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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104009823A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410237882.3
申请日：2014-06-02
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于SerDes串行通信技术领域，具体为一种SerDes技术中的错位检测与纠错电路。本发明由发送端数字电路和接收端数字电路两大部分组成。在发送端，由发送端控制器启动校验码发生电路依次产生N位全“1”的同步信号和仅最高位为“0”的校验信号，上述信号被二选一MUX选通输出到模拟Serializer模块，再经过差分传输通道和Deserializer后送给接收端数字电路；在接收端，错位检测电路在检测判别接收数据有没有错位；纠错电路模块根据接收的校验码中“0”实际出现的位号将正确的数据位序恢复纠正并最终输出。本发明采用数字电路实现，具有可编程性以及逻辑简单、灵活性好等优点，与现行通用的基于硬件描述语言的数字集成电路设计流程兼容。
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公开(公告)号：CN103248566A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201310144887.7
申请日：2013-04-24
Applicant: 复旦大学
IPC: H04L12/703 , H04L12/771
Abstract: 本发明属于可靠性计算机片上网络系统设计技术领域，具体为一种应用于片上网络的基于错误阻挡模型的容错方法和结构。本发明基于片上网络的错误阻挡模型，提出一种部分自适应的双通道双方向的容错路由算法，根据该容错路由算法实现部分失效的片上网络的容错路由。此容错路由算法，能够在片上网络存在失效链路和一定数量的失效通径下，以最短路径传递数据，实现路由的免死锁、免活锁和免饥饿，还具有可重构、可扩展和高吞吐率等特性，从而实现较高的伪核利用率。本发明不仅能够容纳在片上网络中心位置的失效链路和路由中一定数量的失效通径，对片上网络边界和角落位置的失效链路和路由中一定数量的失效通径有同样的容错能力。
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公开(公告)号：CN104009823B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201410237882.3
申请日：2014-06-02
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于SerDes串行通信技术领域，具体为一种SerDes技术中的错位检测与纠错电路。本发明由发送端数字电路和接收端数字电路两大部分组成。在发送端，由发送端控制器启动校验码发生电路依次产生N位全“1”的同步信号和仅最高位为“0”的校验信号，上述信号被二选一MUX选通输出到模拟Serializer模块，再经过差分传输通道和Deserializer后送给接收端数字电路；在接收端，错位检测电路在检测判别接收数据有没有错位；纠错电路模块根据接收的校验码中“0”实际出现的位号将正确的数据位序恢复纠正并最终输出。本发明采用数字电路实现，具有可编程性以及逻辑简单、灵活性好等优点，与现行通用的基于硬件描述语言的数字集成电路设计流程兼容。
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公开(公告)号：CN104035896B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201410254412.8
申请日：2014-06-10
Applicant: 复旦大学
IPC: G06F13/16
Abstract: 本发明属于多核处理器设计技术领域，具体为一种适用于2.5D多核系统的融合存储器的片外加速器。该片外加速器包括：逻辑控制电路（包括指令译码器、状态寄存器）、存储器（以阵列方式组织）、加速器、可配置互连网络。逻辑控制电路从处理器端接收配置包，经过解析，对相应的链路进行配置，决定存储器的输出数据是否经过加速逻辑返回处理器。本发明结构适用于面向特定应用的2.5D多核处理系统，可以降低由于片间访存延时较大而引起的性能损失，存储器输出数据可以选择经过不同的加速单元进行计算和输出，具有一定的灵活性。
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公开(公告)号：CN103248566B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310144887.7
申请日：2013-04-24
Applicant: 复旦大学
IPC: H04L12/703 , H04L12/771
Abstract: 本发明属于可靠性计算机片上网络系统设计技术领域，具体为一种应用于片上网络的基于错误阻挡模型的容错方法和结构。本发明基于片上网络的错误阻挡模型，提出一种部分自适应的双通道双方向的容错路由算法，根据该容错路由算法实现部分失效的片上网络的容错路由。此容错路由算法，能够在片上网络存在失效链路和一定数量的失效通径下，以最短路径传递数据，实现路由的免死锁、免活锁和免饥饿，还具有可重构、可扩展和高吞吐率等特性，从而实现较高的伪核利用率。本发明不仅能够容纳在片上网络中心位置的失效链路和路由中一定数量的失效通径，对片上网络边界和角落位置的失效链路和路由中一定数量的失效通径有同样的容错能力。
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