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公开(公告)号:CN112929016B
公开(公告)日:2024-02-20
申请号:CN202110116864.X
申请日:2021-01-28
Applicant: 北京科技大学
IPC: H03K17/79
Abstract: 本发明提供一种垂直结构的光电逻辑开关,属于半导体光电集成技术领域。所述光电逻辑开关包括:设置于顶层的光探测单元,用于将探测到的光信号转换为电流信号;设置于中间层的阻抗单元,其输入端与所述光探测单元的输出端电连接;所述阻抗单元用于将所述光探测单元产生的电流信号转换为电压信号,并将所述电压信号放大至所述逻辑电路的探测范围;设置于底层的逻辑单元,其输入端与所述阻抗单元的输出端电连接;所述逻辑单元用于实现将所述阻抗单元输出的低电平电压信号反向转换成高电平电压信号输出。本发明能够实现光电集成和逻辑运算,还能简化了制备工艺,缩小器件体积。
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公开(公告)号:CN112929016A
公开(公告)日:2021-06-08
申请号:CN202110116864.X
申请日:2021-01-28
Applicant: 北京科技大学
IPC: H03K17/79
Abstract: 本发明提供一种垂直结构的光电逻辑开关,属于半导体光电集成技术领域。所述光电逻辑开关包括:设置于顶层的光探测单元,用于将探测到的光信号转换为电流信号;设置于中间层的阻抗单元,其输入端与所述光探测单元的输出端电连接;所述阻抗单元用于将所述光探测单元产生的电流信号转换为电压信号,并将所述电压信号放大至所述逻辑电路的探测范围;设置于底层的逻辑单元,其输入端与所述阻抗单元的输出端电连接;所述逻辑单元用于实现将所述阻抗单元输出的低电平电压信号反向转换成高电平电压信号输出。本发明能够实现光电集成和逻辑运算,还能简化了制备工艺,缩小器件体积。
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公开(公告)号:CN217303841U
公开(公告)日:2022-08-26
申请号:CN202220833334.7
申请日:2022-04-08
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本实用新型提供一种辅助测量拉伸试样尺寸的固定工装,属于辅助检测工装技术领域。该工装包括底板和两个制有V型槽的磁性支座。底板上制有一个纵向台阶状导向槽,将固定支座固定在底板一端,移动支座根据试样长度在底板上沿台阶状导向槽移动,以调节固定位置。固定支座和移动支座外端面上均设置磁性开关。该固定工装针对金属软磁材料制成的棒状拉伸试样和板状拉伸试样,通过转动磁性支座的磁性开关,分断和接通磁极实现拉伸试样的固定与释放。该工装有助于拉伸试样试验前和断裂后的标距长度以及直径或宽度尺寸的稳定和准确测量,具有试样固定和配接效率高、配接准确、测量时量具不会受到固定工装部件的干扰的优点。
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