距的第二凸透镜，由此构成反射4f相位相干成像系统；其测量分能量校准和光学非线性测量两部分进行。本发明具有测量方便、光路简单、没有样品的移动、单脉冲测量、不易损伤介质的表面、对光源能量稳定性以及空间的稳定性要求不高等优点。
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公开(公告)号：CN101261224A
公开(公告)日：2008-09-10
申请号：CN200810023628.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法，4f相位相干成像系统通过分束镜将入射激光分成两束，一束为探测光进入测量光路，通过4f系统后用CCD相机采集；另一路为参考光，进入参考光路后用同一个CCD相机采集；样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面，其特征在于参考光路是4f系统，且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行。对参考光路进行了改进使得该发明可以在获得样品上脉冲激光能量的同时可以获得代表入射面上入射脉冲空间分布情况，可以在光斑空间分布不稳定的情况下测量介质的非线性折射率，光路简单，测试速度快，结果准确，数据处理方便。
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公开(公告)号：CN101109703A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710025839.0
申请日：2007-08-06
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测方法，把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光两束，泵浦光经过一个时间延迟平台聚焦到非线性样品上使之产生非线性；探测光探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化，并被CCD纪录。在泵浦光经过不同的时间延迟的情况下，从样品出射的探测光的位相和强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况，从而确定各个能级的吸收截面和寿命以及折射率体积。本发明光路简单，理论处理方便、单脉冲测量减少了光学积累效应，吸收泵探和折射泵探同时完成而不需要分别进行测量、可以同时测量非线性吸收和折射的大小和符号，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确等优点。
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公开(公告)号：CN101109703B
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：CN200710025839.0
申请日：2007-08-06
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像的泵浦探测方法，把激光器输出来的激光分为泵浦光和探测光两束，泵浦光经过一个时间延迟平台聚焦到非线性样品上使之产生非线性；探测光探测由泵浦光诱导非线性样品产生的变化，并被CCD纪录。在泵浦光经过不同的时间延迟的情况下，从样品出射的探测光的位相和强度的变化反映了不同时刻样品中的粒子数布居的情况，从而确定各个能级的吸收截面和寿命以及折射率体积。本发明光路简单，理论处理方便、单脉冲测量减少了光学积累效应，吸收泵探和折射泵探同时完成而不需要分别进行测量、可以同时测量非线性吸收和折射的大小和符号，对激光束的随机波动敏感度低，测量结果精确等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101261224B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810023628.8
申请日：2008-04-09
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的方法，4f相位相干成像系统通过分束镜将入射激光分成两束，一束为探测光进入测量光路，通过4f系统后用CCD相机采集；另一路为参考光，进入参考光路后用同一个CCD相机采集；样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面，其特征在于参考光路是4f系统，且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行。对参考光路进行了改进使得该发明可以在获得样品上脉冲激光能量的同时可以获得代表入射面上入射脉冲空间分布情况，可以在光斑空间分布不稳定的情况下测量介质的非线性折射率，光路简单，测试速度快，结果准确，数据处理方便。
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公开(公告)号：CN100554942C
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200810018962.4
申请日：2008-01-28
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种消除非线性吸收影响的非线性折射性质测量方法，基于相位共轭与4f相位相干成像技术，激光束由光阑滤波，经傅立叶透镜聚焦到待测样品上，通过反射使光束再次反向通过待测样品和傅立叶透镜，利用分束器分束，经衰减后由CCD相机接收，其特征在于：分别测量无样品图像、线性图像、吸收折射图和吸收图；对线性图像和无样品图像分别进行积分得到透过样品后的线性脉冲的能量和入射脉冲的总能量，两者的比值为样品的线性透过率；用吸收图对吸收折射图进行数值拟合，得到样品的非线性折射率。本发明不需要进行非线性吸收系数的测量，得到材料的非线性折射系数，从而消除了非线性吸收对测量结果的影响，提高了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN101226145A
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200810018962.4
申请日：2008-01-28
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种消除非线性吸收影响的非线性折射性质测量方法，基于相位共轭与4f相位相干成像技术，激光束由光阑滤波，经傅立叶透镜聚焦到待测样品上，通过反射使光束再次反向通过待测样品和傅立叶透镜，利用分束器分束，经衰减后由CCD相机接收，其特征在于：分别测量无样品图像、线性图像、吸收折射图和吸收图；对线性图像和无样品图像分别进行积分得到透过样品后的线性脉冲的能量和入射脉冲的总能量，两者的比值为样品的线性透过率；用吸收图对吸收折射图进行数值拟合，得到样品的非线性折射率。本发明不需要进行非线性吸收系数的测量，得到材料的非线性折射系数，从而消除了非线性吸收对测量结果的影响，提高了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN100507612C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200710135430.4
申请日：2007-11-09
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于4f相位相干成像系统的相位光阑，光阑本体由外围的环状透光带和中央的相位物体构成，其特征在于：所述相位物体分成两部分，其中一部分与环状透光带的相位差为2mπ+π/2，另一部分与环状透光带的相位差为2nπ-π/2，式中，m，n为整数。改进后的相位光阑在非线性相移|ΦNL|＜π的范围内都可以使系统的测量精度得以提高。对于正的非线性相移灵敏度提高最大可达1.72倍，而对于负的非线性相移灵敏度的提高尤为明显，当ΦNL＝-π时灵敏度提高可达7.26倍。
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公开(公告)号：CN101324503A
公开(公告)日：2008-12-17
申请号：CN200810023188.6
申请日：2008-07-17
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于Z扫描的泵浦探测方法，把激光束分为两束，泵浦光经时间延迟聚焦到待测样品上，使非线性样品产生非线性吸收和非线性折射；出射的探测光经分光镜分为两束，一束直接进入第一探测器，另一束通过一个中心和光轴重合的小孔径光阑后进入第二探测器；其特征在于：在所述探测光光路中，凸透镜前设置有相位物体，其测量步骤为：①放上待测样品，用两个探测器分别收集不同时刻探测光的能量；②对不同延迟时间的探测光能量曲线进行处理，获得光学非线性参数。按本发明方法工作的测量系统光路简单、数据处理简单，非线性吸收和折射可以同时测量而不需要分开进行、可以同时测量非线性折射的大小和符号，测量结果精确等优点。
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