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公开(公告)号:CN104052478A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201410095256.5
申请日:2014-03-14
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/38 , H03M1/1019 , H03M1/164 , H03M1/44 , H03M1/46
Abstract: 本发明的实施方案可以提供模拟数字转换器(ADC)系统。ADC系统可以包括模拟电路,所述模拟电路接收输入信号和基准电压,并且将输入信号转换成原数字输出。模拟电路可以包括至少一个采样元件,至少一个采样元件在采样相位期间内对输入信号进行采样并且在转换相位期间再用于连接到基准电压。ADC系统还可以包括数字处理器,数字处理器接收原数字输出,并且对于每个时钟周期,在模拟数字转换中对基准电压误差进行数字校正。
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公开(公告)号:CN107104669B
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN201710085504.1
申请日:2017-02-17
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本发明涉及VDD参考采样。提供电压采样电路,可在输入电压采样期间直接连接到开关电路的非零电源电压VDD,设定共模电压,而不使用由参考电压产生电路产生的基准电压,并且不需要共模缓冲电路。电压采样电路可用于运算放大器输入级,诸如用于流水线ADC电路,或比较器电路。还提供SAR ADC电路,包括控制电路、电压采样电路、电容器阵列和比较器电路,用于比较从电荷再分发产生的输出。电压采样电路的效率可以使得增加的功率,避免泄漏,增加最大输入电压摆幅。在电压采样电路中基准板开关可包括的栅极升压设备或厚氧化物I/O设备。该设备可以包括n沟道场效应晶体管或高阈值电压p沟道场效应晶体管。
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公开(公告)号:CN104052478B
公开(公告)日:2017-11-17
申请号:CN201410095256.5
申请日:2014-03-14
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/38 , H03M1/1019 , H03M1/164 , H03M1/44 , H03M1/46
Abstract: 本发明的实施方案可以提供模拟数字转换器(ADC)系统。ADC系统可以包括模拟电路,所述模拟电路接收输入信号和基准电压,并且将输入信号转换成原数字输出。模拟电路可以包括至少一个采样元件,至少一个采样元件在采样相位期间内对输入信号进行采样并且在转换相位期间再用于连接到基准电压。ADC系统还可以包括数字处理器,数字处理器接收原数字输出,并且对于每个时钟周期,在模拟数字转换中对基准电压误差进行数字校正。
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公开(公告)号:CN107104669A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201710085504.1
申请日:2017-02-17
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
Abstract: 本发明涉及VDD参考采样。提供电压采样电路,可在输入电压采样期间直接连接到开关电路的非零电源电压VDD,设定共模电压,而不使用由参考电压产生电路产生的基准电压,并且不需要共模缓冲电路。电压采样电路可用于运算放大器输入级,诸如用于流水线ADC电路,或比较器电路。还提供SAR ADC电路,包括控制电路、电压采样电路、电容器阵列和比较器电路,用于比较从电荷再分发产生的输出。电压采样电路的效率可以使得增加的功率,避免泄漏,增加最大输入电压摆幅。在电压采样电路中基准板开关可包括的栅极升压设备或厚氧化物I/O设备。该设备可以包括n沟道场效应晶体管或高阈值电压p沟道场效应晶体管。
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公开(公告)号:CN104518796A
公开(公告)日:2015-04-15
申请号:CN201410519933.1
申请日:2014-09-30
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
CPC classification number: H03M1/0854 , H03M1/04 , H03M1/0697 , H03M1/46 , H03M1/462
Abstract: 本发明示例实施例提供了准确度增强技术来提高ADC的信噪比。例如,从最高有效位(MSB)到预定低有效位数字字的常规位试验和附加位试验可执行。常规位和附加位试验的结果相结合生成数字输出信号。剩余误差被测量,然后数字输出信号基于上述测量剩余误差进行调整。
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公开(公告)号:CN103518327A
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201280022325.9
申请日:2012-04-11
Applicant: 美国亚德诺半导体公司
IPC: H03M1/66
Abstract: 本公开提供一种跟踪数模转换器(DAC)的操作的跟踪模块。所述DAC跟踪模块可以包括在带有DAC的芯片上,并由与DAC类似的电路部件形成。所述DAC跟踪电路可以输出信号,用以指示在每个比特转换的过程中SAR ADC内的所述DAC已经稳定至近似值。还提供一种差分解决方案。由于可以实现最佳转换速度,因此可以使功率最佳化,并且所述DAC内的比较器在比特转换结束时并在响应于所述DAC跟踪模块所输出的所述信号的下一转换周期之前可以关闭或者置于闲置模式。
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