一种用于石英晶体谐振器绝缘电阻测试方法及装置

    公开(公告)号:CN113985131A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111080770.8

    申请日:2021-09-15

    Abstract: 本申请公开了一种用于石英晶体谐振器绝缘电阻测试方法及装置,方法包括将石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置通过接口同绝缘电阻测试仪、直流稳压电源和计算机连接好,将测试适配器安装在石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置中的测试适配座上,然后将待测试石英晶体谐振器引线安放在测试适配器的定位孔里;启动绝缘电阻测试软件中的开始测试命令,绝缘电阻测试软件的测试程序控制石英晶体谐振器绝缘电阻测试装置切换选择,将待测试石英晶体谐振器的测试引线分别电性接入绝缘电阻测试仪,然后计算机从绝缘电阻测试仪读取绝缘电阻阻值,直到将产品测试完成。本申请具有测试无损伤、操作快捷方便、测试效率高等特点和优势。

    一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法

    公开(公告)号:CN107991561B

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN201711226436.2

    申请日:2017-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置及方法;所述用于石英晶体谐振器的老化性能测试装置包括底端开口的壳体;位于所述壳体底端的输出转接基座;位于所述壳体内且与所述输出转接基座结合固定的信号处理及调试功能通用底板;及位于所述壳体内且位于所述信号处理及调试功能通用底板上方的振荡及加热控温功能适配插板。所述老化性能测试方法包括将石英晶体谐振器插接在振荡及加热控温功能适配插板上;将振荡及加热控温功能适配插板插接在信号处理及调试功能通用底板上;将插装完成的老化性能测试装置装入老化测试系统中并加电调试;进行老化性能测试;卸载石英晶体谐振器。本发明解决了现有方法破坏产品形貌、产品适配性差等问题。

    一种电老炼实现装置和方法

    公开(公告)号:CN112698172A

    公开(公告)日:2021-04-23

    申请号:CN202011359773.0

    申请日:2020-11-27

    Abstract: 本发明公开一种电老炼实现装置和方法,解决现有装置和方法对产品进行间歇式电信号激励及电老炼批量不足的问题。一种电老炼实现装置,用于分立式晶体滤波器,包含:晶振加电模块和滤波器测试模块;所述晶振加电模块,用于产生与待测分立式晶体滤波器中心频率相同的正弦波激励信号;所述滤波器测试模块,用于接收所述正弦波激励信号,输出滤波信号,所述滤波信号用于高温电老炼测试。所述方法使用所述装置。本发明可实现分立式晶体滤波器批量化高温电老炼测试。

    一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置

    公开(公告)号:CN108857689B

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201810738698.5

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 本发明实施例提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置,包括:加工平台;设于所述加工平台上的承载晶片的研磨盘;驱动所述研磨盘转动的驱动机构;扣压固定在所述晶片上的晶片扣,所述晶片扣包括沉孔;以及按压在所述晶片扣上的按压机构;其中,所述按压机构包括可插入所述沉孔与所述晶片扣插接固定的顶针以及驱动所述顶针转动的第一转动机构。本发明提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置,能够保证晶片研磨曲面稳定,保证设计符合性及外形对称性。并且可调节控制支撑杆、顶针以及晶片水平面等三者之间的相互垂直及固定关系,实现了晶片在研磨过程中始终保持研磨重心不变。

    一种石英谐振器
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105978525B

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201610268746.X

    申请日:2016-04-27

    Abstract: 本申请公开了一种石英谐振器,包括:通过石英晶片与镀有金属膜的下电极之间悬离;和/或,石英晶片与镀有金属膜的上电极之间悬离,使得石英谐振器中石英晶片与上下电极上的金属膜分离,有效地解决了由于石英谐振器中上、下电极对应的金属膜被附着在石英晶片表面使得金属膜内表面和石英晶体外表面形成内应力进而该内应力引发石英谐振器的振荡频率发生漂移的问题,提升石英谐振器输出振荡频率的稳定性。

    一种晶体振荡器相位噪声振动监测装置和方法

    公开(公告)号:CN107860463A

    公开(公告)日:2018-03-30

    申请号:CN201710873939.2

    申请日:2017-09-25

    CPC classification number: G01H11/00

    Abstract: 本发明提供了一种晶体振荡器相位噪声振动监测装置和方法,解决传统振动试验考核方法中无法真实反映产品在振动环境下的工作状态的问题。本申请实施例的监测装置包括:底座、监测板、固定板、盖板;监测板夹装在所述底座和所述固定板之间;固定板上包含开孔、电极;盖板覆盖于开孔上表面,用于固定晶体振荡器;监测板上包含个活动连接器和印刷电路线;活动连接器用于安放晶体振荡器,包含电源端、振荡信号输出端;印刷电路线用于连接振荡信号输出端和电极。本申请的实施例还提供一种监测方法。本发明的方案实现批量监测动态工作状态下的晶体振荡器相位噪声。

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