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公开(公告)号：CN106153646A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201510162334.3
申请日：2015-04-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/046 , G01N23/041 , G01N2223/1016 , G01N2223/419
Abstract: 公开了一种X射线成像系统和方法。该系统包括：X射线源，发出X射线束；沿着X射线的发射方向依次设置的第一光栅和第二光栅；探测器，设置在X射线发射方向上第二光栅的下游；控制和数据处理装置，用于控制X射线源发出X射线，控制所述探测器接收经过第一光栅和第二光栅的X射线，产生相衬信息和/或暗场信息，并且基于所述相衬信息和/或暗场信息对被检查物体进行CT检查，获得CT图像。利用上述技术方案，能够得到被检查物体的更多的特征信息，从而允许做出更准确的物质识别及安检性能。
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公开(公告)号：CN103913472A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201210593047.4
申请日：2012-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/482 , A61B6/5205 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985 , G06T5/50 , G06T2207/10081 , G06T2207/20182
Abstract: 本发明公开了一种CT成像系统和方法。对物体进行普通CT扫描得到普通CT图像，然后从该图像中确定感兴趣区域。利用光子计数探测器在多个能窗对感兴趣区域进行CT扫描。然后重建感兴趣区域的高分辨率图像。利用光子计数探测器采集多个能窗的光子计数投影数据，因此可进行多个基函数的分解，使得能谱区分度高，数值稳定性好。
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公开(公告)号：CN118258893A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202211714433.4
申请日：2022-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N29/06
Abstract: 本发明提供了一种肉类检测系统和肉类检测方法。系统包括：运送设备，限定用于运送肉类产品的运送通道，肉类产品在运输通道上沿运送方向移动；射线源，配置成朝向运送通道照射射线束，射线束沿运送方向的横向跨运送通道；探测器，被配置成接收射线束以分别生成第一探测信号和第二探测信号，其中第一探测信号和第二探测信号对应于不同波段的辐射；处理器，被配置成基于探测器探测的第一探测信号和第二探测信号生成第一透射图像和第二透射图像，并结合第一透射图像和第二透射图像生成肉类产品的透射扫描图像，由此计算肉类产品的量化指标以对肉类产品进行分级。
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公开(公告)号：CN117929423A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311865662.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/00
Abstract: 提供一种用于对扫描成像设备进行能谱标定的标定方法，包括：在能谱标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下，根据射线源、能谱标定模体和探测器之间的相对位置，获取射线源、能谱标定模体和探测器之间的几何关系；通过探测器采集经过扫描区域的射线，以获取实际投影数据；获取能谱标定模体的物理属性，其中，物理属性是根据能谱标定模体的组成材料预先确定的或根据图像重建方法计算得到的；基于能谱标定模体的物理属性和几何关系，使用预定的多个基础能谱计算理论投影数据；根据理论投影数据和实际投影数据，对能谱参数进行标定，以获取优化的能谱参数；以及将优化的能谱参数确定为能谱标定参数。
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公开(公告)号：CN117635527A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311115401.7
申请日：2023-08-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 提供了一种静态CT设备及其成像方法。所述成像方法包括：利用所述分布式射线源和所述探测器，在不同角度下采集被检查物体的初始投影数据，其中，所述初始投影数据包括基于所述多个射线源点发出的射线所述探测器直接获取的投影数据；根据采集的所述初始投影数据，利用重建算法，获取第一CT图像；将所述第一CT图像分割为N个第一子图像，其中，N为大于等于1的正整数，所述N个第一子图像的并集覆盖整个第一CT图像；对所述N个第一子图像进行优化，以获取N个第二子图像；以及合并所述N个第二子图像，以获取第二CT图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117517358A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311490567.7
申请日：2023-11-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/02
Abstract: 提供一种CT扫描系统，包括：传送装置，用于使扫描对象在扫描通道中沿预定的传送方向移动；p个扫描段，每个扫描段包括分布式射线源和探测器阵列，p个扫描段沿传送方向间隔布置，p为大于等于2的正整数，在每个扫描段中，分布式射线源包括m个靶点，m个靶点被配置为按照预定的顺序被激活以发出射线束，m为大于等于2的正整数；探测器阵列用于探测从分布式射线源发出并穿过扫描对象的射线，并根据探测到的射线生成投影数据；图像重建装置，图像重建装置被配置为：根据p个扫描段中各个探测器探测到的投影数据，生成扫描对象的计算机断层扫描图像。至少一个扫描段的分布式射线源被配置为在扫描对象被扫描时绕平行于传送方向的第一轴线旋转。
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公开(公告)号：CN117270066A
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202311490080.9
申请日：2023-11-09
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 提供一种直线扫描CT成像系统和方法，该系统包括：传送装置，用于使扫描对象在扫描通道中沿预定的传送方向移动；射线源，射线源用于交替发出射线束以形成扫描区域；探测器，探测器包括第一探测器和第二探测器；第一探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第一投影数据；第二探测器用于探测在扫描对象穿过扫描区域的过程中，射线束透过扫描对象后形成的第二投影数据；成像装置，根据第二投影数据，生成扫描对象的数字化射线图像，以及根据第一投影数据和第二投影数据，得到扫描对象的计算机断层扫描图像。
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公开(公告)号：CN116188385A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211705003.6
申请日：2022-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/12 , G06T7/13 , G06V10/762
Abstract: 提供了一种三维CT图像中目标对象剥离方法，涉及安全检查领域。该方法包括：基于CT数据获取点云数据，其中，所述CT数据通过安检设备对N个待检对象进行计算机断层扫描获得，N大于或等于2；根据所述点云数据确定所述N个待检对象中的目标对象区域；从三维CT图像中剥离所述目标对象区域。能够实现目标对象区域的单独判图，或是剔除目标对象干扰后的判图，有助于提升判图员的工作效率和查验准确性。本公开还提供了一种三维CT图像中目标对象剥离装置、设备、存储介质和程序产品。
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公开(公告)号：CN114167507A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202010957793.1
申请日：2020-09-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种多通道静态CT装置，其包括：扫描通道，所述扫描通道包括多条扫描子通道；分布式X射线源，所述分布式X射线源包括多个射线发射点，所述多个射线发射点围绕所述扫描通道布置；以及探测器模块，所述探测器模块包括多个探测器，所述多个探测器围绕所述扫描通道布置，所述多个探测器与所述多个射线发射点相应设置。
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公开(公告)号：CN107345923B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201610294662.3
申请日：2016-05-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046
Abstract: 提供了一种新颖的X射线探测方法、和X射线探测器。根据本发明实施例的X射线探测方法，包括：将X射线源所发射的光子的能量范围划分为N个能窗，N为大于0的整数；基于成像目标的感兴趣物质和背景物质的线衰减系数，获取N个能窗中的每个能窗的权重因子；基于N个能窗中的每个能窗的权重因子，获取X射线探测器的M个输出通道的权重因子矩阵，M为大于0的整数；以及基于能量范围落入N个能窗中的每个能窗的光子的数目、以及权重因子矩阵，获取M个输出通道的输出结果。
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