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公开(公告)号:CN108346148A
公开(公告)日:2018-07-31
申请号:CN201810130763.6
申请日:2018-02-09
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开一种高密度柔性IC基板氧化区域检测方法,本方法分为彩色图像灰度化、图像去噪预处理、阈值分割、空间滤波修正和氧化区域面积计算五大部分。首先将彩色图像灰度化,达到去除冗余彩色空间信息的目的,为后续操作节约时间;其次提出加权邻域闭曲线均值模板对图像去噪处理且比现有的滤波器去噪时间短;再次阈值分割,分割出覆铜板上被氧化的区域;然后进行空间滤波修正,主要目的是再次去除噪声、斑点或孤立点等;最后计算图像中被氧化的面积。本发明解决了柔性IC基板氧化检测过程的高分辨率显微图像面积快速计算难题。
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公开(公告)号:CN107369176A
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201710576552.0
申请日:2017-07-14
Applicant: 华南理工大学
CPC classification number: G06T7/62 , G01N21/8851 , G01N21/956 , G01N2021/8887 , G06T3/4038 , G06T5/50 , G06T7/11 , G06T2207/20221
Abstract: 本发明公开一种超薄柔性IC基板氧化面积检测系统,包括:金相显微成像采集系统,包括摄像机,通过摄像机采集柔性IC基板各部分的高分辨率数字图像;图像融合系统,用于将拍摄完成后的所有图像拼接成完整的柔性IC基板图像;氧化面积快速检测系统,用于对所拼接的柔性IC基板高分辨率图像进行RGB-HSI彩色空间转换及拓扑映射处理确定氧化面积区域。本发明还公开了一种超薄柔性IC基板氧化面积检测方法。本发明解决了柔性IC基板氧化检测过程的高分辨率显微图像面积快速计算难题,检测速度可靠。
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