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公开(公告)号：CN1532543A
公开(公告)日：2004-09-29
申请号：CN03155132.7
申请日：2003-08-22
Applicant: 株式会社日立制作所 , 警察厅科学警察研究所长
CPC classification number: G01N33/0044 , G01N27/68 , H01J49/04
Abstract: 本发明的目的在于提供一种适用于硫磺芥子气和路氏毒气1探测的化学剂探测装置及探测方法，该装置具有探测化学剂的速度快、误报率低、探测化学剂的种类全和无人连续监测的特点。在本发明中，探测装置由取入样品并加热的样品导入部1、使从样品导入部1来的样品离子化的离子化部2、质量分析部3和解析数据的计算机6构成。当利用计算机6辨认出硫磺芥子气或路氏毒气1所特有的规定信号时，可以确定该样品。
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公开(公告)号：CN114096825B
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202080050377.1
申请日：2020-06-17
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N1/02
Abstract: 为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。
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公开(公告)号：CN105223043B
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201510607660.0
申请日：2011-11-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
Abstract: 提供一种微粒捕获装置，具备：吸气部，其吸取从对象剥离的试样；微粒浓缩部，其为圆锥状，对由所述吸气部吸取且从所述圆锥状的大半径侧导入的所述试样进行浓缩，在设置于所述圆锥状的小半径侧的微粒捕获过滤器中捕获所述试样；加热部，其对所述微粒捕获过滤器进行加热；第一泵，其从所述圆锥状的所述大半径部侧吸取气流；第二泵，其间隔所述微粒捕获过滤器地被设置在所述圆锥状的相反侧，从所述圆锥状的所述小半径部侧吸取气流，并且容量比所述第一泵小；排出部，其通过来自所述第二泵的吸取，排出来自所述微粒捕获过滤器捕获到的所述试样的气流；以及控制部，其至少控制所述第一泵的动作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103221812B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201180054607.2
申请日：2011-11-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
Abstract: 提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时，实时地进行分析的方法。利用来自送气部（5）的气流使附着在认证对象（2）上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离，吸取剥离的试样，在微粒捕获部（10）中进行浓缩来捕获，在离子源部（21）中生成试样的离子，在质量分析部（23）中进行质量分析。从得到的质量光谱中，判定是否有来自检测对象物质的质量光谱，并将该结果显示在显示部（27）中，由此，对附着在认证对象（2）上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。
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公开(公告)号：CN101335177B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810109182.0
申请日：2008-05-23
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/4225 , G01N27/622
Abstract: 本发明提供一种离子阱、质量分析计、离子迁移率分析计，其课题在于提供一种小型、廉价、简便的质量分析单元，其能够应用可以实现无需在以往的质量分析方法中必须的高真空的低真空中的动作、小型且电极个数少并且形状易于加工、进而无需电子倍增管等放大的检测离子电流的离子检测方法。在该真空区域中以往使用离子迁移率分析单元，但通过本方式可以提供新的质量分析手段，可以针对各种应用显著地提高分析精度。使用在本发明中公开的一维离子阱。基于一维离子阱的质量分析单元可以囚禁大量的离子，可以提供能够在低真空中动作的质量分析方式，所以可以实现不使用高真空的质量分析单元。
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公开(公告)号：CN114096825A
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202080050377.1
申请日：2020-06-17
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N1/02
Abstract: 为了稳定地回收附着于检查对象物的附着物，特征为具备：向上喷射气体的喷嘴(111)；具备喷射气体的开口部的上表面(105)；回收向检查对象物(C)喷出的气体的回收口；以及检测检查对象物(C)是否接触了上表面(105)的接触检测传感器(130)，通过气体收集附着于检查对象物(C)的附着物，喷嘴(111)的前端的高度与上表面(105)的高度大致相同，或者为上表面(105)的高度以下，在上表面(105)设置有凹部(121)，凹部(121)相对于喷嘴(111)的喷射口(112)设置在回收口侧，并且与喷嘴(111)的喷射口(112)相接，或者包含喷嘴(111)的喷射口(112)。
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公开(公告)号：CN111902710A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201980021602.6
申请日：2019-03-01
Applicant: 株式会社日立制作所
Abstract: 为了在不将微粒分析装置停止、分解的情况下清洗微粒分析装置的内部，该微粒分析装置的特征在于，具有：旋流集尘装置(14)；一级过滤器(16)，其与旋流集尘装置(14)的下游连接，并被加热；气体分析装置(31)，其与一级过滤器(16)连接；气体配管部，其将旋流集尘装置(14)与气体分析装置(31)连接，并设置有一级过滤器(16)；以及清洗气体导入装置(21)，其向气体配管部中的一级过滤器(16)的下游以及旋流集尘装置(14)中的至少一方导入清洗气体，在至少清洗一级过滤器(16)的清洗模式时，与利用气体分析装置(31)进行微粒的分析的分析模式时相比从清洗气体导入装置(21)导入的清洗气体的流量上升。
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公开(公告)号：CN103221812A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201180054607.2
申请日：2011-11-08
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: H01J49/0422 , G01N1/2211 , G01N1/2214 , G01N33/0057 , G01N2001/028 , H01J49/00 , H01J49/0036 , H01J49/04 , H01J49/0459 , H01J49/0468 , Y02A50/25
Abstract: 提供一种在对微粒连续地回收浓缩的同时，实时地进行分析的方法。利用来自送气部（5）的气流使附着在认证对象（2）上的检测对象物质的气体和/或微粒剥离，吸取剥离的试样，在微粒捕获部（10）中进行浓缩来捕获，在离子源部（21）中生成试样的离子，在质量分析部（23）中进行质量分析。从得到的质量光谱中，判定是否有来自检测对象物质的质量光谱，并将该结果显示在显示部（27）中，由此，对附着在认证对象（2）上的检测对象物质进行连续、实时、迅速且误报低的检测。
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