半导体存储装置和测试方法

    公开(公告)号:CN1767053B

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200510099973.6

    申请日:2005-09-12

    Inventor: 高井康浩

    Abstract: 一种半导体存储装置,具有进行如下控制的电路:把缺陷单元的刷新周期设得比正常单元的刷新周期短,在输入的控制信号为某第1值时,在对与刷新指令对应而生成的第1地址的单元进行刷新时,在根据在刷新冗长ROM中预先程序化了的信息,预定的规定比特的值与所述第1地址不同的第2地址被判断为缺陷单元的场合,对所述第2地址的单元也进行刷新,在输入的控制信号为第2值时,与刷新指令对应而生成的第1地址的单元不进行刷新,在根据预先程序化了的信息,预定的规定比特的值与所述第1地址不同的第2地址被判断为缺陷单元的场合,只对所述第2地址进行刷新。

    半导体集成电路装置和延迟锁定环装置

    公开(公告)号:CN1406003A

    公开(公告)日:2003-03-26

    申请号:CN02142432.2

    申请日:2002-09-19

    Inventor: 高井康浩

    CPC classification number: G11C7/1066 G11C7/22 G11C7/222 G11C11/4076

    Abstract: 本发明提供了一种DLL电路及半导体集成电路装置。DLL电路2包括:延迟电路21、22,输入分频时钟CLK2,并延迟;相位检测器23,对分频时钟和延迟电路22的输出的相位差进行检测;计数器24,输出使延迟电路21、22的输出抽头切换的信号;延迟电路31、32,输入分频时钟CLK2,并延迟;多路复用器35A,输入延迟电路31、32的输出OUTR、OUTF,并输出信号CLKOE;伪多路复用器36,输入CLKOE,并具有与多路复用器4相同的延迟时间;伪缓冲器37,具有与输出缓冲器5相同的延迟时间;伪缓冲器38,具有与输入缓冲器相同的延迟时间。DLL电路3包括:相位检测器33,对输入缓冲器的输出CLK1和缓冲器38的输出的相位差进行检测;计数器34,输出使延迟电路31、32的输出抽头切换的信号。

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