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公开(公告)号：CN113049883B
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202110275905.X
申请日：2021-03-15
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种基于耦合微带线的单纤维介电常数测试装置，包括数据接收分析模块和测试模块，测试模块包括谐振层以及用于固定谐振层的第一固定层和第二固定层；谐振层中令耦合微带线结构的两端开路形成谐振，第一固定层表面设置与耦合微带线结构平行的缝隙，待测材料从缝隙中水平放入耦合微带线结构两条平行金属导体带之间的测试通道，第一微带线结构和第二微带线结构与数据接收分析模块连接，分别用于激励和接收耦合微带线结构中的电磁波信号，数据接收分析模块用于获取耦合微带线结构的谐振频率，从而计算出待测材料的介电常数测试结果。本发明可以实现对单纤维的直接测试，且体积小、结构简单，能够降低加工成本。
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公开(公告)号：CN113049883A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110275905.X
申请日：2021-03-15
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种基于耦合微带线的单纤维介电常数测试装置，包括数据接收分析模块和测试模块，测试模块包括谐振层以及用于固定谐振层的第一固定层和第二固定层；谐振层中令耦合微带线结构的两端开路形成谐振，第一固定层表面设置与耦合微带线结构平行的缝隙，待测材料从缝隙中水平放入耦合微带线结构两条平行金属导体带之间的测试通道，第一微带线结构和第二微带线结构与数据接收分析模块连接，分别用于激励和接收耦合微带线结构中的电磁波信号，数据接收分析模块用于获取耦合微带线结构的谐振频率，从而计算出待测材料的介电常数测试结果。本发明可以实现对单纤维的直接测试，且体积小、结构简单，能够降低加工成本。
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公开(公告)号：CN112051453A
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN202010892305.3
申请日：2020-08-31
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明提供一种高温流体材料介电性能远距离测试装置，属于介电性能测试领域。该装置通过在谐振腔上加载点聚焦天线，将待测材料放置于点聚焦天线的焦点处，将介质材料对天线辐射的影响转化为谐振腔谐振参数的变化，从而实现待测材料的介电性能测量，整个测试过程中，无需与待测材料接触即可实现介电性能测试，具有测试灵敏度高、作用距离远等特点，且测试装置简单易安装，适合现场原位检测。除此之外，本发明装置在待测材料位置固定的情况下，可将测试装置放置于移动平台上，通过移动测试装置，可以实现流体材料这种具有分布不均匀特殊材料的不同位置的等效介电性能测试。
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公开(公告)号：CN118315823A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410525715.2
申请日：2024-04-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: H01Q15/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种空气柱填充的近场天线波束校正结构，属于天线校正技术领域。该校正结构通过椭球体截面上设置空气柱匹配孔，通过电磁波在圆柱孔内的空气向介质椭球体的传输来模拟四分之一波长变化，降低电磁波在透镜表面的反射，保证频段内有良好的电磁场辐射特性；同时，电介质填充的半椭球面改变电磁波的传播的电长度，将近场球面波前转换为平面波前，从而缩短天线的纵向尺寸，将近场辐射特性转变为近似均匀的平面波，从而提升介质材料介电常数测试的范围和测试精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118294722A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410220483.X
申请日：2024-02-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于扇形谐振腔的微波表面电阻测试系统及测试方法，属于微波测试技术领域。本发明创新性地采用扇形谐振腔，通过设定扇形圆心角度，使其工作于TE0n1模式，因为TE0n1模式只有φ方向的电场分布，将扇形的左右两个侧面使用高电导率的金属板使其为电壁(电场分量垂直于电壁面)；同时，基于模式频率设计腔体尺寸，使其抑制工作模式附近的干扰模式，在宽频率范围内得到一个比较“纯净”的TE0n1模式频谱；除此之外，通过将谐振腔和待测导体材料进行可分离设置，实现了宽频带内不同导体材料在微波工作下的表面电阻测试。
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公开(公告)号：CN117607552A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311631682.1
申请日：2023-11-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明的目的在于提供一种基于终端短路法微波平板材料电磁参数测试系统及方法，属于微波测试技术领域。该发明创新地设计了一套终端短路法测试系统，同时设计了电磁参数提取算法，通过更换两种介电常数差别较大的微波透波材料进行两次测试，获得两个待求解方程，从而能够实现对微波平板材料复介电常数与复磁导率的同时提取。本发明系统具有自动化高、测试频带宽、检测方式简便、准确率高等优点。
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公开(公告)号：CN117388581A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311440595.8
申请日：2023-10-31
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明的目的在于提供基于同轴腔法高温高压下材料介电性能测试系统及方法，属于微波介电性能测试技术领域。本发明测试系统主要包括渐变型开路同轴谐振腔、加热装置和压力发生装置，通过将待测吸波材料放置于渐变型开路同轴谐振腔腔内，利用加热装置和压力发生装置同时构建温度场和压力场，基于待测材料在不同温度和压力下腔体谐振频率和品质因素的变化，演算得到待测材料在高温高压下的介电性能，测量结果准确且精度较高。
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公开(公告)号：CN114609189B
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202210171651.1
申请日：2022-02-24
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法，属于红外无损检测技术领域。该方法通过对材料进行微波加热，在恒定输出功率下，材料达到了温度平衡后，对材料进行红外温度检测；然后通过已知的材料电磁参数、输出功率，结合电磁波的多层反射理论，完成对缺陷深度信息的提取。本方法对缺陷深度信息检测更为精确，同时具有检测方式简便。
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公开(公告)号：CN114994414A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210591834.9
申请日：2022-05-27
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明的目的在于提供一种自由空间终端短路法高温高压下介电性能测试系统及方法，属于微波测试技术领域。该发明创新地设计了一套新的自由空间终端短路测试系统，同时设计了电磁参数提取算法，能够实现宽频带下对微波材料高温高压联合作用下电磁参数的提取。本发明测试系统能够实现室温～1000℃，压力为0～12.5kPa联合作用下的测试，具有自动化高、测试频带宽、检测方式简便、准确率高等优点。
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