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    使用光的缺陷检查方法及其装置
    11.
    发明授权
    使用光的缺陷检查方法及其装置 失效

    公开(公告)号：CN1115555C

    公开(公告)日：2003-07-23

    申请号：CN97111442.0

    申请日：1997-05-22

    Applicant: 松下电器产业株式会社

    Inventor： 高本健治 ,  西井完治 ,  伊藤正弥 ,  福井厚司 ,  高田和政

    IPC: G01N21/88 ,  G01B11/00

    CPC classification number: G01N21/8903

    Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理，以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分，确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。

    光学部件的检查方法以及检查装置
    13.
    发明授权
    光学部件的检查方法以及检查装置 失效

    公开(公告)号：CN1800803B

    公开(公告)日：2010-05-12

    申请号：CN200610005790.8

    申请日：2006-01-06

    Applicant: 松下电器产业株式会社

    Inventor： 高田和政 ,  宇津吕英俊 ,  古田宽和 ,  浦岛毅吏

    IPC: G01M11/02

    CPC classification number: G01M11/0271

    Abstract: 提供一种能够高精度地评价光学部件的性能的检查方法。检查方法中，根据透射光学部件(18)的光(16)，形成具有不同相位的第1和第2光(24)、(26)，使第1和第2光产生干涉形成干涉区域(30)。在干涉区域(30)，设定直线(66)、直线(70)、直线(72)，求出各直线(72)上的光强度的分布。而且，求出与最大的光强度对应的频率。进而，根据针对直线(72)各自所求出的多个频率，求出近似直线或者近似曲线。并且，基于近似的直线或者曲线的系数评价光学部件的像差。

    光学编码器及位置检测方法
    14.
    发明授权
    光学编码器及位置检测方法 失效

    公开(公告)号：CN1151361C

    公开(公告)日：2004-05-26

    申请号：CN97105514.9

    申请日：1997-05-20

    Applicant: 松下电器产业株式会社

    Inventor： 高田和政 ,  西井完治 ,  高本健治 ,  伊藤正弥 ,  福井厚司 ,  来住知久

    IPC: G01D5/38

    CPC classification number: G01D5/38

    Abstract: 一种光学编码器。它借助移动板及固定板上多个轨道中各光栅栅距不同的相位型衍射光栅产生干涉光，用光接收部检测光的强弱获得不同同步的多个同步信号。另用光接收部检测移动板上聚光元件产生的光斑，每转一圈产生一个脉冲的基准位置。取多个同步信号中同步最短的信号作为对应于移动板移动量的A/B相信号并取基准位置信号与多个同步信号的逻辑积作为表示移动板原点的Z相信号，以获得与A/B相信号中一个脉冲同步的Z相信号。

    液晶显示用背照光
    15.
    发明授权
    液晶显示用背照光 失效 转让

    公开(公告)号：CN1103060C

    公开(公告)日：2003-03-12

    申请号：CN97113011.6

    申请日：1997-04-05

    Applicant: 松下电器产业株式会社

    Inventor： 福井厚司 ,  西井宪治 ,  高本健治 ,  伊藤正弥 ,  高田和政

    IPC: G02F1/1335

    CPC classification number: G02B6/0031 ,  B60Q3/14 ,  B60Q3/16 ,  B60Q3/64 ,  G02F1/133615

    Abstract: 一种液晶显示用背照光，它包括荧光灯(1)，使从荧光灯(1)射出的光朝向液晶元件射出的光导体(2)，以及使从荧光灯(1)射出的光朝向光导体(2)中的入射部反射的反射板(3)，上述光导体(2)中的入射部(4)呈楔形，该楔形由第1面(4a)和第2面(4b)按5°～30°的夹角交叉形成。上述荧光灯(1)设置于与光导体(2)中的入射部(4)的第2面(4b)相对的位置。反射板(3)具有沿光导体(2)中的入射部(4)的第1面(4a)延伸的第1直线部分(3a)，沿第1直线部分(3a)的一端呈抛物线延伸的抛物线部分(3b)，沿光导体(2)中的入射部(4)的第2面(4b)延伸的第2直线部分(3c)。

    测定与光学装置一起使用的光学元件象差的方法和装置
    19.
    发明公开
    测定与光学装置一起使用的光学元件象差的方法和装置 失效

    公开(公告)号：CN1244657A

    公开(公告)日：2000-02-16

    申请号：CN99111149.4

    申请日：1999-07-27

    Applicant: 松下电器产业株式会社

    Inventor： 高田和政 ,  中城正裕 ,  西井完治

    IPC: G01M11/02

    CPC classification number: G01M11/0271

    Abstract: 一种测定与诸如DVD的光学系统一起使用的光学元件如光学头象差的方法。在此方法中,光束透过光学元件并衍射成如0,±1,±2级衍射光。其中,第一和第二光束(如0和+1,0和－1,+1和－1,或0或±1级衍射光)叠加形成第一和第二光束共有的一个图象。然后测得在共有图象中第一和第二点处的光强度。此时,使第一和第二点处的光强变化。之后测得第一和第二点之间光强的相位差。利用相位差判定光学元件的象差。

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