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公开(公告)号：CN111521622A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010280185.1
申请日：2020-04-10
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N1/44
Abstract: 本发明公开了一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，属于检测技术领域。通过对金属材料进行两次透射电镜观察的结果，对比研究金属材料的氧化过程。本发明提供的一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，制备透射电镜样品方便，仪器简单，试验步骤简单，操作方便。
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公开(公告)号：CN107255644B
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201710422258.4
申请日：2017-06-07
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/20008 , G01N23/2005 , G01N1/32
Abstract: 一种透射电子显微镜检测区域的定位方法，其主要是：将标记好的样品放入配有侧插式样品台的透射电子显微镜样品杆，确保样品上标记的直线平行于样品杆的轴向方向。样品检测时，每完成一个检测区域的数据采集工作时，需记录样品杆参数：X、Y、Z、α、β，其中X、Y、Z为正在检测区域的坐标值，α、β为此时样品杆的两个倾转角。对于需要补充数据的检测区域，根据记录的样品杆参数：X、Y、Z、α、β，采用下式计算得出其目前坐标X0、Y0:其中X0、Y0为再次检测时上次检测区域此时的坐标值，根据X0、Y0坐标找到指定区域。本发明不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现；可用于透射电子显微镜样品再次检测时定位之前检测的区域。
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公开(公告)号：CN109030496A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810681882.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N2021/8829
Abstract: 本发明公开了一种立方晶系中位错柏氏矢量沿任意晶向投影矢量的计算方法，其内容包括：计算位错柏氏矢量b和晶体晶向t的夹角θ；根据夹角θ计算出位错柏氏矢量b在晶向t上的分矢量bt；将计算出的矢量bt代入公式bp＝b‑bt中，可得出柏氏矢量b沿着晶体晶向t的投影矢量bp。本发明利用立方晶系晶体的特殊晶体学特征计算出位错柏氏矢量和任意晶向的夹角，进而可以计算得出位错沿此晶向的投影矢量，可用于立方晶体不同晶带轴上高分辨图像的位错矢量分析。该方法具有操作过程简单易行，可快速准确的计算出位错沿任意电子束方向(晶体晶向)的投影矢量；精确度高，可以方便的区分不同位错柏氏矢量；易于编程实现，可作为透射电子显微镜精确分析的辅助工具。
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公开(公告)号：CN105364415A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510809911.3
申请日：2015-11-20
Applicant: 燕山大学
CPC classification number: B23P15/00 , B23K35/3093
Abstract: 一种球墨铸铁表层石墨球细化的方法，其主要是制备直径为4mm的堆焊焊条，其焊层金属化学成分质量分数为C0.30％～0.50％、Si1.0％～1.5％、Ni0.80％～1.00％、Mn0.20％～0.40％、Re0.01％～0.04％、P≦0.030％，S≦0.030％，其余为Fe。将上述焊条烘干后，用直流电焊机采用200～240A电流将焊条在球墨铸铁表面堆焊厚度为2～3mm的堆焊层，焊后空冷至室温，然后磨掉球墨铸铁表面上1～2mm的堆焊层，即可在球墨铸铁表层获得尺寸细小、圆整度较好、分布均匀且数量较多的石墨球。本发明方法简单、成本低廉、质量稳定，球墨铸铁表层获得的石墨球径尺寸约6～10μm，较该球墨铸铁中的平均石墨球径减小了150％～320％，单位面积上石墨球数量也明显增多。
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公开(公告)号：CN110986790B
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN201911287507.9
申请日：2019-12-14
Applicant: 燕山大学
Abstract: 本发明提供一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法，包括如下步骤：步骤一、建立面心立方晶体样品里孪晶面的第一模型，所述第一模型是根据投影几何获得的；步骤二、将面心立方透射电镜样品放入电镜后，查找含有孪晶组织的薄区，将所检测晶粒倾转到 晶带轴；步骤三：调节放大倍数，采集孪晶面的投影图像，包括明场图像和暗场图像，并从图像中测量出孪晶面的投影宽度；步骤四：将步骤三中测量的孪晶面的投影宽度值代入第一模型中，确定透射样品中孪晶面的实际宽度。本发明操作简单，仅仅需要将样品倾转到低指数的 晶带轴；计算公式简洁，能够在透射电镜测试过程中快速计算出所孪晶面的实际宽度；不用加装硬件和软件即可测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106802306B
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201710146128.2
申请日：2017-03-13
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法。该方法包含两个部分：第一、利用透射电镜双倾技术采集晶粒特定菊池线；第二、提出一种计算相邻晶粒之间取向差的新方法。步骤为：使用双倾样品杆把待测区域的中心晶粒倾转到特定的晶带轴，并采集该晶粒的菊池线；然后在相同的条件下采集与之相邻的晶粒的菊池线，叠加采集的菊池线，测量参数；最后采用公式cosΘ＝(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒之间的位向差。本发明具有操作简单、计算便捷、精度高等优点。
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公开(公告)号：CN109270098A
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201811057798.8
申请日：2018-09-11
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 一种在透射电子显微镜检测过程中一键图像采集加图像存储的方法，其主要是首先将单张图像的采集和图像存储过程中的每一步骤分解为计算机鼠标移动和鼠标单击，然后将单张图像的采集和图像存储过程编写成脚本；将脚本写入软件中，模拟计算机鼠标输入；设置脚本运行快捷键；采集图像时,打开图像软件并使用快捷键采集图像加存储图像。本发明能够减少图像采集和图像存储步骤，缩短图像采集和图像存储所需时间，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN107255644A
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201710422258.4
申请日：2017-06-07
Applicant: 燕山大学
Abstract: 一种透射电子显微镜检测区域的定位方法，其主要是：将标记好的样品放入配有侧插式样品台的透射电子显微镜样品杆，确保样品上标记的直线平行于样品杆的轴向方向。样品检测时，每完成一个检测区域的数据采集工作时，需记录样品杆参数：X、Y、Z、α、β，其中X、Y、Z为正在检测区域的坐标值，α、β为此时样品杆的两个倾转角。对于需要补充数据的检测区域，根据记录的样品杆参数：X、Y、Z、α、β，采用下式计算得出其目前坐标X0、Y0:其中X0、Y0为再次检测时上次检测区域此时的坐标值，根据X0、Y0坐标找到指定区域。本发明不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现；可用于透射电子显微镜样品再次检测时定位之前检测的区域。
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公开(公告)号：CN103418885A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201310306021.1
申请日：2013-07-19
Applicant: 燕山大学
Abstract: 一种提高铁素体球墨铸铁表面硬度的方法，其主要是按常规方法自制直径为4mm的低碳合金焊条，其焊层金属化学成分质量分数为：C0.12%～0.20%、Mn0.30%～0.60%、Cr0.50%～0.80%、Ni1.20%～1.30%、Si≦0.40%、S≦0.030%、P≦0.035%，其余为Fe。使用前将上述焊条在300～400℃下烘干1h，用直流电焊机采用160～220A电流将焊条在球墨铸铁表面堆焊厚度为1～2mm的堆焊层，焊后空冷至室温，然后将球墨铸铁表面上的1～2mm的堆焊层磨掉，即获得球墨铸铁表面的熔合层。本发明工艺方法简单、成本低廉，质量稳定，球墨铸铁表面硬度为48～52HRC，较处理前提高了360%～390%。
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公开(公告)号：CN111521622B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202010280185.1
申请日：2020-04-10
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/20058 , G01N23/20008 , G01N1/44
Abstract: 本发明公开了一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，属于检测技术领域。通过对金属材料进行两次透射电镜观察的结果，对比研究金属材料的氧化过程。本发明提供的一种采用金属薄膜透射电镜样品研究其氧化过程的方法，制备透射电镜样品方便，仪器简单，试验步骤简单，操作方便。
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