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公开(公告)号:CN1892842A
公开(公告)日:2007-01-10
申请号:CN200610100057.4
申请日:2006-06-27
Applicant: 日本电气株式会社
CPC classification number: G11B7/26 , G11B7/24038
Abstract: 在一种通过照射激光束在其上执行信息的记录操作或再现操作的光学信息记录介质中,具有通过间隔层提供的两个记录层。对于沿圆周方向的每一个单位长度,间隔层的膜厚度变化Δd的绝对值等于或小于预定值,其中,根据激光束的波长、在波长λ中间隔层的折射系数、以及激光束的直线速率与在每一个所述记录层中记录的凹坑序列的最短凹坑长度的之一来确定所述预定值。
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公开(公告)号:CN1707635A
公开(公告)日:2005-12-14
申请号:CN200510070234.4
申请日:2003-04-08
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718
Abstract: 在具有为了进行信息的记录、再生而以点状照射的光的跟踪用的引导沟的基板(1)上设置有记录层(2)以及光穿透层(3),从光穿透层(3)侧对记录层(2)照射点状光,在对应于引导沟内部(G)的记录层的第一部分(G′)以及对应于相互邻接的引导沟间平坦部(L)的记录层的第二部分(L′)的两方上进行记录。当将光的波长作为λ,并将波长λ下的光穿透层(3)的折射率作为nf时,第一部分(G′)相对于记录层(2)的光穿透层侧的面的第二部分(L′)的深度d满足λ/5.8nf≤d≤λ/5nf的关系。记录层(2)在记录后,比记录前其反射率加大。
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公开(公告)号:CN1707632A
公开(公告)日:2005-12-14
申请号:CN200510075515.9
申请日:2005-06-02
CPC classification number: G11B7/00456 , G11B7/1263 , G11B7/1267 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10481 , G11B2220/2537
Abstract: 在使用PRML识别系统的光盘系统中,提供了一种短时间内得出最佳记录波的方法。利用适合于PRML识别系统的信号评估方法得到的评估值作为指标来调整记录波的参数。在这种情况下,作为参数调整方法,可以使用多种调整方法(S1-S3,S5)。
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公开(公告)号:CN101568960A
公开(公告)日:2009-10-28
申请号:CN200780044658.0
申请日:2007-12-05
Applicant: 日本电气株式会社
CPC classification number: G11B19/125 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/00745 , G11B2007/0006
Abstract: 本发明是提供一种光盘装置,其具有光头部、驱动单元、和记录面状态判别单元,并根据信息记录面的状态来判定光盘的种类。信息记录面包括:记录管理信息并具有由引导槽或预制坑列所形成的轨道的管理区域;和记录用户数据并具有由引导槽或预制坑列所形成的轨道的数据记录区域。光头部,向旋转的光盘的信息记录面照射聚光束。驱动单元驱动光头部,在光盘的径向方向上移动聚光束。记录面状态判别单元,根据聚光束的反射光来判别信息记录面的状态。光盘装置,根据横跨该管理区域和数据记录区域而设定的判定区域内的信息记录面的状态,来判定光盘的种类。
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公开(公告)号:CN100419891C
公开(公告)日:2008-09-17
申请号:CN200310124906.6
申请日:2003-12-17
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10055 , G11B20/1012 , G11B20/10296 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/218
Abstract: 为了评价记录在光盘媒体上的信号品质,从规定的数据串和规定的部分响应特性求出目标信号,在每个时钟周期计算出作为该目标信号与各时钟周期的再生信号的差异的均衡误差。进一步,求出计算出的不同时刻的均衡误差的积,基于该均衡误差的积来评价信号品质。
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公开(公告)号:CN100403423C
公开(公告)日:2008-07-16
申请号:CN03807950.X
申请日:2003-04-08
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718
Abstract: 在具有为了进行信息的记录、再生而以点状照射的光的跟踪用的引导沟的基板(1)上设置有记录层(2)以及光穿透层(3),从光穿透层(3)侧对记录层(2)照射点状光,在对应于引导沟内部(G)的记录层的第一部分(G’)以及对应于相互邻接的引导沟间平坦部(L)的记录层的第二部分(L’)的两方上进行记录。当将光的波长作为λ,并将波长λ下的光穿透层(3)的折射率作为nf时,第一部分(G’)相对于记录层(2)的光穿透层侧的面的第二部分(L’)的深度d满足λ/5.8nf≤d≤λ/5nf的关系。记录层(2)在记录后,比记录前其反射率加大。
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公开(公告)号:CN1316486C
公开(公告)日:2007-05-16
申请号:CN200410005877.6
申请日:2004-02-20
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
CPC classification number: G11B7/243 , G11B7/257 , G11B7/258 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , Y10S430/146
Abstract: 光学信息记录介质,其包括第一透明衬底,激光束穿过该衬底而进入,还包括沉积在该第一透明衬底上的第一信息记录层、在第一信息记录层上形成的第一反射膜、沉积在第一反射膜上的中间层、在该中间层上形成的第二信息记录层、沉积在第二信息记录层上的第二反射膜,以及配置在第二反射膜上的第二衬底。第一和第二信息记录层中的每个信息记录层的记录膜的主要成份由(GeTe)xSb2-yInyTe3表示,并且其成份比例在0.04≤y<2和4≤x≤8的范围之内。
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公开(公告)号:CN1647176A
公开(公告)日:2005-07-27
申请号:CN03807950.X
申请日:2003-04-08
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718
Abstract: 在具有为了进行信息的记录、再生而以点状照射的光的跟踪用的引导沟的基板(1)上设置有记录层(2)以及光穿透层(3),从光穿透层(3)侧对记录层(2)照射点状光,在对应于引导沟内部(G)的记录层的第一部分(G’)以及对应于相互邻接的引导沟间平坦部(L)的记录层的第二部分(L’)的两方上进行记录。当将光的波长作为λ,并将波长λ下的光穿透层(3)的折射率作为nf时,第一部分(G’)相对于记录层(2)的光穿透层侧的面的第二部分(L’)的深度d满足λ/5.8nf≤d≤λ/5nf的关系。记录层(2)在记录后,比记录前其反射率加大。
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公开(公告)号:CN1637915A
公开(公告)日:2005-07-13
申请号:CN200410090142.8
申请日:2004-10-29
Applicant: 日本电气株式会社
IPC: G11B20/10
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/10055 , H04L25/03038
Abstract: 一种信息回放设备,包括第一FIR滤波器、理想信号生成器、加权均衡误差计算器和系数计算器。第一FIR滤波器通过将通过对记录在信息记录介质上的所记录信号进行回放而获得的回放数据串均衡为部分响应波形,来生成均衡波形。理想信号生成器生成用作均衡目标的目标波形。加权均衡误差计算器根据回放数据串、从第一FIR滤波器输入的均衡波形和从理想信号生成器输入的目标波形之一,通过对作为均衡波形和目标波形之差的均衡误差执行卷积计算,来计算出数据串。根据从加权均衡误差计算器输入的数据串,系数计算器计算出第一FIR滤波器的抽头系数,并且将抽头系数输出到第一FIR滤波器。本发明还公开了信息回放方法。
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公开(公告)号:CN1628343A
公开(公告)日:2005-06-15
申请号:CN03801908.6
申请日:2003-02-05
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 大久保修一
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B20/10009
Abstract: 通过在光记录介质上照射以与时钟周期同步的记录信号为基础生成的记录脉冲波形的激光,在该光记录介质上形成记录标记组群。通过读出该记录标记组群获得再生波形。用比时钟周期短的周期对该再生波形采样。评估该再生波形的线性度以调整记录条件以及使记录策略最佳。为此,线性插补被采样的再生波形的样本值,并对再生波形的样本值进行平均。
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