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公开(公告)号：CN114047578B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202210032807.8
申请日：2022-01-12
Applicant: 季华实验室
IPC: G02B6/125
Abstract: 本申请属于光波导技术领域，公开了一种波导层和交叉波导；该波导层包括垂直相交的两支波导，两支波导的形状和尺寸相同且中心点重合；波导为双轴对称结构，其对称轴包括沿长度方向经过中心点的第一对称轴和沿宽度方向经过中心点的第二对称轴，第一对称轴与第二对称轴垂直；波导包括变宽部和两个分别设置在变宽部两端的等宽部，等宽部的任何横截面上的宽度均相同，变宽部的侧边沿点到所述第二对称轴的距离与该侧边沿点到第一对称轴的距离之间存在特定关系；该交叉波导包括该波导层；从而该波导层和交叉波导可在1310nm光通信波段有效降低传输损失和串扰。
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公开(公告)号：CN114152627A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202210120120.X
申请日：2022-02-09
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于检测技术领域，公开了一种芯片电路缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测芯片的实际图像；把实际图像分割为多个第一实际图像条；对各第一实际图像条进行二值化处理，得到对应的第二实际图像条；提取第二实际图像条的各列像素点的像素值生成多个实际列向量数组；对比包含电路图像信息的实际列向量数组和相应的标准列向量数组，并根据对比结果进行电路缺陷情况判断和缺陷区域定位；标准列向量数组是根据待测芯片的标准图像生成的列向量数组；在待测芯片存在电路缺陷时，根据缺陷区域定位结果生成带有缺陷特征标记的电路检测图像；从而可自动化并快速准确地检测芯片电路缺陷情况，且不会损伤芯片表面。
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公开(公告)号：CN114114565A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202210100508.3
申请日：2022-01-27
Applicant: 季华实验室
IPC: G02B6/42
Abstract: 本申请属于光集成技术领域，公开了一种半导体激光器准直器件，包括衬底、半导体激光器芯片和条形光波导，半导体激光器芯片和条形光波导均设置在衬底的上表面；还包括设置在衬底的上表面的平板光波导，所述半导体激光器芯片的发射端和所述条形光波导的入射端分别与所述平板光波导的侧面贴壁连接；所述平板光波导包括椭圆弧形的全反射镜，所述全反射镜具有两个焦点，所述半导体激光器芯片的发射端设置在所述全反射镜的其中一个焦点处，所述条形光波导的入射端设置在所述全反射镜的另一个焦点处，所述全反射镜用于把入射光束全部反射到所述条形光波导的入射端；该半导体激光器准直器件可降低半导体激光器芯片和条形光波导之间的耦合损耗。
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公开(公告)号：CN114755756A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210442144.7
申请日：2022-04-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 一种基于平面光波导的微腔光学滤波器，包括衬底、脊形芯层光波导、平面芯层光波导以及在平面芯层光波导内的四个反射曲面镜；所述脊形芯层光波导和平面芯层光波导设置在衬底上表面，脊形芯层光波导上设有输入端口、下降端口和直通端口，输入端口的宽度和输入光波的宽度一致，直通端口用于滤波后的目标光波输出，下降端口用于滤波后其他波长的光波输出；所述四个反射曲面镜构筑成平面微纳微腔，使得通过脊形芯层光波导进入平面芯层光波导的光波在平面微纳微腔内被循环反射并发生共振实现滤波。本发明通过平面芯层光波导和脊形芯层光波导的配合以及平面微纳微腔的共振滤波，较于传统的基于脊形光波导的光学滤波器，具有更加优异的综合性能。
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公开(公告)号：CN114413799B
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210342294.0
申请日：2022-04-02
Applicant: 季华实验室
IPC: G01B11/30
Abstract: 本申请提供了一种芯片基板翘曲检测方法、系统、装置及电子设备，涉及芯片检测技术领域，其技术方案要点是：在芯片基板上的芯片进行加工操作之后，对芯片基板上的反光片进行照射，使反光片产生反射光斑照射在幕布上；获取反射光斑的第一状态信息，第一状态信息至少包括反射光斑的第一位置信息、第一形状信息、第一亮度信息中的任意一种；获取芯片进行加工操作前反射光斑的第二状态信息，第二状态信息至少包括反射光斑的第二位置信息、第二形状信息、第二亮度信息中的任意一种；根据反射光斑的第一状态信息和第二状态信息判断芯片基板的翘曲类型以及翘曲程度。本申请提供的一种芯片基板翘曲检测方法、系统、装置及电子设备具有检测效率高的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114047578A
公开(公告)日：2022-02-15
申请号：CN202210032807.8
申请日：2022-01-12
Applicant: 季华实验室
IPC: G02B6/125
Abstract: 本申请属于光波导技术领域，公开了一种波导层和交叉波导；该波导层包括垂直相交的两支波导，两支波导的形状和尺寸相同且中心点重合；波导为双轴对称结构，其对称轴包括沿长度方向经过中心点的第一对称轴和沿宽度方向经过中心点的第二对称轴，第一对称轴与第二对称轴垂直；波导包括变宽部和两个分别设置在变宽部两端的等宽部，等宽部的任何横截面上的宽度均相同，变宽部的侧边沿点到所述第二对称轴的距离与该侧边沿点到第一对称轴的距离之间存在特定关系；该交叉波导包括该波导层；从而该波导层和交叉波导可在1310nm光通信波段有效降低传输损失和串扰。
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公开(公告)号：CN114755756B
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202210442144.7
申请日：2022-04-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 一种基于平面光波导的微腔光学滤波器，包括衬底、脊形芯层光波导、平面芯层光波导以及在平面芯层光波导内的四个反射曲面镜；所述脊形芯层光波导和平面芯层光波导设置在衬底上表面，脊形芯层光波导上设有输入端口、下降端口和直通端口，输入端口的宽度和输入光波的宽度一致，直通端口用于滤波后的目标光波输出，下降端口用于滤波后其他波长的光波输出；所述四个反射曲面镜构筑成平面微纳微腔，使得通过脊形芯层光波导进入平面芯层光波导的光波在平面微纳微腔内被循环反射并发生共振实现滤波。本发明通过平面芯层光波导和脊形芯层光波导的配合以及平面微纳微腔的共振滤波，较于传统的基于脊形光波导的光学滤波器，具有更加优异的综合性能。
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公开(公告)号：CN114695254A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210608078.6
申请日：2022-05-31
Applicant: 季华实验室
IPC: H01L21/768 , H01L21/56 , H01L21/60 , G03F7/00
Abstract: 本申请属于集成电路制造技术领域，公开了一种集成电路制备方法，包括步骤：A1.通过微纳结构压印技术在一载板上形成最下层的线路层；A2.循环执行至少一次以下步骤：A201.通过微纳结构压印技术在上一层线路层上设置具有导电结构的第二介电层，所述导电结构用于导通相邻的两层线路层；A202.通过微纳结构压印技术在所述第二介电层上设置下一层线路层；A3.在最上层的线路层上贴装芯片，并进行塑封；A4.拆除所述载板，并对最下层的线路层进行植球处理；从而能够提高集成电路的生产效率并降低生产成本。
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公开(公告)号：CN114324600B
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202210204086.4
申请日：2022-03-03
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N29/06
Abstract: 本发明属于超声波检测技术领域，特别涉及一种用于检测酒瓶表面孔径缺陷的无损检测方法及装置。无损检测方法包括以下步骤：在酒瓶表面涂覆耦合剂；选取酒瓶相对应的三维模型；根据当前测试酒瓶的部位选取对应形状的检测探头；将检测探头贴合酒瓶表面并对其表面发射超声波进行检测；检测探头采集酒瓶表面的检测数据，对检测数据进行预处理并识别缺陷；对判定为缺陷的位置标定在三维模型相对应的位置上。本发明提供的一种用于检测酒瓶表面孔径缺陷的无损检测方法及装置能够对酒瓶的表面进行无损检测，检测到的缺陷标定在相对应的三维模型上供检测人员参考辨认，提高操作便利性，采用超声波检测效率高、结果可靠。
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公开(公告)号：CN114152627B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202210120120.X
申请日：2022-02-09
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于检测技术领域，公开了一种芯片电路缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过获取待测芯片的实际图像；把实际图像分割为多个第一实际图像条；对各第一实际图像条进行二值化处理，得到对应的第二实际图像条；提取第二实际图像条的各列像素点的像素值生成多个实际列向量数组；对比包含电路图像信息的实际列向量数组和相应的标准列向量数组，并根据对比结果进行电路缺陷情况判断和缺陷区域定位；标准列向量数组是根据待测芯片的标准图像生成的列向量数组；在待测芯片存在电路缺陷时，根据缺陷区域定位结果生成带有缺陷特征标记的电路检测图像；从而可自动化并快速准确地检测芯片电路缺陷情况，且不会损伤芯片表面。
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