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公开(公告)号：CN110383368A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201780087994.7
申请日：2017-03-15
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山中成继
IPC: G09G3/3233 , G09G3/20
Abstract: 使用具有在水平方向和垂直方向上呈正弦波状或余弦波状变化的部分的图像数据作为电流测量图案。电流测量部(22)测量从显示部(11)内的全部的有机EL元件流向电源布线(16)的电流。电流分布图案生成部(24)通过对在依次显示电流测量图案时测量出的多个电流值进行二维离散傅里叶逆变换，从而生成电流分布图案。视频信号修正部(27)根据电流分布图案以及视频信号的累计加和来修正视频信号V1。由此，估计有机EL元件的特性劣化的程度，从而防止显示画面的亮度不均。
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公开(公告)号：CN104919517A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201380070623.X
申请日：2013-12-25
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/14 , G09G3/2011 , G09G3/3225 , G09G3/3233 , G09G3/3258 , G09G3/3283 , G09G2300/08 , G09G2300/0842 , G09G2320/0233 , G09G2320/0271 , G09G2320/045 , G09G2320/046 , G09G2320/0633 , G09G2340/02 , H01L51/50
Abstract: 本发明的目的在于能够使显示装置中保存补偿用数据(为了补偿驱动晶体管的特性的偏差等而使用的数据)所需要的存储器容量比以往减少。在驱动晶体管使用了氧化物TFT的有机EL显示装置中设置有：从作为驱动晶体管的驱动电流的数据的像素电流数据(I)中提取低频成分数据(IL)的低通滤波器(421)；用于通过求出像素电流数据(I)与低频成分数据(IL)的差值来得到高频成分数据(IH)的第一运算部(422)；以规定的采样间隔从低频成分数据(IL)提取数据的下采样部(426)；和仅提取高频成分数据(IH)中的高振幅数据的高频信号压缩处理部(427)。
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公开(公告)号：CN106537488B
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201580037723.1
申请日：2015-07-16
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山中成继
CPC classification number: G11B20/18 , G09G3/3233 , G09G3/36 , G09G5/00 , G09G5/024 , G09G5/026 , G09G2320/0233 , G09G2320/029 , G09G2320/0295 , G09G2320/041 , G09G2320/043
Abstract: 初始电流比计算部(25)基于数据线驱动/电流测定电路(14)的电流测定结果，对每个像素求出作为相对于初始电流的比的初始电流比。发光电流效率计算部(26)基于测定的动作温度和初始电流比，参照LUT(22)，对每个像素求出发光电流效率。第一校正部(31)基于电流测定结果和发光电流效率，对视频信号(D1)按每个像素进行考虑了每个像素的特性的校正。第二校正部(32)基于发光电流效率的2维分布，对每个像素求出考虑了与附近像素之间的发光电流效率的差异的校正项。对由第一校正部(31)校正后的视频信号加上由第二校正部(32)求出的校正项，求出校正后的视频信号(D2)。由此，使像素区域的边界的亮度差减少。
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公开(公告)号：CN108369792A
公开(公告)日：2018-08-03
申请号：CN201680072618.6
申请日：2016-12-13
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G09G3/3233 , G09G3/20 , G09G3/30
Abstract: 本发明的目的在于实现一种可以抑制耗电量的增大且可以抑制因光电学元件的温度的劣化(发光效率的降低)引起的亮度降低的显示装置。有机EL显示装置中设有如下结构：像素电路驱动部，其进行测量电路元件的特性的特性测量处理且驱动像素电路；参数表(230)，其保存基于在特性测量处理得到的监测数据(MO)的参数值；补偿演算处理部(260)，其基于保存在参数表(230)的参数值校正从外部发送的图像数据(VDb)，由此生成应向像素电路提供的影像数字信号(VDa)；温度传感器(120)，其检测温度；监测控制部(250)，其对应于检测温度控制特性测量处理的实施频率。检测温度越高，监测控制部(250)提高特性测量处理的实施频率。
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公开(公告)号：CN105339998B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201480035619.4
申请日：2014-07-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G3/006 , G09G2300/0404 , G09G2300/0842 , G09G2310/021 , G09G2310/0218 , G09G2310/08 , G09G2320/0295 , G09G2320/043 , G09G2320/045
Abstract: 在为了补偿电路元件的劣化而采用外部补偿技术的显示装置中，能够防止由噪声引起的补偿精度的下降。该显示装置包括具有利用电流控制亮度的电元学元件和用于控制要供给该电光学元件的电流的驱动晶体管的像素电路，该显示装置的驱动方法包括：测定噪声的噪声测定步骤(S110)；检测驱动晶体管和电光学元件的特性的特性检测步骤(S130、S140)；基于特性检测步骤中的检测结果，更新用于修正视频信号的修正数据的修正数据更新步骤(S150)；和基于修正数据修正视频信号的视频信号修正步骤(S160)。当在噪声测定步骤(S110)中检测出基准值以上的噪声时，不进行修正数据更新步骤(S150)的处理。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105144274B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201480022852.9
申请日：2014-03-04
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/30 , G09G3/3241 , G09G3/3266 , G09G2300/0426 , G09G2310/0202 , G09G2310/0251 , G09G2310/0275 , G09G2320/0285 , G09G2320/045 , G09G2330/021 , G09G2330/027 , G09G2330/028 , G09G2330/12
Abstract: 数据线驱动电路(120)对像素电路(11)内的驱动晶体管(T1)的栅极‑源极间供给与检测用电压和基准电压(Vref)相应的电压，对通过驱动晶体管(T1)输出到像素电路(11)的外部的驱动电流进行检测。阈值电压修正存储器(142)按每个像素电路(11)存储表示驱动晶体管T1的阈值电压的数据。显示控制电路(100)基于阈值电压修正存储器(142)中存储的数据，控制基准电压(Vref)。由此，即使驱动晶体管的阈值电压变化，也能够以高精度检测驱动电流。阈值电压修正存储器(142)按每个像素电路(11)存储表示驱动晶体管(T1)的阈值电压与基准电压(Vref)之差的数据。
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公开(公告)号：CN103339666B
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201280006210.0
申请日：2012-01-26
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山中成继
IPC: G09F9/00 , G02F1/1333 , G02F1/1335 , G09F9/40
CPC classification number: F21V11/00 , G02F1/13336 , G02F1/133526 , G02F2001/133331 , G09F9/35
Abstract: 多显示系统（10）具备：多个显示面板（100），其隔着边界部（20）相互相邻地配置；以及透光性罩（113），其设置在多个显示面板（100）上，以跨越相邻地配置的多个显示面板（100）两者而覆盖边界部（20）的方式配置。透光性罩（113）包括：支撑部（113P），其覆盖边界部（20）以外的显示面板的至少一部分；以及具有凹部（113C）的部分，上述凹部（113C）是与支撑部（113P）连续的部分，在与边界部（20）相对的位置形成在观察者侧。
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公开(公告)号：CN105339998A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201480035619.4
申请日：2014-07-29
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G3/006 , G09G2300/0404 , G09G2300/0842 , G09G2310/021 , G09G2310/0218 , G09G2310/08 , G09G2320/0295 , G09G2320/043 , G09G2320/045
Abstract: 在为了补偿电路元件的劣化而采用外部补偿技术的显示装置中，能够防止由噪声引起的补偿精度的下降。该显示装置包括具有利用电流控制亮度的电元学元件和用于控制要供给该电光学元件的电流的驱动晶体管的像素电路，该显示装置的驱动方法包括：测定噪声的噪声测定步骤(S110)；检测驱动晶体管和电光学元件的特性的特性检测步骤(S130、S140)；基于特性检测步骤中的检测结果，更新用于修正视频信号的修正数据的修正数据更新步骤(S150)；和基于修正数据修正视频信号的视频信号修正步骤(S160)。当在噪声测定步骤(S110)中检测出基准值以上的噪声时，不进行修正数据更新步骤(S150)的处理。
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公开(公告)号：CN101903934B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN200880122157.4
申请日：2008-10-09
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 山中成继
CPC classification number: G09G3/3233 , G09G2300/0852 , G09G2310/0262 , H01L27/3262
Abstract: 本发明包括：显示元件(306)，该显示元件(306)的发光亮度被电流控制；至少一个第一开关元件部(304)，该第一开关元件部(304)的、相对于作为灰度信号的输入变量的输出电流特性呈现饱和特性；以及至少一个第二开关元件部(305)，该第二开关元件部(305)的、相对于作为灰度信号的输入变量的输出电流特性呈现线性特性，输出由所述第一开关元件部(304)决定的电流的第一电流路径、与输出由所述第二开关元件部(305)决定的电流的第二电流路径汇合，并与所述显示元件(306)的电流路径连接。通过这样，提供一种能够在预定的驱动器输出范围内充分确保足以进行通常灰度显示用的电压范围、并且能够产生更高的峰值亮度的像素电路及显示装置。
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公开(公告)号：CN108369792B
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN201680072618.6
申请日：2016-12-13
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G09G3/3233 , G09G3/20 , G09G3/30
Abstract: 本发明的目的在于实现一种可以抑制耗电量的增大且可以抑制因光电学元件的温度的劣化(发光效率的降低)引起的亮度降低的显示装置。有机EL显示装置中设有如下结构：像素电路驱动部，其进行测量电路元件的特性的特性测量处理且驱动像素电路；参数表(230)，其保存基于在特性测量处理得到的监测数据(MO)的参数值；补偿演算处理部(260)，其基于保存在参数表(230)的参数值校正从外部发送的图像数据(VDb)，由此生成应向像素电路提供的影像数字信号(VDa)；温度传感器(120)，其检测温度；监测控制部(250)，其对应于检测温度控制特性测量处理的实施频率。检测温度越高，监测控制部(250)提高特性测量处理的实施频率。
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