在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法

    公开(公告)号:CN106802306B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201710146128.2

    申请日:2017-03-13

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 闫志刚 林耀军

    Abstract: 本发明涉及一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法。该方法包含两个部分:第一、利用透射电镜双倾技术采集晶粒特定菊池线;第二、提出一种计算相邻晶粒之间取向差的新方法。步骤为:使用双倾样品杆把待测区域的中心晶粒倾转到特定的晶带轴,并采集该晶粒的菊池线;然后在相同的条件下采集与之相邻的晶粒的菊池线,叠加采集的菊池线,测量参数;最后采用公式cosΘ=(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒之间的位向差。本发明具有操作简单、计算便捷、精度高等优点。

    在透射电镜检测过程中一键图像采集加存储的方法

    公开(公告)号:CN109270098A

    公开(公告)日:2019-01-25

    申请号:CN201811057798.8

    申请日:2018-09-11

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 一种在透射电子显微镜检测过程中一键图像采集加图像存储的方法,其主要是首先将单张图像的采集和图像存储过程中的每一步骤分解为计算机鼠标移动和鼠标单击,然后将单张图像的采集和图像存储过程编写成脚本;将脚本写入软件中,模拟计算机鼠标输入;设置脚本运行快捷键;采集图像时,打开图像软件并使用快捷键采集图像加存储图像。本发明能够减少图像采集和图像存储步骤,缩短图像采集和图像存储所需时间,提高工作效率。

    一种金属材料薄板和薄片横截面透射电镜样品的制备方法

    公开(公告)号:CN105403440B

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201510652382.0

    申请日:2015-10-10

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 林耀军 曾招芬

    Abstract: 一种金属材料薄板和薄片横截面透射电镜样品的制备方法,其主要特征是:将机械减薄至30‑50微米厚的横截面样品放置在通用电解双喷装置夹具的主夹板的导电片上的凹坑内,再将不导电薄片放置在样品外侧,完全遮挡住主夹板上2‑2.5毫米的圆孔,并且不导电薄片中央直径小于横截面样品宽度的微孔在横截面样品表面形成直径等于微孔直径的电解双喷区域。只要在微孔区域内出现孔洞,将立即引起光敏控制单元动作,电解双喷过程自动停止,从而获得面积最大的电子能穿透的薄区。本发明可简便易行地在通用电解双喷装置上制备金属材料薄板和薄片横截面的透射电镜样品;不仅能够显著增大电子能透过的薄区的面积,而且获得大面积的电子能透过的薄区的可靠性大大提高。

    一种透射电子显微镜检测区域的定位方法

    公开(公告)号:CN107255644A

    公开(公告)日:2017-10-17

    申请号:CN201710422258.4

    申请日:2017-06-07

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 一种透射电子显微镜检测区域的定位方法,其主要是:将标记好的样品放入配有侧插式样品台的透射电子显微镜样品杆,确保样品上标记的直线平行于样品杆的轴向方向。样品检测时,每完成一个检测区域的数据采集工作时,需记录样品杆参数:X、Y、Z、α、β,其中X、Y、Z为正在检测区域的坐标值,α、β为此时样品杆的两个倾转角。对于需要补充数据的检测区域,根据记录的样品杆参数:X、Y、Z、α、β,采用下式计算得出其目前坐标X0、Y0:其中X0、Y0为再次检测时上次检测区域此时的坐标值,根据X0、Y0坐标找到指定区域。本发明不需要添加硬件设备,操作简单,易行;而且计算简单,易于编程实现;可用于透射电子显微镜样品再次检测时定位之前检测的区域。

    一种透射电子显微镜检测区域的定位方法

    公开(公告)号:CN107255644B

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201710422258.4

    申请日:2017-06-07

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 一种透射电子显微镜检测区域的定位方法,其主要是:将标记好的样品放入配有侧插式样品台的透射电子显微镜样品杆,确保样品上标记的直线平行于样品杆的轴向方向。样品检测时,每完成一个检测区域的数据采集工作时,需记录样品杆参数:X、Y、Z、α、β,其中X、Y、Z为正在检测区域的坐标值,α、β为此时样品杆的两个倾转角。对于需要补充数据的检测区域,根据记录的样品杆参数:X、Y、Z、α、β,采用下式计算得出其目前坐标X0、Y0:其中X0、Y0为再次检测时上次检测区域此时的坐标值,根据X0、Y0坐标找到指定区域。本发明不需要添加硬件设备,操作简单,易行;而且计算简单,易于编程实现;可用于透射电子显微镜样品再次检测时定位之前检测的区域。

    一种防止用作溅射靶材的脆性合金开裂的铸造方法

    公开(公告)号:CN106011757B

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201610533559.X

    申请日:2016-07-07

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 林耀军 王建华

    Abstract: 一种防止用作溅射靶材的脆性合金开裂的铸造方法,其主要是铸造出的脆性合金铸件为片状或板状,其厚度8‑15毫米、在垂直于厚度方向的平面内的尺寸在厚度的20倍以上;最终片状或板状铸件是通过液态合金的不断注入,铸件沿厚度方向逐渐增厚而形成的,铸造过程中片状或板状铸件的表面是水平的;浇注模具由含型腔的部件直接放置到底板上组合而成,通过合理设计底板和含型腔部件的形状、尺寸,实现上述沿厚度方向逐渐增厚而形成最终铸件的铸造方式;含型腔部件和底板由低导热系数的耐高温陶瓷材料制造。本发明可有效防止铸造过程中脆性合金铸件的开裂,铸件仅残存非常微量的凝固缩孔,机加工后可直接用作溅射靶材;方法简便易行,生产成本低。

    一种立方晶系中位错柏氏矢量沿任意晶向投影矢量的计算方法

    公开(公告)号:CN109030496A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810681882.0

    申请日:2018-06-27

    Applicant: 燕山大学

    CPC classification number: G01N21/8806 G01N2021/8829

    Abstract: 本发明公开了一种立方晶系中位错柏氏矢量沿任意晶向投影矢量的计算方法,其内容包括:计算位错柏氏矢量b和晶体晶向t的夹角θ;根据夹角θ计算出位错柏氏矢量b在晶向t上的分矢量bt;将计算出的矢量bt代入公式bp=b‑bt中,可得出柏氏矢量b沿着晶体晶向t的投影矢量bp。本发明利用立方晶系晶体的特殊晶体学特征计算出位错柏氏矢量和任意晶向的夹角,进而可以计算得出位错沿此晶向的投影矢量,可用于立方晶体不同晶带轴上高分辨图像的位错矢量分析。该方法具有操作过程简单易行,可快速准确的计算出位错沿任意电子束方向(晶体晶向)的投影矢量;精确度高,可以方便的区分不同位错柏氏矢量;易于编程实现,可作为透射电子显微镜精确分析的辅助工具。

    一种防止用作溅射靶材的脆性合金开裂的铸造方法

    公开(公告)号:CN106011757A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610533559.X

    申请日:2016-07-07

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 林耀军 王建华

    CPC classification number: C23C14/3414 B22C9/00

    Abstract: 一种防止用作溅射靶材的脆性合金开裂的铸造方法,其主要是铸造出的脆性合金铸件为片状或板状,其厚度8‑15毫米、在垂直于厚度方向的平面内的尺寸在厚度的20倍以上;最终片状或板状铸件是通过液态合金的不断注入,铸件沿厚度方向逐渐增厚而形成的,铸造过程中片状或板状铸件的表面是水平的;浇注模具由含型腔的部件直接放置到底板上组合而成,通过合理设计底板和含型腔部件的形状、尺寸,实现上述沿厚度方向逐渐增厚而形成最终铸件的铸造方式;含型腔部件和底板由低导热系数的耐高温陶瓷材料制造。本发明可有效防止铸造过程中脆性合金铸件的开裂,铸件仅残存非常微量的凝固缩孔,机加工后可直接用作溅射靶材;方法简便易行,生产成本低。

    一种制备颗粒强化金属基纳米复合材料的方法

    公开(公告)号:CN103990792B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201410124545.3

    申请日:2014-03-28

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 一种制备颗粒强化金属基纳米复合材料的方法,主要是将尺寸为50-1000nm的金属/合金粉末于室温下将其暴露在空气中或在50至300℃温度下置于含氧量体积分数为1至10%的混合气体中使粉末表面生成一层氧化膜;采用放电等离子高温烧结对预氧化的粉末进行固结,然后采用轧制、锻造和挤压进行变形,获得颗粒强化金属基纳米复合材料。本发明氧化物强化相分布均匀、生产周期短、生产效率高、容易实现大规模工业化生产。

    一种制备晶内含纳米尺寸析出相的纳米晶金属材料的方法

    公开(公告)号:CN104726803A

    公开(公告)日:2015-06-24

    申请号:CN201510086328.4

    申请日:2015-02-16

    Applicant: 燕山大学

    Inventor: 林耀军 刘学建

    Abstract: 一种制备晶内含纳米尺寸析出相的纳米晶金属材料的方法,首先对含有在基体中固溶度随温度降低而减小的合金元素的粗晶金属材料进行高温固溶处理,获得合金元素过饱和溶解的单相固溶体;然后在室温或低于室温的温度下进行剧烈塑性变形高压扭转处理,获得由合金元素过饱和溶解的纳米晶粒组成的单相固溶体纳米晶材料;最后将上述纳米晶材料在3-25GPa的压力下时效,温度100-800℃,保温5-8小时,制备出纳米晶粒内含有纳米尺寸析出相的纳米晶金属材料。本发明适用的材料成分范围宽,可有效避免剧烈塑性变形在材料中产生微裂纹,制备出的纳米晶材料中纳米尺寸析出相分布均匀。

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