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公开(公告)号:CN107710787B
公开(公告)日:2019-12-06
申请号:CN201680038034.7
申请日:2016-05-16
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 在静电电容检测型的超声波换能器中,由于超声波换能器的单元阵列的各单元的膜状物的膜厚偏差,导致单元阵列内的单元的器件特性变得不均匀。超声波换能器具备CMUT芯片(301),CMUT芯片(301)包括:形成有多个单元的单元阵列区域CAR;以及与单元阵列区域CAR相邻接的周边区域PER,在单元阵列区域CAR配置梁结构体(201),并且在周边区域PER配置相当于梁结构体(201)的多个图案结构体(311)。由此,将单元阵列区域CAR的单位表面积和周边区域PER的单位表面积的差减小。其结果,能够提高覆盖梁结构体(201)和图案结构体(311)的绝缘膜的膜厚的均匀性。
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公开(公告)号:CN109152568A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201780027702.0
申请日:2017-07-06
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: A61B8/14
Abstract: 电容检测型超声波换能器(111A)具备硅基板(101)、形成于硅基板(101)上的绝缘膜(102)、下部电极(103)、绝缘膜(104、106)、由在绝缘膜(106)的一部分所形成的空隙构成的空洞部(105)、上部电极(107)、绝缘膜(108、114)以及保护膜(109)。另外,空洞部(105)的上部的绝缘膜(106)、上部电极(107)、绝缘膜(108)、以及绝缘膜(114)构成振动膜(110),振动膜(110)的上部的保护膜(109)被分割成隔开固定间隔的间隙(115)而规则性地排列的多个独立图案。
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公开(公告)号:CN103350064B
公开(公告)日:2016-12-28
申请号:CN201310065801.1
申请日:2008-01-23
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: B06B1/0292 , A61B8/00 , A61B8/4483 , A61B2562/028
Abstract: 本发明公开了一种静电容量式传感器以及超声波摄像装置。对cMUT元件阵列赋予均一并且稳定的特性,实现声学特性的提高。在元件(102)中追加设置用于切断元件的移位、振动以及信号收发的信号切断部,该元件(102)位于作为能够进行通常的收发的传感器而被设计并制造的、cMUT元件的二维阵列(101)的最外周部或端部的位置。
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公开(公告)号:CN103350064A
公开(公告)日:2013-10-16
申请号:CN201310065801.1
申请日:2008-01-23
CPC classification number: B06B1/0292 , A61B8/00 , A61B8/4483 , A61B2562/028
Abstract: 本发明公开了一种静电容量式传感器以及超声波摄像装置。对cMUT元件阵列赋予均一并且稳定的特性,实现声学特性的提高。在元件(102)中追加设置用于切断元件的移位、振动以及信号收发的信号切断部,该元件(102)位于作为能够进行通常的收发的传感器而被设计并制造的、cMUT元件的二维阵列(101)的最外周部或端部的位置。
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