公开(公告)号：CN119618125A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411706718.2

申请日：2024-11-26

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 姜涌泉 ,  刘紫薇 ,  刘拓 ,  安兆彬 ,  李博伟 ,  胡雨佳 ,  莫崇江

IPC: G01B21/00 ,  G01B21/22

Abstract: 本发明实施例涉及缩进场测量技术领域，特别涉及一种反射面扭转边齿位置及其扭曲程度的检测方法。本发明实施例提供了一种反射面扭转边齿位置及其扭曲程度的检测方法，包括：根据理想紧缩场测试环境的要求，建立仿真模型；其中，所述仿真模型包括馈源和反射面；其中，所述反射面为旋转抛物面，包括投影为矩形的主面和分布在所述主面周边的边齿；设定所述仿真模型的仿真参数，设定所述边齿的理想位置为零位；采集每个上边齿、下边齿不同角度下的测试数据，得到数据库；根据所述数据库现场调试所述反射面。本方案，能够降低装调成本。

公开(公告)号：CN117930173A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202410100438.0

申请日：2024-01-24

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 吴洋 ,  邓浩川 ,  莫崇江 ,  孔德旺 ,  刘拓 ,  安兆彬 ,  刘紫薇 ,  姜涌泉 ,  陈文强

IPC: G01S7/41 ,  G01S13/89

Abstract: 本发明涉及雷达探测技术领域，特别涉及一种等离子频率扩展效应等效RCS测量系统及方法，其中系统包括高速气流产生装置、等离子体鞘套试验装置、传递定标子系统和频谱扩展量化测量子系统；传递定标子系统和频谱扩展量化测量子系统分时共用收发天线和环形器/电桥；传递定标子系统还包括矢量网络分析仪，用于获取回波数据，以确定天线直漏信号的等效RCS；频谱扩展量化测量子系统还包括信号源和频谱仪，用于获取等离子频率扩展效应下的目标对应的频谱回波信号，以结合天线直漏信号的等效RCS，确定等离子频率扩展效应等效RCS。本发明能够实现等离子频率扩展效应的RCS量化测量。

公开(公告)号：CN115685125A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211352373.6

申请日：2022-10-31

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 吴洋 ,  邓浩川 ,  莫崇江 ,  孔德旺 ,  刘拓 ,  安兆彬 ,  刘紫薇 ,  姜涌泉 ,  陈文强

IPC: G01S7/41

Abstract: 本发明涉及等离子频谱扩展效应等效雷达散射截面定标系统和方法，其中，该系统中的风洞用于利用高速气流产生装置充入的高速试验气体形成爆轰实验环境；天线直漏回波定标用收发装置用于通过信号传输模块获取风洞内背景回波数据和预设定标体回波数据，并发送给定标模块；等离子频谱扩展效应信号回波定标用收发模块用于通过信号传输模块获取爆轰实验环境下的风洞内待测目标回波数据，并发送给定标模块；定标模块用于确定在预设测量频率下，待测目标等离子频谱扩展效应信号回波等效雷达散射截面。

公开(公告)号：CN114137506A

公开(公告)日：2022-03-04

申请号：CN202111437752.0

申请日：2021-11-30

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 刘拓 ,  孔德旺 ,  吴洋 ,  安兆彬 ,  刘紫薇 ,  姜涌泉

IPC: G01S13/02 ,  G01S13/87

Abstract: 本申请涉及雷达探测技术领域，尤其涉及一种双站RCS测量方法。该测量方法应用于双站RCS测量系统，包括：发射站、接收站、信号源、第一接收机、第二接收机、第一链路、第二链路和第三链路；其中，第一链路包括第一ROF模块、功率放大器、定向耦合器和发射天线，用于传输测量信号；第二链路包括第二ROF模块，用于传输参考信号；第三链路包括接收天线和低噪声放大器，用于传输回波信号；测量方法包括：连接双站RCS测量系统中的各设备；利用标准体对双站RCS测量系统进行校准，得到校准后的双站RCS测量系统；利用校准后的双站RCS测量系统进行目标的双站RCS测量。本申请提供的双站RCS测量方法能够降低长距离信号传输引起的功率损耗，传输距离长，测量系统简单。

公开(公告)号：CN115639514A

公开(公告)日：2023-01-24

申请号：CN202211318390.8

申请日：2022-10-26

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 刘拓 ,  孔德旺 ,  吴洋 ,  安兆彬 ,  刘紫薇 ,  姜涌泉

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明实施例涉及电磁测试技术领域，特别涉及一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法。方法包括：利用所述微波倍频测试系统对待测样本进行电磁散射特性测试，以获得所述待测样本在预设频率、预设角域范围内的RCS测量值；对所述待测样本进行电磁散射特性仿真计算，以获得所述待测样本在所述预设频率、所述预设角域范围内的RCS理论值；确定所述微波倍频测试系统的开环测量误差，所述开环测量误差包括背景噪声误差；根据所述RCS测量值、所述RCS理论值以及所述开环测量误差，确定所述微波倍频测试系统的非线性误差。本发明提供的方法不需要引入具有波导端口的可调衰减器，测试成本低。

公开(公告)号：CN114089049A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202111373706.9

申请日：2021-11-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 吴洋 ,  安兆彬 ,  孔德旺 ,  刘拓 ,  刘紫薇 ,  陈文强 ,  姜涌泉 ,  张英南 ,  莫崇江

IPC: G01R29/10 ,  G01R35/00

Abstract: 本申请涉及天线校准技术领域，特别涉及一种天线测试的校准方法、装置、电子设备和存储介质。该方法首先对发射天线和接收天线进行第1次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第1次测量值；利用第1次测量值，获得多通道开关箱中各通道的修正值；对发射天线和接收天线进行第i次天线测试，获得多通道开关箱中各通道的第i次测量值，其中，i大于等于2；利用各通道的修正值对各通道的第i次测量值进行校准，得到多通道开关箱中各通道在第i次天线测试时的校准值。本申请提供的校准方法能够将真实测试环境纳入校准范围内，实现在开环状态下对多通道开关箱中各通道之间的差异进行修正，从而获得多通道开关箱中各通道在天线测试时的校准值。