公开(公告)号：CN110210580A

公开(公告)日：2019-09-06

申请号：CN201910583204.5

申请日：2019-07-01

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  张欣然

IPC: G06K9/62 ,  G01R31/316

Abstract: 本发明公开了一种基于云进化算法优化SVM的模拟电路故障诊断方法，包括基于CBEA-SVM的参数寻优的步骤：设定初始参数；产生初始群落作为第一代母体；适应度评估找到精英个体；判断是否出现跨代精英；母代繁殖后代个体以产生新的群落；直到到达指定进化代数后，输出最优适应度的个体。由于云进化算法的突变或局部求变操作；云模型本身的随机性和模糊性；期望Ex控制寻优过程的确定性，熵En和超熵He控制寻优过程的不确定性，因此，本发明可以避免SVM寻优过程中陷入局部最优，重复震荡等问题。

公开(公告)号：CN108828436A

公开(公告)日：2018-11-16

申请号：CN201810682201.2

申请日：2018-06-27

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  王存存

IPC: G01R31/316 ,  G06N3/00

Abstract: 本发明公开了一种基于混沌云自适应萤火虫算法的模拟电路故障诊断方法，包括以下步骤：对被测电路施加一定的测试激励，在电路的可测节点处采集待测电路的输出响应信号；对输出响应信号使用小波融合方法提取电路故障特征集；将故障特征集使用混沌云自适应萤火虫算法优化最小二乘支持向量机(CCAFA-LSSVM)进行故障诊断，以便实现电路故障的分类和定位操作。本发明采用了云模型能够处理事物模糊性和随机性的能力，对萤火虫算法进行了相应地改进，使得萤火虫算法具有良好的泛化能力和较强的鲁棒性。因此在进行故障诊断时，使得故障模式的分辨率高，诊断性能好，能够准确的对故障元件进行定位，从而提高了被测模拟电路的诊断性能和效率。

公开(公告)号：CN103310852A

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN201310174317.2

申请日：2013-05-13

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  金锋

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明公开了一种基于IEEE1500且兼容嵌入式SRAM和ROM存储器测试的测试结构及测试方法，该测试结构结合了嵌入式核测试标准IEEE1500和内建自测试（BIST）的方法，该测试结构支持对多个不同种类的嵌入式SRAM和ROM进行内建自测试。该结构由嵌入式SRAM和ROM的测试壳封装与MBIST控制器两部分构成。测试封装壳解决了嵌入式SRAM和ROM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题。MBIST控制器根据测试算法生成SRAM测试所需的测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果，通过MISR来完成对ROM中数据的数据压缩操作。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM和ROM存储器存在故障，有利于嵌入式SRAM和ROM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率，同时减少MBIST系统的硬件消耗。

公开(公告)号：CN102818986A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201210296485.4

申请日：2012-08-20

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 颜学龙 ,  黄新 ,  雷加 ,  陈寿宏 ,  李延平 ,  何峰 ,  尚玉玲 ,  马峻 ,  谈恩民

IPC: G01R31/3167 ,  G05B19/042

Abstract: 本发明为混合信号电路边界扫描测试系统及测试方法，本系统微机经微处理器连接混合信号电路边界扫描测试控制器的处理器接口。混合信号电路边界扫描测试控制器包括主机模块及经读写数据总线与之连接的各功能模块，其中模拟仪器平台的混合信号控制接口连接包括程控信号源和电压采集模块的模拟仪器平台。本测试方法包括数字信号和模拟信号电路的测试，前者与现有技术相同，后者步骤为Ⅰ配置信息，Ⅱ测试指令，Ⅲ发送测试矢量连接测试点，Ⅳ模拟激励控制，Ⅴ采集响应电压。对各种测试模型，重复Ⅲ-Ⅴ，由激励的大小及响应结果建立方程，求得被测电路的参数或性能指标。本发明解决了矢量施加、激励施加及电压采集的同步；实现混合信号电路在线测试。

公开(公告)号：CN102809934A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201210297138.3

申请日：2012-08-20

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 黄新 ,  陈寿宏 ,  雷加 ,  李延平 ,  何峰 ,  尚玉玲 ,  马峻 ,  谈恩民 ,  颜学龙

IPC: G05B19/042 ,  G01R31/3167

Abstract: 本发明为混合信号电路边界扫描测试控制器，包括主机模块及经读写数据总线与主机模块连接的计数模块、命令模块、测试时钟分频器、通用寄存器组、模拟寄存器组、串行扫描模块和模拟仪器平台控制模块，并配有处理器接口和测试总线接口。模拟仪器平台控制模块配有混合信号控制接口，该接口连接产生电压/电流激励信号的程控信号源和采集被测电路响应信号的电压采集器。主机模块的处理器接口连接微处理器。串行扫描模块配有两组测试总线接口，混合信号控制接口为SPI接口、与模拟仪器平台连接。本控制器便于组装混合信号电路边界扫描测试系统进行数字/模拟边界扫描测试，解决了数字矢量施加、模拟测试激励施加及电压采集三者的同步问题。

公开(公告)号：CN114330194A

公开(公告)日：2022-04-12

申请号：CN202111673183.X

申请日：2021-12-31

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  李莹

IPC: G06F30/367 ,  G06N3/00

Abstract: 本发明公开了一种基于SFO优化深度极限学习机的模拟电路故障诊断方法，包括输入数据；数据预处理；将训练集样本作为深度极限学习机（DELM）的输入，对其进行训练；以测试集分类错误率作为适应度函数，通过旗鱼算法（SFO）找到一组最优的基于极限学习机的自动编码器（ELM‑AE）的初始权重，并且优化这个初始权重，再使用优化的ELM‑AE训练DELM模型，使得DELM错误率最低；通过步骤四返回最优的初始权重参数，然后利用优化得到的权重训练DELM模型，构建最优的DELM模型；利用最优的DELM模型对故障进行分类。该方法相比没有优化的DELM来说，SFO优化的DELM的诊断准确率有所提高，证明了隐藏层参数的选择影响着诊断精度，而且SFO算法有比较好的全局搜索能力。

公开(公告)号：CN113156303A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN202110531222.6

申请日：2021-05-16

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  阮济民 ,  李莹

IPC: G01R31/316

Abstract: 本发明公开了一种基于输出响应矩阵特性分析的模拟电路故障诊断和定位法，本发明通过使用矩阵的特性谱半径和最大奇异值来对模拟电路进行故障诊断，这种方法不需要深入讨论电路的内部特性，只需要测量电路的输出响应就可以进行故障诊断；通过比较无故障输出响应矩阵与故障输出响应矩阵之间的差异，可以诊断故障；通过计算矩阵谱半径和扰动矩阵最大奇异值，可以识别故障，且效果显著，模拟电路故障诊断的故障诊断率高达100％，相对于人工智能只能算法的模拟电路故障诊断而言，本发明完全不需要大量的样本集，可以节约模拟电路故障诊断的时间，为模拟电路故障诊断提供了一种新的方法；能快速有效地处理模拟电路故障诊断的定位问题。

公开(公告)号：CN113076708A

公开(公告)日：2021-07-06

申请号：CN202110349866.3

申请日：2021-03-31

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  阮济民 ,  黄顺梅

IPC: G06F30/3308 ,  G06K9/62 ,  G01R31/316

Abstract: 本发明公开了基于优化矩阵随机森林算法的模拟电路故障诊断方法，包括1）通过电路原理图完成仿真实验，测量出不同设定值元器件的原始数据；2）将测量的原始数据做局部均值分解，得到一个优化后的矩阵；3）将优化后的矩阵进行运算，得到降维后的输出电压矩阵；4）将步骤3）得到的输出电压矩阵进行均等划分，一部分作为训练集，用来得到决策树参数的最优解；另一部分作为测试集；5）将步骤4）中的测试集数据输入到步骤4）已经训练好的寻找到最优解的决策树，通过已经获得最优解参数的随机森林算，得到故障诊断率。本方法是使用一种算法完成了特征提取和特征分类，在节约大量时间的同时也节约了测试成本。

公开(公告)号：CN102945163A

公开(公告)日：2013-02-27

申请号：CN201210418187.8

申请日：2012-10-29

Applicant: 桂林电子科技大学 ,  中国科学院深圳先进技术研究院

Inventor： 谈恩民 ,  王炜 ,  李烨 ,  李洪刚

IPC: G06F9/44

Abstract: 本发明公开了一种用于嵌入式系统的信号槽结构，分为上下两层，上层为信号槽模块，下层为内存池模块，信号槽模块使用散列表对信号和槽进行管理，内存池模块用于创建内存池，给信号槽模块提供必要的内存用以存储信号和槽的相关数据，并且在信号和槽解除关联的时候回收所占用的内存。内存池模块通过建立一棵平衡二叉树（AVL树）对内存块进行管理，并基于伙伴（buddy）算法对内存进行分配和回收。本发明应用在嵌入式系统中能够有效的组织和管理信号和槽，并且查找对应信号的槽的时间复杂度为很小，无需像传统方法那样遍历整个函数列表查找目标函数，提高了函数的调用效率，能实现系统组件化编程并提高各个组件间的通信效率。

公开(公告)号：CN102332306A

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：CN201110197542.9

申请日：2011-07-15

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 谈恩民 ,  马江波

IPC: G11C29/08

Abstract: 本发明公开了一种基于IEEE 1500的嵌入式SRAM存储器测试结构及测试方法。该测试结构结合了嵌入式核测试标准IEEE 1500和内建自测试（BIST）的方法。嵌入式SRAM测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成。测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题。SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障，有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率。