光纤法布里珀罗干涉测振仪非线性误差修正方法

    公开(公告)号:CN110823357A

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201911036474.0

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 光纤法布里珀罗干涉测振仪非线性误差修正方法属于光纤干涉测量技术领域;本发明在不需要改变反射镜位置的前提下,通过给激光波长可调制光源进行波长预扫描,利用输出激光波长的连续变化使干涉仪的测量的光程差产生连续的变化,使得探测器得到的干涉信号产生至少一个周期的相位变化,实现干涉信号特征参数的预提取,并利用预提取的特征参数在测量过程中实现非线性误差修正,进行高精度位移测量;本发明实现了对光纤法布里珀罗干涉测振仪干涉信号特征参数的预提取、能够有效解决干涉测量尤其是微小振动测量中非线性误差的修正问题,在精密测量领域具有显著的技术优势。

    微探头激光调频干涉测距方法及系统

    公开(公告)号:CN117192560A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310968558.8

    申请日:2023-08-02

    Abstract: 本发明属于光纤干涉测量技术领域,公开了微探头激光调频干涉测距方法及系统,本发明在不需要引入绝对式激光测距仪从而引入新的不确定度的前提下,通过连续缓慢改变可调制激光波长,使得探测器得到的干涉信号产生连续周期的相位变化;激光器调制吸收光谱从初始锁定的吸收峰移动到另一个锁定峰,查表得到前后两个锁定吸收峰的波长变化,同时计算得到前后PGC解调出的相位差值,根据波长扫描技术计算得出初始闲区长度;之后利用微探头光纤激光干涉仪相对距离测量精度高的优点,实现待测距离的实时测量;本发明继承了激光测距精度高的优点,克服了其只能测量相对距离,无法测量初始闲区长度的缺点,在精密测量领域具有显著的技术优势。

    一种多自由度微棱镜式干涉传感头的装配对准方法及装置

    公开(公告)号:CN116878377A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202310968508.X

    申请日:2023-08-02

    Abstract: 本发明属于光纤干涉测量技术领域,本发明公开了一种多自由度微棱镜式干涉传感头的装配对准方法及装置。本发明建立与微棱镜探头组成元件五自由度姿态有关的空间‑光纤耦合效率和干涉信号对比度的目标函数,确立约束条件并辨识装配元件各自由度权重和装配精度,设计基于自适应梯度混合迭代算法的多自由度微夹持器调控系统,实现耦合效率和对比度平衡优化的自动对准,采用慢胶固化粘接与实时监测微调控方式,实现毫米级微探头元件装配,并测试装配完成的干涉传感头整体性能。本发明解决了现有毫米级微棱镜式传感头装配因手工实现而导致的装配精度低、一致性差的问题,保证微棱镜式传感头装配质量与效率。

    光纤迈克尔逊干涉测振仪非线性误差修正方法

    公开(公告)号:CN110702210A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201911030986.6

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 光纤迈克尔逊干涉测振仪非线性误差修正方法属于光纤干涉测量技术领域;本发明在不需要改变第一反射镜和第二反射镜位置的前提下,通过给激光波长可调制光源进行波长预扫描,利用输出激光波长的连续变化使干涉仪的参考光束与测量光束之间的光程差产生连续的变化,使得探测器得到的干涉信号产生至少一个周期的相位变化,实现干涉信号特征参数的预提取,并利用预提取的特征参数在测量过程中实现非线性误差修正,进行高精度振动测量;本发明实现了对光纤迈克尔逊干涉测振仪干涉信号特征参数的预提取、能够有效解决干涉测量尤其是微小振动测量中非线性误差的修正问题,在精密测量领域具有显著的技术优势。

    光纤迈克尔逊干涉仪非线性误差修正方法

    公开(公告)号:CN110701998A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201911036469.X

    申请日:2019-10-28

    Abstract: 光纤迈克尔逊干涉仪非线性误差修正方法属于光纤干涉测量技术领域;本发明在不需要改变第一反射镜和第二反射镜位置的前提下,通过给激光波长可调制光源进行波长预扫描,利用输出激光波长的连续变化使干涉仪的参考光束与测量光束之间的光程差产生连续的变化,使得探测器得到的干涉信号产生至少一个周期的相位变化,实现干涉信号特征参数的预提取,并利用预提取的特征参数在测量过程中实现非线性误差修正,进行高精度位移测量;本发明实现了对光纤迈克尔逊干涉仪干涉信号特征参数的预提取、能够有效解决干涉测量尤其是微小位移测量中非线性误差的修正问题,在精密测量领域具有显著的技术优势。

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