公开(公告)号：CN102589466A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201210014230.4

申请日：2012-01-17

Applicant: 浙江大学

Inventor： 匡翠方 ,  王轶凡 ,  刘旭

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种轮廓的显微方法和装置。装置包括激光器、单模光纤、第一准直透镜、第一偏振片、第一偏振分束器、四分之一波片、第二透镜、第三透镜、二分之一波片、第二偏振分束器、第一探测光纤、第二探测光纤、差分探测器、主控计算机、纳米平移台和用于放置待测样品的样品平台。本发明通过横向差分获得物体的轮廓像，有效提高系统的横向分辨率。本发明结构简单，横向分辨率提高显著，可以达到200nm以下，可用于光学显微领域以及纳米级别的高精度检测、测量和制造等领域。

公开(公告)号：CN103543135B

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201310493645.9

申请日：2013-10-18

Applicant: 浙江大学

Inventor： 匡翠方 ,  王轶凡 ,  刘旭 ,  修鹏 ,  方月

IPC: G01N21/64

Abstract: 本发明公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准方法，适用于具有脉冲激发光和连续损耗光的STED超分辨显微系统，首先对样品进行横向二维扫描，根据得到荧光寿命分布和荧光光斑进行横向对准，然后对单颗荧光颗粒进行轴向扫描成像，分析带有荧光强度与寿命分布的轴向二维图像，调节连续损耗光的发散度，完成光斑的轴向对准。本发明还公开了一种基于荧光寿命分布的纳米精度光斑对准装置。本发明装置结构简洁，方便快速高精度调整，无需因采用纳米金颗粒而添加额外探测光路；调节精度高，光斑对准精度可达纳米量级。

公开(公告)号：CN102589466B

公开(公告)日：2013-10-30

申请号：CN201210014230.4

申请日：2012-01-17

Applicant: 浙江大学

Inventor： 匡翠方 ,  王轶凡 ,  刘旭

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种轮廓的显微方法和装置。装置包括激光器、单模光纤、第一准直透镜、第一偏振片、第一偏振分束器、四分之一波片、第二透镜、第三透镜、二分之一波片、第二偏振分束器、第一探测光纤、第二探测光纤、差分探测器、主控计算机、纳米平移台和用于放置待测样品的样品平台。本发明通过横向差分获得物体的轮廓像，有效提高系统的横向分辨率。本发明结构简单，横向分辨率提高显著，可以达到200nm以下，可用于光学显微领域以及纳米级别的高精度检测、测量和制造等领域。