公开(公告)号：CN107490586A

公开(公告)日：2017-12-19

申请号：CN201710351695.1

申请日：2017-05-18

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 杉田信治 ,  梅本勇治 ,  大西贵子

IPC: G01N23/04

Abstract: 不造成成本的增加和装置结构的限定地减轻X射线检查装置中因重复性误差而引起的三维数据的画质降低。一种X射线检查装置，包括：工作台，其通过电机的驱动使检查对象物、X射线源以及X射线照相机中的至少一者移动；位置检测单元，其定期获取所述电机的位置检测值，并将该位置检测值与时间相关联地存储；拍摄时刻获取单元，其将来自所述X射线照相机的拍摄时刻与时间相关联地存储；拍摄位置计算单元，其根据在拍摄时刻的所述电机的位置检测值，求得在拍摄时刻的所述检查对象物、所述X射线源以及所述X射线照相机之间的位置关系；以及重建单元，其使用由所述X射线照相机所拍摄的拍摄数据以及在该拍摄数据的拍摄时刻的所述位置关系进行重建处理。

公开(公告)号：CN116897602A

公开(公告)日：2023-10-17

申请号：CN202280015373.9

申请日：2022-01-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 大西贵子

IPC: H05K13/08

Abstract: 一种检查系统，其具有：1+n种拍摄单元，它们拍摄作为检查对象物的部件安装基板，取得图像数据；1+m种检查单元，它们根据所述1+n种拍摄单元分别取得的1+n种图像数据，实施与各所述图像数据对应的检查；检查适合度计算单元，其按照与安装于所述部件安装基板的各部件有关的每个检查项目，计算检查适合度，该检查适合度表示所述1+m种检查单元的1+m种检查分别相对于通过该检查项目检测异常的适合性；以及检查程序生成单，其根据所述检查适合度，按照与安装于所述部件安装基板的所述各部件有关的每个检查项目，决定有无分别实施所述1+m种检查。

公开(公告)号：CN116888429A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202280014916.5

申请日：2022-01-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 大西贵子

IPC: G01B11/24

Abstract: 一种检查系统，其具有：第一检查单元，其基于由第一拍摄单元对检查对象物进行拍摄得到的第一图像数据，实施第一检查；第二检查单元，其基于由与所述第一拍摄单元不同的第二拍摄单元对所述检查对象物进行拍摄得到的第二图像数据，实施第二检查；第一检查信息取得单元，其从所述第一检查单元取得包含所述第一检查的结果的第一检查信息；有效性判定单元，其基于规定的判定条件，判定由所述第二检查单元对所述检查对象物实施所述第二检查的有效性；以及第二检查实施决定单元，其基于所述有效性判定单元的判定内容，至少决定是否需要实施所述第二检查。

公开(公告)号：CN107843606B

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201710695078.3

申请日：2017-08-15

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 笠原启雅 ,  杉田信治 ,  大西贵子

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明提供一种针对在2D透射图像中难以检测的不良，也能够以短时间且低曝光来进行检查的技术。X线检查装置具有：3D处理部，只对被检查区域中的第一区域执行3D摄像；2D处理部，对被检查区域中的第二区域执行2D摄像；提取部，从第一区域的3D图像提取第一被检查物的3D信息，且从第二区域的2D图像提取第二被检查物的2D信息；3D信息推定部，基于由提取部所提取的第一被检查物的3D信息，推定第二被检查物的3D信息；以及检查部，使用第二被检查物的2D信息和所推定的3D信息，检查第二被检查物。

公开(公告)号：CN1885014B

公开(公告)日：2010-04-14

申请号：CN200610093124.4

申请日：2006-06-22

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森谷俊洋 ,  和田洋贵 ,  大西贵子 ,  清水敦 ,  仲岛晶

IPC: G01N21/956 ,  G01R31/309 ,  G01B11/24 ,  G06T7/00 ,  H05K13/08

CPC classification number: G01N21/8851 ,  G01N21/95684 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/30141

Abstract: 本发明提供可自动生成为在图像中确定相邻的2个部分之间的边界而使用的参数的技术。分别针对训练图像、对颜色采集区域设定多个图案，该颜色采集区域由用于采集第一部分的颜色的第一区域和用于采集第二部分的颜色的第二区域构成，关于颜色采集区域各自的图案，将第一区域内的各像素的颜色作为对象点、将第二区域内的各像素的颜色作为排除点，分别映射到色彩空间中，关于颜色采集区域各自的图案，计算色彩空间中的对象点分布和排除点分布的分离度，选择分离度为最大的颜色采集区域的图案，求出分割色彩空间的颜色范围，使得所选择出的图案中的对象点的数量和排除点的数量之差最大，将所求出的颜色范围设定为在基板检查处理中使用的颜色条件。

公开(公告)号：CN100472205C

公开(公告)日：2009-03-25

申请号：CN200610008388.5

申请日：2006-02-21

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森谷俊洋 ,  和田洋贵 ,  大西贵子 ,  清水敦 ,  仲岛晶

IPC: G01N21/956 ,  G01N21/88 ,  G01R31/309 ,  G01B11/24 ,  G06T7/00 ,  H05K13/08

Abstract: 基板检查方法和装置、及其检查逻辑设定方法和装置。本发明的课题是提供可以高速地且以较小的存储容量检查IC类部件的错位的技术。作为解决手段，预先存储检查逻辑，该检查逻辑包含规定检查对象部件的部件主体所呈现的颜色的颜色条件、以及判断条件，以不同的入射角对检查对象部件照射多种颜色的光，对其反射光进行拍摄，从而取得包含所述检查对象部件的部件主体的边缘的至少一部分的检查图像，使用所述颜色条件，通过图像处理，从所述检查图像中提取满足所述颜色条件的部件主体区域，通过图像处理确定所述部件主体区域的边缘，通过对所述边缘的特征量的值和所述判断条件进行比较，来判断所述检查对象部件是否为正确的位置和/或角度。

公开(公告)号：CN116745575A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202180087844.2

申请日：2021-03-08

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 大西贵子 ,  西贵行 ,  藤井心平 ,  笠原启雅 ,  狩田裕史 ,  森弘之

IPC: G01B11/24

Abstract: 一种计测系统，其具有：第1特征点数据生成单元，其根据包含计测对象物的规定部位进行拍摄得到的第1图像数据或基于该第1图像数据生成的第1形状数据生成第1特征点数据；第2特征点数据生成单元，其根据不同于所述第1图像数据的第2图像数据或第2形状数据生成第2特征点数据；以及计算单元，其基于所述第1特征点数据和所述第2特征点数据，计算所述第1图像数据与所述第2图像数据或者所述第1形状数据与所述第2形状数据中的所述计测对象的所述规定部位的位置的对应关系。

公开(公告)号：CN116739967A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202310205796.3

申请日：2023-03-03

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 望月葵 ,  藤井心平 ,  大西贵子

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/60 ,  G06T7/90 ,  G06Q10/0639 ,  G06Q50/04

Abstract: 本发明提供检查系统以及AI模型数据的管理方法，能够更容易地对生产线应用适当的AI模型。一种检查系统(1)，其在产品的生产线(100)中使用AI模型执行基于所述产品的图像数据的检查，所述检查系统(1)具有管理信息显示部(10c)，所述管理信息显示部(10c)显示与在产品的检查中使用的一个或多个AI模型的管理有关的信息，管理信息显示部(10c)能够显示与AI模型的规格有关的规格信息和与该AI模型的针对各种数据的性能有关的性能信息，性能信息包含AI模型的针对量产应用前的模型测试的性能和应用于量产时的性能。

公开(公告)号：CN115774656A

公开(公告)日：2023-03-10

申请号：CN202211016320.7

申请日：2022-08-24

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 大西贵子

IPC: G06F11/34

Abstract: 装置管理系统、装置的故障原因估计方法以及非暂时性地存储程序的存储介质，能够高精度地进行与计算机组合使用的装置的故障原因的估计。装置的管理系统具备：日志数据取得单元，其取得日志，所述日志是与所述装置的控制有关的软件的动作记录；聚类信息提取单元，其从取得的所述日志的集合中提取聚类信息以及聚类间迁移信息，所述聚类信息是表示与所述装置的运转有关的各步骤的内容的信息，所述聚类间迁移信息是与一个所述步骤和另一个所述步骤之间的迁移有关的信息；异常度计算单元，其计算所述提取出的各个所述聚类间迁移信息的异常度；以及故障原因估计单元，其基于由所述异常度计算单元计算出的所述异常度，估计所述装置的故障原因。

公开(公告)号：CN110045688B

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN201811202151.X

申请日：2018-10-16

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森弘之 ,  中岛克起 ,  田中真由子 ,  大西贵子 ,  中西功

IPC: G05B19/418

Abstract: 本发明提供一种将与检查装置中的检查内容的设定相关的信息保持为历史，使得所述信息能够容易地参照的检查管理系统、检查管理装置及检查管理方法。检查管理系统是对具有产品制造装置与检查装置的生产线中的所述检查装置的检查进行管理，其中包括：检查内容数据获取部件，获取包含每个零件的检查基准的检查内容数据；检查内容设定部件，设定检查内容；设定关联信息获取部件，在所述检查内容设定部件设定有新检查内容时，获取包含何时进行新检查内容的设定的设定关联信息；存储部件，将所述设定关联信息与检查内容的设定历史相关联地保持；设定关联信息读出部件，读出由所述存储部件保持的设定关联信息；以及输出部件，能输出至少所述设定关联信息。