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公开(公告)号：CN109690307A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201680088774.1
申请日：2016-08-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N27/62
Abstract: 光学图像形成部(23)基于通过拍摄试样(S)的表面而得到的数据来形成与关注区域对应的光学图像，成像图像制作部(22)基于针对关注区域内的各测定点得到的质谱数据来制作表示所指定的m/z值的离子的空间分布的成像图像。图像叠加处理部(25)根据用户的指示来制作由光学图像与规定的m/z值的成像图像叠加而成的图像，显示处理部(26)将该图像显示在显示部(6)的画面中。当用户进行规定的操作时，显示处理部(26)显示用于调整光学图像的明亮度和对比度的设定画面，根据该画面中的操作，图像参数调整部(24)独立于成像图像地变更叠加图像中的光学图像的明亮度及对比度。由此，即使在拍摄到的光学图像过于明亮的情况下，也能够显示易于看到成分的空间分布等的叠加图像。
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公开(公告)号：CN102683149B
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201210035543.8
申请日：2012-02-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
CPC classification number: H03M7/3059 , H01J49/0004 , H01J49/0036
Abstract: 本发明涉及质量分析数据处理方法和质量分析数据处理系统，能够在保持原始的通过对质量分析数据进行行程编码所获得的压缩数据的数组的同时，快速获得压缩数据中的期望m/z值处的强度值。通过将原始谱数据数组中零强度连续出现两次以上的部分的开始位置或原始谱数据数组中强度值有意义的数据的序列的开始位置与压缩数据数组中的相应位置配对来创建索引。将该索引与压缩数据分开地存储在存储区域中。索引的创建不会影响压缩数据数组。因此，即使通过不使用该索引的数据处理系统也可以解压缩该数据。索引有助于快速定位与期望m/z相对应的压缩数据并获得所需的强度值。
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公开(公告)号：CN104112643A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201410163234.8
申请日：2014-04-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/40
CPC classification number: H01J49/0036 , H01J49/0004
Abstract: 提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或者外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或者外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行用于统计解析的峰值矩阵制作等处理。
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公开(公告)号：CN102194642A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110041262.9
申请日：2011-02-18
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/0009
Abstract: 本发明涉及质谱仪。当试样板(3)安置在试样台(2)上时，照射痕迹形成控制器(22)适当移动试样台，并且投射高功率激光束的短脉冲以在试样板的预定位置产生照射痕迹。该照射痕迹具有独有的形状。获取照射痕迹的显微图像并将该显微图像保存在图像存储部(32)中。在将试样板从台(2)临时取出以对试样施加基质之后，将试样板再次安置在试样台上。然后，根据拍摄于该时间点的图像和先前存储在图像存储部(32)中的图像之间照射痕迹的位置的差来计算试样板相对于其原始位置的位移。基于该计算结果，分析位置校正器(24)修正操作员选择的区域的位置信息。因而，可以精确地检测再次安置的试样板的位移。无需使用为了创建位移检测用标记而预先处理过的特殊的试样板。
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公开(公告)号：CN118019986A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202280065135.9
申请日：2022-09-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N35/00
Abstract: 控制装置具备：输入部，接受通过有向图设计的实验方案的输入；生成部，生成依存关系列表，所述依存关系列表包含示出第2节点的处理的开始依存于第1节点的处理的完成这一情况的第1依存信息；选择部(步骤S115)，基于依存关系列表，从多个节点中选择使处理开始的节点；指令部(步骤S117)，对实验装置指示所选择的节点的处理；以及更新部(步骤S121)，在多个节点的处理中的任一个已完成的情况下，更新依存关系列表，在第1节点的处理已完成的情况下，更新部将第1依存信息从第1信息更新为第2信息(步骤S121)，在第1依存信息从第1信息更新为第2信息的情况下，选择部选择第2节点(步骤S113、步骤S115)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111952145B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN202010799402.8
申请日：2014-04-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/00
Abstract: 提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行峰值矩阵制作等处理。
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公开(公告)号：CN112189136A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201880093689.3
申请日：2018-06-01
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
Abstract: 在质谱数据中将规定水平以下的强度值设为无效数据之后，按每规定个数的数据对由强度值按m/z的顺序排列而成的非压缩数据数组进行划分来进行区块化。针对每个块，在从块的开头起、有效的强度值依次连续的情况下，将该连续数和各强度值分别作为数据进行压缩，在无效数据连续的情况下，将该连续数作为数据进行压缩。然后，收集压缩后的各块的开头的数据的数组编号，来制作索引，并与压缩数据一起保存。在根据压缩数据求出与特定m/z值对应的强度值时，参照m/z值的数组数据来调查非压缩数据数组上的特定m/z值的数组编号，并且参照索引来调查包含该数组编号的块的开头在压缩数据数组上的数组编号。然后，从所确定的块的开头起依次抽出连续数的数据并加上连续数，同时搜索与目标m/z值对应的强度值。由此，能够在短时间内找到与目标m/z值对应的强度值。
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公开(公告)号：CN107068530B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201610848369.7
申请日：2014-04-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: H01J49/00
Abstract: 提供成像质量分析数据处理方法以及成像质量分析装置，简化进行统计解析以比较从多个试样分别得到的成像质量分析数据的作业，提高该解析的精度。在想比较的两个试样的成像质量分析数据的测量点间隔不同、还想比较物质的空间分布扩展的尺寸时，以一个数据为基准重新定义另一个数据的测量点间隔以使测量点间隔一致，通过基于实际测量点的质谱的内插或外插求出设定的虚拟测量点的质谱。在各试样的质谱的m/z值阵列不同时，以一个数据的质谱的m/z值的位置为基准对另一个数据的质谱通过内插或外插求出基准m/z值的强度值。使测量点间隔、m/z值阵列一致而能够整合数据，作为一个成像质量分析数据进行处理而能简单地进行峰值矩阵制作等处理。
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公开(公告)号：CN102194642B
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201110041262.9
申请日：2011-02-18
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: H01J49/0004 , H01J49/0009
Abstract: 本发明涉及质谱仪。当试样板(3)安置在试样台(2)上时，照射痕迹形成控制器(22)适当移动试样台，并且投射高功率激光束的短脉冲以在试样板的预定位置产生照射痕迹。该照射痕迹具有独有的形状。获取照射痕迹的显微图像并将该显微图像保存在图像存储部(32)中。在将试样板从台(2)临时取出以对试样施加基质之后，将试样板再次安置在试样台上。然后，根据拍摄于该时间点的图像和先前存储在图像存储部(32)中的图像之间照射痕迹的位置的差来计算试样板相对于其原始位置的位移。基于该计算结果，分析位置校正器(24)修正操作员选择的区域的位置信息。因而，可以精确地检测再次安置的试样板的位移。无需使用为了创建位移检测用标记而预先处理过的特殊的试样板。
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公开(公告)号：CN102683149A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210035543.8
申请日：2012-02-16
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 池上将弘
CPC classification number: H03M7/3059 , H01J49/0004 , H01J49/0036
Abstract: 本发明涉及质量分析数据处理方法和质量分析数据处理系统，能够在保持原始的通过对质量分析数据进行行程编码所获得的压缩数据的数组的同时，快速获得压缩数据中的期望m/z值处的强度值。通过将原始谱数据数组中零强度连续出现两次以上的部分的开始位置或原始谱数据数组中强度值有意义的数据的序列的开始位置与压缩数据数组中的相应位置配对来创建索引。将该索引与压缩数据分开地存储在存储区域中。索引的创建不会影响压缩数据数组。因此，即使通过不使用该索引的数据处理系统也可以解压缩该数据。索引有助于快速定位与期望m/z相对应的压缩数据并获得所需的强度值。
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