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公开(公告)号：CN108872643A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810438421.0
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明涉及一种用于反射率测试的三自由度磁性工装结构。该工装结构包括固定板、俯仰调节板、方位调节板和磁性座，其中，俯仰调节板通过俯仰转轴固定在固定板上，俯仰转轴使俯仰调节板能够相对固定板俯仰转动。方位调节板的一端通过方位转轴可转动地固定在俯仰调节板上，且方位转轴的轴向垂直于俯仰转轴的轴向设置，磁性座通过横滚转轴可转动地固定在方位调节板的另一端，且横滚转轴的轴向垂直于方位转轴的轴向设置，所述磁性座设有电磁铁及控制电磁铁的电磁开关，用于将具有磁性的待测材料板或供待测材料贴附的磁性金属板吸附于工作面，使用该工装结构，使待测材料摆放定位和重复摆放的精度高，降低对操作人员的操作要求，减小人为因素的影响。
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公开(公告)号：CN108647183B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201810284053.9
申请日：2018-04-02
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及基于压缩感知的复RCS数据插值方法，属于综合试验测试技术领域。该方法的一具体实施方式包括：根据RCS测量数据，构建复数域重构模型；求解所述复数域重构模型，获取所述RCS数据的稀疏分布；基于所述稀疏分布重构目标频域数据，实现复RCS数据插值。相对于传统的对复矩阵进行简单对角化处理的方法，本发明不减少也不增加原始约束范围，处理速度快和精度高，能够有效缩短测量时间以提高RCS测量效率。
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公开(公告)号：CN108872643B
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201810438421.0
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明涉及一种用于反射率测试的三自由度磁性工装结构。该工装结构包括固定板、俯仰调节板、方位调节板和磁性座，其中，俯仰调节板通过俯仰转轴固定在固定板上，俯仰转轴使俯仰调节板能够相对固定板俯仰转动。方位调节板的一端通过方位转轴可转动地固定在俯仰调节板上，且方位转轴的轴向垂直于俯仰转轴的轴向设置，磁性座通过横滚转轴可转动地固定在方位调节板的另一端，且横滚转轴的轴向垂直于方位转轴的轴向设置，所述磁性座设有电磁铁及控制电磁铁的电磁开关，用于将具有磁性的待测材料板或供待测材料贴附的磁性金属板吸附于工作面，使用该工装结构，使待测材料摆放定位和重复摆放的精度高，降低对操作人员的操作要求，减小人为因素的影响。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN108489396B
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201810425229.8
申请日：2018-05-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种二维转顶精度检测方法，涉及电磁散射技术领域。其中，该方法包括：将二维转顶的俯仰角和方位角调至初始角度，以第一角度间隔使二维转顶作方位运动，通过激光跟踪仪采集反射器在每个理论方位角下的坐标；以第二角度间隔使二维转顶作俯仰运动，通过激光跟踪仪采集反射器在每个理论俯仰角下的坐标；根据所述反射器在每个理论方位角下的坐标以及在每个理论俯仰角下的坐标，确定空载状态下二维转顶方位运动、俯仰运动的定位精度以及方位轴和俯仰轴的正交度。通过以上步骤，能够提高检测获得的方位运动、俯仰运动定位精度的准确性，实现方位轴与俯仰轴正交度的检测，提高二维转顶精度检测的全面性。
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公开(公告)号：CN105676184B
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201610015290.6
申请日：2016-01-11
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 公开了一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统，包括：定标体、定标支架和移动单元。本发明通过以低散射金属支架作为定标支架，能够在测试位置不变时而不影响测试目标回波，因而可以时时监控背景变化情况，能够防止外界环境对定标支架稳定性的影响，提高定标支架的环境适应性和测量结果的准确性、精确性；通过在定标支架上设置定标体，能够实现异地定标，避免由于不采用异地定标时需要交替更换待测目标和测试标准体而导致的安装效率低、测试准确性差的现象。
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公开(公告)号：CN106872951A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201710002639.7
申请日：2017-01-03
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于压缩感知的暗室宽带RCS测量方法,包括步骤有：(1)设计稀疏测量矩阵,对压缩采样测试参数进行配置；(2)依次将定标体、测量目标放在转台上，完成对测量目标的回波数据采样，采样过程中转台做匀速转动；(3)根据得到的采样数据完成对测量目标的定标处理；(4)将定标后的目标数据通过稀疏测量矩阵进行稀疏化处理；(5)利用二维矩阵数据重构算法对其他角度和其他频率的数据重构。本发明利用了二维信号的耦合性，所以在同样数据量的前提下，成像分辨率提高。
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公开(公告)号：CN208818657U
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201821633049.0
申请日：2018-10-09
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本实用新型涉及双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置，所述回转座支撑在基座上，并且与基座采用螺钉非接触连接；所述回转座为同轴两轴独立回转座，弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接，回转座内轴连接内侧回转体，弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接，回转座外轴连接外侧回转体；弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构；目标支架设置在基座内侧正前方，并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。本实用新型两个支臂之间的角度控制方便，有利于减小装置整体的体积，并可实现对待测材料进行不同入射角度的反射率测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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