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公开(公告)号:CN117390169A
公开(公告)日:2024-01-12
申请号:CN202311691157.9
申请日:2023-12-11
Applicant: 季华实验室
IPC: G06F16/332 , G06F40/211 , G06F40/289 , G06F40/30 , G06F16/33 , G06F16/35
Abstract: 本发明涉及数据对话问答技术领域,尤其涉及表格数据问答方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取历史表格数据并提取其中的历史名称信息,以微调预构建的大语言模型;获取待处理表格数据并提取其中的待处理名称信息,将待处理名称信息输入至微调后的大语言模型中,得到三元关系预测结果;基于三元关系预测结果构建无向图,以获取元概念;基于待处理表格数据、三元关系预测结果和元概念构建知识图谱;获取实时反馈的问题并进行预处理,得到预处理信息,基于预处理信息匹配搜索所构建的知识图谱,根据匹配结果获取预设的问答大语言模型反馈的、问题的回答;本发明公开的方法,可提升大语言模型对表格数据的提取能力,减少大语言模型的幻觉。
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公开(公告)号:CN116887650A
公开(公告)日:2023-10-13
申请号:CN202310828999.8
申请日:2023-07-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种有机晶体膜器件的熔融态相转变制备方法,应用于喷墨打印机,方法包括:在加热板上放置基板,并在基板上放置电极层;将基板加热至预设温度;利用喷头将熔融态的有机材料喷涂于电极层,形成熔融态的有机材料层;将另一基板覆盖并按压于熔融态的有机材料层上,并按照预设时长对熔融态的有机材料层进行梯度式降温至另一预设温度,以形成晶态的有机材料层;在晶态的有机材料层上加盖另一电极层,完成有机晶体膜器件的制备。本发明通过喷墨打印机的喷头并利用熔融态的有机材料制备有机晶体膜器件,避免了有机材料因处于气相时容易扩散而导致的材料损失,且可在常压中进行,避免了抽真空过程,降低了有机晶体膜器件的生产成本。
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公开(公告)号:CN114441149B
公开(公告)日:2022-07-05
申请号:CN202210371679.X
申请日:2022-04-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法,属于发光二极管检测领域,其中,系统包括第一光发生模块,用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管,以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号;高光谱相机,所高光谱相机用于采集第二光信号,获得光谱成像帧,光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据;控制模块,与高光谱相机连接,用于基于光谱成像帧,从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管,其中,多个待测微米发光二极管,在接收到第一光信号中的光能后,激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测,提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
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公开(公告)号:CN119534354A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202510089895.9
申请日:2025-01-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/25 , G01N21/63 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种材料掺杂检测方法、装置、电子设备及存储介质,涉及材料掺杂技术领域,包括:获取待检样品的掺杂体系信息,掺杂体系信息包括:主体材料信息、掺杂材料信息和掺杂标准信息,主体材料信息为主体材料与掺杂相关的信息,掺杂材料信息为掺杂进主体材料中的材料的信息,掺杂标准信息指掺杂成功后形成的掺杂体系的信息;获取待检样品在光致发光后的高光谱数据;基于高光谱数据和掺杂体系信息,得到待检样品的材料掺杂检测结果。本申请技术方案旨在解决如何在不损伤样品的前提下高效地检测出材料掺杂的结果的技术问题。
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公开(公告)号:CN118380074A
公开(公告)日:2024-07-23
申请号:CN202410328175.9
申请日:2024-03-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G16C20/70 , G06F16/332 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06N5/04 , G16C20/20 , G16C20/80 , G16C20/90
Abstract: 本发明公开了一种有机分子回答模型的训练方法、训练装置、设备及介质,涉及人工智能技术领域,通过将获取的通用文本编码、样本图像编码和样本组合编码输入待训练的大语言模型,对待训练的大语言模型进行训练,得到预训练后的大语言模型,其中,预训练后的大语言模型用于对输入的目标有机分子图例中的目标文本数据和目标有机分子结构进行识别;获取预设指令跟随数据集,基于预设指令跟随数据集调用预训练后的大语言模型进行训练,得到有机分子回答模型,其中,有机分子回答模型用于依据输入的待回答信息生成针对目标有机分子图例的分子性质分析信息,克服大语言模型无法对有机分子图例进行有效分析并准确输出相关问答内容的缺陷。
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公开(公告)号:CN115635780B
公开(公告)日:2024-05-07
申请号:CN202211370051.4
申请日:2022-11-03
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J29/393 , B41J3/44
Abstract: 本发明属于喷墨打印技术领域,公开了一种喷墨打印系统及方法。控制模块根据当前打印任务的打印分辨率确定目标旋转角度,控制旋转模块旋转;图像采集模块获取当前基板图像;FPGA图像处理模块通过多条并行处理线利用连通域算法从当前基板图像中并行提取打印槽的边缘轮廓,利用最小二乘法进行拟合以确定参考直线,根据参考直线与安装水平线确定当前旋转角度;控制模块在当前旋转角度与目标旋转角度一致时,控制旋转模块停止、控制喷头执行当前打印任务。通过上述方式,控制旋转模块进行旋转,使喷头与打印基板之间产生夹角,以完成分辨率多变的打印任务,并利用低延迟的并行连通域检测实现实时定位,满足了在打印过程中视觉定位的实时需求。
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公开(公告)号:CN117717967A
公开(公告)日:2024-03-19
申请号:CN202311748883.X
申请日:2023-12-18
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及有机薄膜晶体材料制备技术领域,本发明公开了一种有机薄膜晶体材料一体化自动制备平台,包括平台和主控制器,平台上设有备料模块、玻片转移模块、原料滴加模块、真空加热模块和相机支架;备料模块上设有玻片载台和原液载台,玻片转移模块包括桌面机器人、吸盘、散热台和预热台;原料滴加模块包括第一安装板、YZ轴移送机构、滑座、快拆机构、吸头接管以及取液器;真空加热模块包括第一升降机构、腔盖以及真空腔体;相机支架上设有工业相机。本发明提供的有机薄膜晶体材料一体化自动制备平台实现了有机薄膜晶体材料自动制备的功能,提高了材料制备的一致性和制备效率,保证材料合成效果,节省科研人员的时间成本与精力。
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公开(公告)号:CN117709448A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202311768287.8
申请日:2023-12-20
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种知识库构建方法、云端、介质及知识库检索方法,属于大语言及知识图谱技术领域。本发明的知识库构建方法通过提取与知识内容对应的关键词,然后提取所述关键词之间的三元关系,再基于所述三元关系建立知识图谱,最后关联所述三元关系和所述知识内容。如此,本发明在不增加关键词的前提下通过引入关键词间的关系,为知识库内容提供三元描述,以更好地对知识内容进行表征,提高了检索语句与知识内容的匹配度,从而在进行知识库检索时能够更加精确地定位与检索语句最匹配知识库内容,提高了知识库匹配检索的准确性。
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公开(公告)号:CN116029185B
公开(公告)日:2023-06-16
申请号:CN202310304338.5
申请日:2023-03-27
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于计算机技术领域,公开了一种电子自旋禁阻激发偶极确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:建立超分子计算模型;从超分子计算模型中搜索能量最低的N个构象,并根据N个构象生成计算模型,N≥1;对计算模型进行分析,计算电子自旋禁阻跃迁的微扰矩阵元和能差信息;根据微扰矩阵元和能差信息计算电子自旋禁阻激发偶极。通过上述方式,利用计算机实现一体化的模型自动构建、参数计算和数据后处理,确定电子自旋禁阻激发偶极参数,为发光和吸收光半导体材料的分析和革新提供重要数据支持。
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公开(公告)号:CN115635780A
公开(公告)日:2023-01-24
申请号:CN202211370051.4
申请日:2022-11-03
Applicant: 季华实验室
IPC: B41J29/393 , B41J3/44
Abstract: 本发明属于喷墨打印技术领域,公开了一种喷墨打印系统及方法。控制模块根据当前打印任务的打印分辨率确定目标旋转角度,控制旋转模块旋转;图像采集模块获取当前基板图像;FPGA图像处理模块通过多条并行处理线利用连通域算法从当前基板图像中并行提取打印槽的边缘轮廓,利用最小二乘法进行拟合以确定参考直线,根据参考直线与安装水平线确定当前旋转角度;控制模块在当前旋转角度与目标旋转角度一致时,控制旋转模块停止、控制喷头执行当前打印任务。通过上述方式,控制旋转模块进行旋转,使喷头与打印基板之间产生夹角,以完成分辨率多变的打印任务,并利用低延迟的并行连通域检测实现实时定位,满足了在打印过程中视觉定位的实时需求。
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