公开(公告)号：CN104434161A

公开(公告)日：2015-03-25

申请号：CN201410465791.5

申请日：2014-09-12

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 舟木英之 ,  木村俊介 ,  河田刚 ,  板仓哲朗 ,  古田雅则

IPC: A61B6/03 ,  G05B19/042

CPC classification number: H04N5/32 ,  H03M1/145 ,  H03M1/46 ,  H03M1/60 ,  H04N5/378

Abstract: 本发明公开了信号处理设备与信号处理方法。根据一实施例，信号处理设备包括积分器、第一模拟数字转换器、和直方图创建器。积分器配置为对与电磁波对应的电荷进行积分。第一模拟数字转换器配置为，与由积分器执行的积分操作并行地，执行模拟数字转换操作，该模拟数字转换操作使用来自积分器的积分输出来生成电荷的数字数据。直方图创建器配置为根据由第一模拟数字转换器生成的数字数据来创建表示电磁波的能量分布的直方图。

公开(公告)号：CN105448941A

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201510530580.X

申请日：2015-08-26

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 宫崎崇 ,  藤原郁夫 ,  饭田义典 ,  木村俊介 ,  舟木英之

IPC: H01L27/146

Abstract: 本发明实施方式的半导体装置具有多个像素。所述多个像素分别包括光电转换部、第一杂质扩散区、电压供给线、第二杂质扩散区、电位障壁部和检测部。第一杂质扩散区对由所述光电转换部光电转换出的电荷进行保持。第二杂质扩散区与所述电压供给线相连接。电位障壁部在所述第一杂质扩散区与所述第二杂质扩散区之间形成恒定的电位障壁，限制电荷在所述第一杂质扩散区与所述第二杂质扩散区之间移动。检测部检测所述第一杂质扩散区所保持的电荷。

公开(公告)号：CN104237926A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201410255409.8

申请日：2014-06-10

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 佐佐木启太 ,  木村俊介

IPC: G01T1/20 ,  G01J1/42 ,  G01J11/00

CPC classification number: G01T1/248 ,  G01J1/44 ,  G01T1/1647 ,  G01T1/2018

Abstract: 本发明公开一种光探测器和计算断层摄影装置。根据实施例的光探测器包括：包括以阵列排列的多个第一单元的第一单元阵列和包括以阵列排列的多个第二单元的第二单元阵列的光探测器元件单元，第一和第二单元的每一个包括光电转换元件，第二单元阵列被布置为邻近第一单元阵列；分析从第一单元阵列输出的电信号的脉冲高度的第一脉冲高度分析单元；分析从第二单元阵列输出的电信号的脉冲高度的第二脉冲高度分析单元；以及使用第一脉冲高度分析单元的输出信号和第二脉冲高度分析单元的输出信号来确定进入第一和第二单元阵列的光子分布的非均匀性的信号处理单元。