公开(公告)号：CN116288184A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310161284.1

申请日：2023-02-24

Applicant: 厦门钨业股份有限公司 ,  厦门金鹭特种合金有限公司

Inventor： 许荣杰 ,  钟舒琦 ,  蔡僖妍 ,  刘超 ,  林亮亮 ,  郑爱钦 ,  赵晓晓 ,  刘伯路 ,  文晓 ,  范超颖 ,  贺玮迪

IPC: C23C14/34 ,  C23C14/06 ,  C23C14/50 ,  B23B27/00

Abstract: 本发明属于涂层领域，具体涉及一种纳米多层复合涂层及其制备方法和应用。所述纳米多层复合涂层包括A层和B层，所述A层和B层以周期性A‑B‑A‑B或B‑A‑B‑A的方式排列，所述A层以ZrAlN立方相作为主体结构且其组成以化学式Zrx1(Alx2Hfx3Mex4)Nx5表示，所述B层以HfAlN立方相作为主体结构且其组成以化学式Hfy1(Aly2Zry3Me`y4)Ny5表示。本发明提供的纳米多层复合涂层兼具有超硬度、强韧性及高结合力强度，进而具备长切削寿命。

公开(公告)号：CN119470506A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202411634640.8

申请日：2024-11-15

Applicant: 厦门钨业股份有限公司

Inventor： 江嘉鹭 ,  吴敬松 ,  陈阿娇 ,  钟舒琦 ,  王海燕 ,  张晓丹 ,  肖光磊

IPC: G01N23/20008

Abstract: 本申请公开了一种用于XRD测试微区相成分的制样方法，属于XRD相成分检测技术领域。通过在待测样品的待测面覆盖选定的覆盖物，而后将待测样品的待测区域处的覆盖物刻蚀后仅暴露出待测样品的待测区域。这样，在采用X射线衍射仪对待测区域的相成分进行测试时，待测区域以外的待测面无衍射峰或与待测区域衍射峰不完全重叠，就可获得微米级待测区域的衍射峰图谱。本发明的方法使得微米级待测区域的相成分的XRD检测可以不受测量方式或仪器硬件条件的限制。