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公开(公告)号:CN114564397B
公开(公告)日:2025-05-09
申请号:CN202210185716.8
申请日:2022-02-28
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/3668
Abstract: 本发明公开一种基于控制约束的访存测试程序生成方法,包括以下步骤:步骤1、生成控制核心运行的程序,在其中声明可操作的地址空间大小以及首地址,并生成计算核心的代码段;步骤2、生成计算核心访存测试程序,将计算核心的访存首地址设置成控制程序申请的可操作首地址;步骤3、在计算核心访存地址遍历生成时,进行地址访存序列的控制生成;步骤4、根据步骤3中获得的参数,形成对应的测试程序。本发明面向国产向众核异构处理器实现满足约束条件的随机访存测试,另外能够根据访存策略进行定制,对处理器的存储一致性实现有针对性的验证测试,实现了合法且随机的访存测试程序生成。
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公开(公告)号:CN112445528B
公开(公告)日:2022-09-13
申请号:CN201910805780.X
申请日:2019-08-29
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明公开一种基于流水线约束的结果自校验指令序列填充方法,包括以下步骤:S1、对指令集合进行信息提取;S2、循环读取下一条指令;S3、对指令进行格式解析,S4、解析当前读取的指令,选择不在当前指令将要执行的流水线上且执行延迟为1拍的N‑1条指令;S5、随机选择满足条件的指令编号,创建CNF范式;S6、约束求解;S7、如果求解结果不满足,继续S5重新选择下一指令进行约束求解,否则继续下一步;S8、对求解结果进行解析,形成完整指令,并填充到当前指令序列末尾;S9、N‑1条指令已经全部生成则跳转至S3,否则跳转至S5继续。本发明既满足压力测试又能够对结果进行正确性校验,保证在设计阶段既能够对功耗进行测试也能够对正确性进行测试,避免测试盲区,还具有很好的适用性。
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公开(公告)号:CN105487958B
公开(公告)日:2018-04-10
申请号:CN201510830351.X
申请日:2015-11-24
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种处理器内部行为监测方法,包括:执行处理器对于性能事件计数器的保留恢复处理;其中,在处理器进程调度与切换过程中,在操作系统层进行切换进程之前,采用软件方式对处理器性能计数器的内容予以保留与转储,在处理器完成对性能计数器寄存器复位完成之后,再恢复上述计数器的内容;运行支持处理器性能事件计数器保留恢复处理的操作系统;实现处理器单个性能事件的性能计数监测;实现处理器批量性能事件的性能计数监测。
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公开(公告)号:CN105446841A
公开(公告)日:2016-03-30
申请号:CN201510830049.4
申请日:2015-11-24
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/263
CPC classification number: G06F11/2205 , G06F11/2247 , G06F11/2294 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供了一种缓存一致性测试方法,包括:主进程申请一个共享空间;由主进程创建出多个子进程;在该共享空间中划分出四个共享空间部分;由主进程对读操作和写操作访问的内存块号进行排列,使读操作和写操作访问的内存地址不重叠,而且使所述多个子进程进入同步接口;在所述多个子进程同步成功后,读取所述排列好的序列,让所述主进程和所述多个子进程同时进行读写操作;在所述主进程和所述多个子进程的读写操作都完成后,每个进程对自己访问的读空间和写空间分别用异或操作来计算权值,并且比较读操作和写操作访问的内存的权值。
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公开(公告)号:CN102981799A
公开(公告)日:2013-03-20
申请号:CN201210440796.3
申请日:2012-11-06
Applicant: 无锡江南计算技术研究所
IPC: G06F7/58
Abstract: 本申请提供了一种浮点随机数的生成方法,包括:设定浮点随机数的生成区间、生成起点及生成个数;依据所述生成区间及所述生成个数确定取数跨步参数;以所述生成起点为初始点,所述取数跨步参数为选取标准,在所述生成区间中依次选取浮点数;当选取的浮点数个数与所述生成个数相等时,停止取数;将选取的浮点数序列进行乱序操作,生成浮点随机数。与所述方法相对应的,本申请还提供了一种浮点随机数的生成系统。本申请实施例提供的浮点随机数生成方法及系统,通过设定不同的操作参数使得产生的浮点随机数的跨度均匀,产生的随机数可以覆盖到不同的数量级,随机数的随机性强。
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