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公开(公告)号：CN109521028B
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN201811474246.7
申请日：2018-12-04
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N21/90
Abstract: 本发明公开了一种金属三维多层点阵结构内部宏观缺陷检测方法，通过工业CT对多层金属点阵结构材料样件进行扫描得到样件内部的二维层析图像，从得到的二维层析图像中截取平行于点阵单元横向排布方向的横向断层截面二维灰度图，再通过三个横向相邻固定尺寸像素点集合灰度值总和之间的差值分布来判别缺陷的存在，且理论分析给出了相应的判别标准和依据。实验验证结果表明，与人工标记的缺陷进行对比，本发明对金属三维多层点阵结构样件的内部典型断层缺陷的识别率达到98.5％。
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公开(公告)号：CN111413376A
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN202010280246.4
申请日：2020-04-10
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/22
Abstract: 本申请适用于无损检测技术领域，提供了一种同面阵列电容传感器成像方法，上述同面阵列电容传感器成像方法包括：建立电容传感器和待测物体的三维模型，在三维模型中确定求解区域，并将求解区域划分成有限个求解单元；分别对电容传感器上的每组电极施加循环的点电压激励信号，并计算求解区域的原始敏感场；获取每个求解单元的中心坐标和所有电极对的相对点坐标，并根据求解单元的中心坐标和电极对的相对点坐标确定抗噪声算子；根据原始敏感场和抗噪声算子确定优化敏感场；根据优化敏感场确定介电常数分布矩阵，并以介电常数分布矩阵为灰度值进行成像。上述方法可以解决同面阵列电容传感器成像时噪声影响成像效果的问题。
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公开(公告)号：CN107422002A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710191853.1
申请日：2017-03-28
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/24
CPC classification number: G01N27/24
Abstract: 本发明涉及一种基于局部分形维的平面阵列电容成像缺陷检测定位方法，包括如下步骤：S1将被测样件平行正对置于平面电极阵列传感器上，测量此时的电容值，作为测量物场电容值；S2图像重建：利用LBP算法重建出介电常数分布图像；S3图像处理：提取伪色图像中缺陷颜色所对应的颜色矩阵；S4将重建图形分块，并计算每块的分形维维数，根据重建图像的分块分形维维数直方图确定阈值；S5标记出分形维维数大于阈值的方孔，得到最终标记结果。本申请针对航空用复合材料结构的粘接层缺陷，提出基于平面阵列电极电容成像检测方法，将分形理论应用到平面阵列电极电容成像重建图像的缺陷自动定位中，实现对重建图像进行缺陷的自动标记，提高了缺陷定位精度。
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公开(公告)号：CN116394519A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310336745.4
申请日：2023-03-31
Applicant: 燕山大学
IPC: B29C64/386 , B29C64/393 , B33Y50/00 , B33Y50/02
Abstract: 本发明涉及一种3D打印过程的监测方法及监测系统，属于3D打印技术领域，解决了现有技术中难以监测3D打印过程的各打印位置的打印状态的技术问题。本发明的监测方法包括如下步骤：将平行板电容器的第一极板设置在打印喷头侧，将所述平行板电容器的第二极板设置在打印基板侧，其中，第一极板的面积小于所述第二极板的面积；打印喷头逐层打印被打印物时，使所述第一极板跟随所述打印喷头同步移动，以实时获取各打印位置的电容数据；根据所述电容数据判断打印过程中各打印位置的打印状态。实现了对打印过程中各打印位置的打印状态监测，方法简单，可控制性好。
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公开(公告)号：CN116297726A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310291549.X
申请日：2023-03-23
Applicant: 燕山大学 , 北京星航机电装备有限公司
IPC: G01N27/22 , G06F30/392 , G06T7/00 , G06T5/50 , G06F17/18
Abstract: 本发明涉及一种共面电容传感器及其优化方法，属于电容传感技术领域，解决了现有技术中单对电极共面电容传感器的成像效果差的技术问题。本发明的一种共面电容传感器的优化方法包括：改变两个所述电极的相邻边的形状，使两个电极的相邻边的一部分部位的间距增大，同时使两个电极的相邻边的另一部分部位的间距保持不变，从而获取优化后的共面电容传感器。本发明中，通过改变两个电极的相邻边的形状，优化共面电容传感器的灵敏度分布和探测深度等检测性能指标，从而改善共面电容传感器的成像效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111413376B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202010280246.4
申请日：2020-04-10
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/22
Abstract: 本申请适用于无损检测技术领域，提供了一种同面阵列电容传感器成像方法，上述同面阵列电容传感器成像方法包括：建立电容传感器和待测物体的三维模型，在三维模型中确定求解区域，并将求解区域划分成有限个求解单元；分别对电容传感器上的每组电极施加循环的点电压激励信号，并计算求解区域的原始敏感场；获取每个求解单元的中心坐标和所有电极对的相对点坐标，并根据求解单元的中心坐标和电极对的相对点坐标确定抗噪声算子；根据原始敏感场和抗噪声算子确定优化敏感场；根据优化敏感场确定介电常数分布矩阵，并以介电常数分布矩阵为灰度值进行成像。上述方法可以解决同面阵列电容传感器成像时噪声影响成像效果的问题。
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公开(公告)号：CN104458834A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410735904.9
申请日：2014-12-05
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/22
Abstract: 本发明公开了一种材料缺陷检测设备以及材料缺陷检测方法，包括：平面阵列传感器、控制电路和结果输出模块，其中：平面阵列传感器，包括：多个检测电极、端部屏蔽电极、极间屏蔽电极、传感器基板、信号线和基板背面屏蔽层，其中：控制电路与多个检测电极相连，用于控制对多个检测电极的电压激励；多个检测电极以阵列方式排列在传感器基板的上方，传感器基板的背面覆盖有基板背面屏蔽层，以及分布有信号线；信号线与多个检测电极相连，且与结果输出模块相连，用于将检测信号传输给结果输出模块；结果输出模块用于根据检测信号输出对应的检测结果。采用本发明方案，实现了对材料内部的无损检测。
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公开(公告)号：CN116735671A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310497063.1
申请日：2023-05-05
Applicant: 北京星航机电装备有限公司 , 燕山大学
Abstract: 本发明涉及一种共面电容传感器及缺陷检测方法，属于共面电容传感器技术领域，解决了现有技术中同一共面电容传感器无法对不同深度的缺陷进行检测的技术问题。本发明的共面电容传感器包括：设置在同一平面上的两组电极组件，两组电极组件沿第一方向相对设置；每组电极组件包括至少两个电极板，每组电极组件的电极板沿第二方向间隔排列，第二方向与第一方向相互垂直，其中，每个电极板均可以独立接通，以作为接收电极或激励电极。实现了同一共面电容传感器检测不同深度的缺陷信息，无需更换传感器，能够减少人为测量误差，提高检测效率和精测精度，降低设备成本，同时有利于提高共面电容传感器的信号传输的稳定性和质量。
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公开(公告)号：CN106959325A
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201710243046.X
申请日：2017-04-07
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/22
CPC classification number: G01N27/226
Abstract: 本发明公开了一种平面阵列电极电容传感器，通过设置底部屏蔽板、边缘屏蔽框和极间屏蔽条，大大降低了环境噪音对测量结果的影响，有利于提高测量精度。本发明还公开了基于上述平面阵列电极电容传感器的平面阵列电极电容成像系统以及成像方法，通过将数据融合技术应用到重建图像的图像处理当中，针对3×4平面阵列电容传感器，利用ANSYS有限元仿真软件将被测材料分为8层，计算出各层的灵敏度矩阵，采用Landwerb迭代算法进行图像重建，为融合重建出的分层图像，采用主成分分析法计算重建分层图像的主成分向量，将主成分按其贡献率的百分比进行融合，最终得到融合后的图像，数据融合得到的图像在图像误差和相关系数上较原图像均有改善。
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公开(公告)号：CN104458834B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201410735904.9
申请日：2014-12-05
Applicant: 燕山大学
IPC: G01N27/22
Abstract: 本发明公开了一种材料缺陷检测设备以及材料缺陷检测方法，包括：平面阵列传感器、控制电路和结果输出模块，其中：平面阵列传感器，包括：多个检测电极、端部屏蔽电极、极间屏蔽电极、传感器基板、信号线和基板背面屏蔽层，其中：控制电路与多个检测电极相连，用于控制对多个检测电极的电压激励；多个检测电极以阵列方式排列在传感器基板的上方，传感器基板的背面覆盖有基板背面屏蔽层，以及分布有信号线；信号线与多个检测电极相连，且与结果输出模块相连，用于将检测信号传输给结果输出模块；结果输出模块用于根据检测信号输出对应的检测结果。采用本发明方案，实现了对材料内部的无损检测。
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