双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置

    公开(公告)号:CN108956649A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201811172720.0

    申请日:2018-10-09

    CPC classification number: G01N23/00

    Abstract: 本发明涉及双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置,所述回转座支撑在基座上,并且与基座采用螺钉非接触连接;所述回转座为同轴两轴独立回转座,弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接,回转座内轴连接内侧回转体,弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接,回转座外轴连接外侧回转体;弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构;目标支架设置在基座内侧正前方,并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。本发明两个支臂之间的角度控制方便,有利于减小装置整体的体积,并可实现对待测材料进行不同入射角度的反射率测量。

    一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统

    公开(公告)号:CN105676184A

    公开(公告)日:2016-06-15

    申请号:CN201610015290.6

    申请日:2016-01-11

    CPC classification number: G01S7/02 G01S7/40

    Abstract: 公开了一种用于RCS测量时异地定标用的低散射金属支架系统,包括:定标体、定标支架和移动单元。本发明通过以低散射金属支架作为定标支架,能够在测试位置不变时而不影响测试目标回波,因而可以时时监控背景变化情况,能够防止外界环境对定标支架稳定性的影响,提高定标支架的环境适应性和测量结果的准确性、精确性;通过在定标支架上设置定标体,能够实现异地定标,避免由于不采用异地定标时需要交替更换待测目标和测试标准体而导致的安装效率低、测试准确性差的现象。

    双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置

    公开(公告)号:CN208818657U

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201821633049.0

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本实用新型涉及双圆弧支臂剪叉式反射率测量装置,所述回转座支撑在基座上,并且与基座采用螺钉非接触连接;所述回转座为同轴两轴独立回转座,弧形内支臂首端与回转座的回转座内轴连接,回转座内轴连接内侧回转体,弧形外支臂首端与回转座的回转座外轴连接,回转座外轴连接外侧回转体;弧形内支臂和弧形外支臂的末端分别对应连接天线机构;目标支架设置在基座内侧正前方,并与弧形内支臂和弧形外支臂的末端在同一竖直平面内位置相对应。本实用新型两个支臂之间的角度控制方便,有利于减小装置整体的体积,并可实现对待测材料进行不同入射角度的反射率测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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