公开(公告)号：CN112812770A

公开(公告)日：2021-05-18

申请号：CN202110102312.3

申请日：2021-01-26

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 戴武斌 ,  樊烨明 ,  陈洋 ,  李孝斌 ,  吴锐敏 ,  刘凯 ,  徐慢

IPC: C09K11/62 ,  H01G9/20 ,  B82Y30/00 ,  B82Y20/00

Abstract: 本发明涉及一种锌掺杂Ag‑In‑S量子点发光材料及其制备方法和应用。首先按照化学计量比准备乙酸银、乙酸铟、硫粉和乙酸锌，然后将乙酸银、乙酸铟、乙酸锌与一定量1‑十八碳烯、油胺混合加热至160‑200℃，再加入由硫粉、油胺混合而成的硫前体溶液，保温反应一段时间后固液分离，得到掺杂量为5％‑30％的Ag‑In‑S量子点发光材料。按照本发明方法制得的量子点发光材料为类球形，平均直径为(5.0±0.5)nm，吸收强度较高，在可见光到近红外光区域均具有高发光强度，Zn2+的掺杂使其荧光量子产率从8.34％提高到32.90％，功率转换效率也得到了提高，在量子点敏化太阳能电池领域具有良好的应用前景。

公开(公告)号：CN116106406A

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN202111326942.5

申请日：2021-11-10

Applicant: 中铁大桥局集团有限公司 ,  武汉工程大学 ,  中铁大桥科学研究院有限公司

Inventor： 叶仲韬 ,  卢永雄 ,  胡俊亮 ,  王羽欣 ,  梅秀道 ,  马列同舟 ,  郭翠翠 ,  史雪峰 ,  伊建军 ,  王鸣辉 ,  李明 ,  王胡鹏 ,  王金霞 ,  刘凯 ,  池玉辰 ,  史晶 ,  喻越 ,  姚文凡 ,  张越 ,  陈鑫

IPC: G01N27/85

Abstract: 本申请涉及钢结构检测和无损检测技术领域，特别涉及一种快速检测钢桥桥面和U肋的扫描装置。该扫描装置包括行走机构，扫描仪和计步打标机构。其中，扫描仪包括横杆和多个检测探头，检测探头沿横杆的长度方向间隔分布，横杆设于行走机构上；计步打标机构位于行走机构上，计步打标机构与扫描仪相连接，并用于当检测探头检测到钢桥桥面或U肋存在缺陷时，在钢桥桥面上做标记。本发明通过提供一种快速检测钢桥桥面和U肋的扫描装置，以解决相关技术中钢桥桥面和U肋检测过程操作复杂，效率低的问题。

公开(公告)号：CN113735586A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202111005864.9

申请日：2021-08-30

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王恒 ,  曾义 ,  杨小晗 ,  李哲成 ,  刘凯 ,  徐慢

IPC: C04B35/563 ,  C04B35/80 ,  C04B35/622

Abstract: 本发明公开了一种氮化硼纳米管/纳米片‑碳化硼陶瓷复合材料及其制备方法。其制备为：在去离子水中依次加入表面活性剂和碳化硼粉体，混合均匀得碳化硼悬浮液，继续加入氮化硼纳米管/纳米片杂化粉体，搅拌、超声、冷冻干燥得到氮化硼纳米管/纳米片‑碳化硼复合粉体，最后置于氩气气氛下热压烧结，随炉冷却至室温，得到氮化硼纳米管/纳米片‑碳化硼陶瓷复合材料；其中氮化硼纳米管/纳米片杂化粉体为氮化硼纳米片上原位生长氮化硼纳米管形成的杂化结构。该方法所得陶瓷复合材料中，氮化硼纳米管/纳米片在碳化硼陶瓷复合材料中均匀分散，能同时发挥氮化硼纳米管和纳米片的强韧化优势及其多维度协同效应，显著提升碳化硼陶瓷材料的强度和韧性。

公开(公告)号：CN108961962B

公开(公告)日：2020-11-27

申请号：CN201810768436.3

申请日：2018-07-13

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 廖青 ,  王凤 ,  刘凯 ,  秦梅艳

IPC: G09B23/22 ,  G09B23/18

Abstract: 本发明公开了一种利用单光子单电离机制重构电场包络的方法，该方法包括以下步骤：S1、将测量到的单个阿秒脉冲与工作气体相互作用获得电子动量谱，对电子动量谱通过最小二乘法重构出阿秒脉冲的电场包络分布Eatto；S2、测量得到不同阿秒脉冲‑红外电场相对延时下产生的旁带信号和单光子电离信号的强度比；S3、根据步骤S1得到的阿秒脉冲电场包络分布Eatto，以及步骤S2得到的旁带信号和单光子电离信号的强度比，通过最小二乘法重建红外电场的包络EL0。本发明不仅能够反映出阿秒泵浦探测实验中电子的动力学过程，还能同时重构出阿秒脉冲电场的包络分布和红外电场的包络，且不依赖与阿秒脉冲和红外电场的载波包络相位。

公开(公告)号：CN110095805A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201910350379.1

申请日：2019-04-28

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 王凤 ,  廖青 ,  王哲 ,  张晓凡 ,  秦梅艳 ,  刘凯

IPC: G01T5/00

Abstract: 本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质，方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟，并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱，能实现对电子轨道半径的直接测量，方法理论简单，计算难度低，计算量小，精度高，突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈，意义深远。