-
-
公开(公告)号：CN1838266A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200510089048.5
申请日：2005-08-03
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B20/18 , G03H1/04
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0065 , G11B7/00781 , G11B7/24044
Abstract: 全息记录介质是通过以信息光束和参考光束照射来记录和再现数据的介质。该介质包括：用于记录用户数据的用户区域；和用于存储校准数据的校准区域，所述校准数据用于校准确定记录和再现装置的记录和再现特性的要素，所述记录和再现装置用于在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据。存储在校准区域中的校准数据包括模式信息，所述模式信息用于测量确定记录和再现装置的记录和再现特性的要素。
-
公开(公告)号：CN1835092A
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：CN200510079853.X
申请日：2005-06-29
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/00
CPC classification number: G11B7/0065 , G11B7/00781
Abstract: 本发明提供了一种光学记录介质的再现装置、记录/再现装置和再现方法。用于光学记录介质的再现装置包括：参考光束照射器，用于利用参考光束照射其上通过全息术记录了信息的光学记录介质，以产生再现光束；能够被部分读取的二维图像拾取设备，该设备接收再现光束；部分读取控制器，用于控制二维图像拾取设备上的信息的部分读取；以及信息处理器，用于通过使用被部分读取的信息来执行预定处理。
-
公开(公告)号：CN1577520A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410006057.9
申请日：2004-02-27
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 金冈利知
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/0053
Abstract: 本发明公开了一种光盘及其使用的盘驱动。所述光盘包括记录区域，该记录区域被分成环形的带，并进而被分成扇区。每个扇区包括交替的沟槽和岸，并且它们都作为数据记录的轨道。每个沟槽都包括地址区，在其中数据以同相双抖颤记录。地址区域包括地址选择数据记录部分和个别地址数据记录部分。地址选择数据记录部分存储了用于选择一个个别地址数据记录部分的数据，以从所选择的记录部分读取个别地址数据。
-
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101499806B
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN200810185675.2
申请日：2008-12-19
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: H03M13/2927 , G11B20/1833 , G11B20/1866 , G11B2020/1836 , G11B2020/1843 , G11B2020/185 , G11B2220/2516 , G11B2220/2537 , H03M13/098 , H03M13/1102 , H03M13/1515 , H03M13/271 , H03M13/2721 , H03M13/2778 , H03M13/2906 , H03M13/2918 , H03M13/2921 , H03M13/293 , H03M13/2957
Abstract: 本发明涉及编码装置、解码装置、编/解码装置以及记录/再现装置。一种不增大电路规模而进行纠错的纠错装置。一种编码器，该编码器包括：第一ECC编码器，其按照每m(m≥2)比特而将数据串交织成n(n≥2)块数据串，并添加纠错码奇偶校验；奇偶校验编码器，其按照所述纠错码字的每多个比特而生成奇偶校验比特，并将所述奇偶校验比特添加到所述纠错码字；以及第二ECC编码器，其生成作为利用迭代解码的线性编码的第二纠错编码。由于生成了其中向每多个比特添加奇偶校验比特的级联型编码数据，所以即使将数据串交织成多个块并生成纠错码奇偶校验，也能够防止电路规模的增大。
-
公开(公告)号：CN100573674C
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200610002195.9
申请日：2006-01-18
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/24 , G03H1/04
CPC classification number: G03H1/02 , G03H1/0236 , G03H1/182 , G03H1/26 , G03H2001/0264 , G03H2223/12 , G03H2250/33 , G03H2250/37 , G03H2260/30 , G03H2270/54 , G11B7/0065 , G11B7/24044 , G11B7/261
Abstract: 根据本发明的全息记录介质包括全息材料层，在该全息材料层中，通过使用与要记录的信息相对应的信息光和用于读取所记录信息的参考光对相同区域进行照射，来记录信息。所述全息材料层被多个遮光壁分为多个记录区。所述遮光壁由不透射漂白光的材料形成，该漂白光要施加给已执行了记录处理并且要固定所记录信息的记录区。
-
公开(公告)号：CN100466067C
公开(公告)日：2009-03-04
申请号：CN03826590.7
申请日：2003-08-29
Applicant: 富士通株式会社
Inventor： 金冈利知
IPC: G11B7/005 , G11B7/0045 , G11B7/09 , G11B20/10
CPC classification number: G11B20/22 , G11B7/005 , G11B7/094 , G11B7/0956 , G11B7/1263 , G11B7/1267 , G11B11/10515 , G11B11/10576 , G11B11/10595 , G11B20/10009 , G11B20/10046 , G11B20/18 , G11B2020/1062 , G11B2020/1457
Abstract: 一种用于产生具有改进质量的再现信号的数据再现设备。该数据再现设备包括：相差检测部件(153)，用于确定再现对象的轨道上的头部模式和再现信号之间的互相关；互相关器(166，167)用于确定与再现对象轨道相邻的轨道上的头部模式和再现信号之间的互相关；以及串扰检测部件(168)，用于从所述互相关确定串扰方向和串扰比。或者，数据再现设备具有相关功能，用于根据相差检测部件(153)所确定的相差和相关来校正再现信号的偏移和增益。
-
公开(公告)号：CN101256805A
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN200810002069.2
申请日：2008-01-09
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B5/09 , G11B5/4555 , G11B20/10203 , G11B2005/0029 , G11B2220/2516
Abstract: 本发明提供了一种垂直磁记录介质的检查方法及其检查装置。该检查装置通过精确地分离并检测介质噪声成分而将垂直磁记录介质的介质噪声成分分离出来以减小差错率，从而检查垂直磁记录介质的性能。利用相关矩阵，从根据磁头的再生波形而获得的垂直磁记录介质的介质噪声中分离并检测依赖于磁迁移点的抖动噪声和T50噪声，以及添加到DC成分中的DC噪声。通过将DC噪声成分的基矩阵添加到用于检测介质噪声成分的噪声功率的线性表达式，利用最小二乘法与依赖于磁迁移点的波动的其他介质噪声分离地检查DC噪声。
-
公开(公告)号：CN100392731C
公开(公告)日：2008-06-04
申请号：CN200510089048.5
申请日：2005-08-03
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B20/18 , G03H1/04
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0065 , G11B7/00781 , G11B7/24044
Abstract: 全息记录介质是通过以信息光束和参考光束照射来记录和再现数据的介质。该介质包括：用于记录用户数据的用户区域；和用于存储校准数据的校准区域，所述校准数据用于校准确定记录和再现装置的记录和再现特性的要素，所述记录和再现装置用于在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据。存储在校准区域中的校准数据包括模式信息，所述模式信息用于测量确定记录和再现装置的记录和再现特性的要素。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
24
records
(took 0.025 seconds)
