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公开(公告)号：CN103389272B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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公开(公告)号：CN103454244B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310412799.0
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于多频调制激光辐照的半透明介质辐射特性测量方法，属于半透明介质辐射特性测量技术领域。本发明为了解决半透明介质辐射特性测量中，单次测量信息的测量结果误差较大的问题。它基于多频调制激光辐照技术，利用多频调制激光照射具有一定黑度涂层的半透明介质表面，通过改变激光调制频率、激光入射角度、试件厚度及试件涂层黑度来获得多组边界处的频域半球反射信号，基于这些反射信号结合逆问题求解技术获得半透明介质的辐射物性参数。本发明用于测量半透明介质辐射特性。
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公开(公告)号：CN103674888A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310721986.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量，继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数，最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法，可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103472033A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310467760.9
申请日：2013-10-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种利用连续激光辐照技术测量球形颗粒光谱复折射率的方法，属于颗粒光学特性测量技术领域，解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明通过建立球形颗粒系反射信号和透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，采用连续激光，测量得到颗粒系的半球反射信号和半球透射信号，采用现有Mie理论模型，能很精确的反应出颗粒的电磁散射特性。本发明适用于测量球形颗粒光谱复折射率。
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公开(公告)号：CN103411905A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310369795.9
申请日：2013-08-23
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，它涉及一种基于短脉冲激光辐照及多信息逆问题求解算法的参与性介质辐射特性测量方法，本发明是要解决现有基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量信息量不足和测量结果误差较大的问题。本发明方法通过如下步骤来实现：一、获得试件的时域半球反射信号曲线R(t)；二、获得试件在N组工况下的时域半球反射信号曲线Ri,mea(t)；三、获得计算域内的辐射强度场；四、获得试件x=0左侧边界上的时域半球反射信号的估计值Ri,est(t)；五、获得逆问题算法中的目标函数值Fobj；六、获得待测介质的吸收系数κa和待测介质的散射系数κs。本发明可应用于参与性介质辐射物性测量技术领域。
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公开(公告)号：CN103389272A
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201310331875.5
申请日：2013-08-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于脉冲激光的半透明介质衰减系数和散射反照率的快速测量方法，属于半透明介质辐射物性测量技术领域。本发明解决了基于逆问题求解的半透明介质辐射测量方法测量速度缓慢的问题，本发明向半透明待测试件的一侧表面涂覆上黑度涂层，利用高斯脉冲激光光束垂直入射到试件无涂层的一侧表面，采用单光子计数器测量半透明介质时域半球反射信号；设定待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω的值，时域半球反射信号的估计值与用单光子计数器测量半透明介质的时域半球反射信号做最小二乘差值；判断该差值是否小于阈值，若是将设定的待测介质的衰减系数β和待测介质的散射反照率ω作为结果。本发明适用于半透明介质辐射物性测量。
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公开(公告)号：CN103674888B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201310721986.7
申请日：2013-12-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 高温半透明材料光谱方向表观发射率逆推测量装置及方法，属于高温材料热物性测量技术领域。本发明是为了解决目前半透明材料光谱方向表观发射率测量精度低、温度上限低、测量波段窄并且存在测量死角的问题。本发明利用傅里叶红外光谱仪分别对半透明材料的高温法向透射率和高温法向发射率进行测量，继而根据辐射传输逆问题求解方法计算得到半透明材料的光谱折射率和光谱吸收系数，最终由材料的光谱折射率和光谱吸收系数计算得到半透明材料高温光谱方向表观发射率。本发明提供了一种可靠的可对半透明材料高温光谱方向表观发射率进行准确测量的测量方法，可以广泛应用于航空航天、军事、能源、化工、以及大气科学等诸多领域。
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公开(公告)号：CN103439283A
公开(公告)日：2013-12-11
申请号：CN201310412796.7
申请日：2013-09-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于单频激光辐照的双层参与性介质光谱辐射特性测量方法，属于参与性介质光学参数测量技术领域。本发明为了解决现有双层参与性介质光谱辐射特性的测量成本高及测量结果不准确的问题。它利用单频激光先后从两侧辐照双层参与性介质表面，利用探测器获得样品表面的频域复半球反射信号和复半球透射信号，最后利用反演的方法获得双层参与性介质的光谱吸收系数和光谱散射系数。本发明用于测量双层参与性介质光谱辐射特性。
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