集成电路下层硬件映射方法、时空图压缩方法及装置

    公开(公告)号:CN102054108B

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN201010620046.5

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路下层硬件映射的方法及装置,所述方法包括:程序分析步骤,读取分析程序,匹配出被映射的执行对象和参数对象;数据控制流图生成步骤,将执行对象和参数对象映射成数据控制流图中的相应节点;算子时空图生成步骤,从算子单元库中取出对应的算子单元将数据控制流图展开成算子时空图;时序约束步骤,根据总时序约束对算子时空图的每个层级进行时序约束;时空图压缩步骤,根据时间标注对时空图进行空间上的聚类压缩。本发明还公开了一种时空图的压缩方法及装置,所述方法包括:通过引入控制算子的方式将运算属性相同和/或存储属性相同听算子在空间上进行合并压缩。通过上述方法和装置,提高了集成电路的设计速度。

    可重构算子、集成电路和用于降低可重构算子功耗的方法

    公开(公告)号:CN102184274B

    公开(公告)日:2012-10-24

    申请号:CN201110053618.0

    申请日:2011-03-07

    Abstract: 本发明一种可重构算子,包括功耗控制模块,功耗控制模块用于对可重构算子的功耗进行控制;功耗控制模块可以根据可重构算子的功能单元不实现任何具体功能时,对可重构算子的供电情况进行控制,或者在可重构算子实现某种具体的功能时,根据可重构算子处理数据的连续性,对输出数据进行控制,以达到降低功耗的目的。本发明还公开了一种包括所述可重构算子的集成电路。本发明还根据可重构算子进行功耗控制的原理提炼出一种用于降低可重构算子功耗的方法。

    一种基于活性测度的硬件木马检测方法

    公开(公告)号:CN102662144A

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN201210090666.1

    申请日:2012-03-30

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于活性测度的硬件木马检测方法,该方法包括三个部分:.bench文件生成,电路活性测度和硬件木马检测测试矢量集生成。本发明通过分析电路网表,计算电路内部节点的活性值,产生电路低0活性节点和低1活性节点列表,然后对节点进行判定分组,生成硬件木马检测测试矢量集。本发明可以设置不同活性阈值,不带来检测硬件木马的额外硬件开销,能够有效检测组合逻辑型硬件木马。本发明也可用作硬件木马可检测设计方法中目标节点选取。

    一种基于开源处理器与开源操作系统的SoC开发方法

    公开(公告)号:CN101369226B

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN200710075658.9

    申请日:2007-08-13

    Abstract: 本发明涉及一种基于开源处理器与开源操作系统的SoC开发方法,步骤如下:首先建立基于开源处理器的SoC开发平台,之后将开源操作系统移植到SoC开发平台。第一步,采用FPGA芯片建立基于开源处理器的SoC平台,相应的HDL设计文件使用综合工具生成FPGA的网表文件,然后使用Quartus工具生成下载文件,通过JTAG端口将其载到SoC硬件平台的FPGA芯片上;第二步,将开源操作系统Linux2.6移植到SoC开发平台上,使用工具链软件cygwin,将按需裁剪后的开源操作系统Linux2.6烧写入ROM中。本发明能增减处理器的IO接口配置与指令集和裁剪操作系统的内核,在片上系统上实施软硬件的协同设计,可以明显的加快相关SoC芯片的开发,降低研发流片的风险,推出先进数字电路、处理器与集成电路设计教学系统。

    集成电路下层硬件映射方法、数据控制流生成方法及装置

    公开(公告)号:CN102054109A

    公开(公告)日:2011-05-11

    申请号:CN201010622446.X

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路下层硬件映射方法及装置,通过对描述集成电路算方法的计算机语言程序进行分析,并将其映射为描述集成电路算法的数据控制流图,再转换为相应的算子时空图,并对数据控制流图进行时序约束,从而根据时序标注对算子时空图进行聚类压缩,再生成集成电路下层硬件电路逻辑描述,从而创造了一种从计算机语言到集成电路下层硬件电路逻辑描述的映射工具,标准化地实现了集成电路从C或MATLAB等语言生成下层硬件的过程,实现起来方便快捷。本发明公开的数据控制流生成方法及装置通过对计算机语言程序分析得到其相应的数据相关性、数据可并行性和相应控制信息等,从而生成相应的数据控制流图,帮助硬件工程师进行硬件设计。

    集成电路下层硬件映射方法、数据控制流时序约束方法及装置

    公开(公告)号:CN102043886A

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN201010619849.9

    申请日:2010-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路下层硬件映射方法及装置,通过对描述集成电路算方法的计算机语言程序进行分析,并将其映射为数据控制流图,再转换为算子时空图,并对数据控制流图进行时序约束,从而根据时序标注对算子时空图进行聚类压缩,再生成集成电路下层硬件电路逻辑描述,从而创造了一种从计算机语言到集成电路下层硬件电路的映射工具,标准化地实现了集成电路从C或MATLAB等语言生成下层硬件的过程,实现起来方便快捷。本发明公开的数据控制流图时序约束方法及装置通过对数据控制流进行时序约束,使得根据该约束方法得到的电路具有规整性,并且该方法适用于数字电路的时序设计和验证,可以更大程度上帮助硬件工程师进行硬件设计。

    一种基于活性测度的硬件木马检测方法

    公开(公告)号:CN102662144B

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201210090666.1

    申请日:2012-03-30

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于活性测度的硬件木马检测方法,该方法包括三个部分:bench文件生成,电路活性测度和硬件木马检测测试矢量集生成。本发明通过分析电路网表,计算电路内部节点的活性值,产生电路低0活性节点和低1活性节点列表,然后对节点进行判定分组,生成硬件木马检测测试矢量集。本发明可以设置不同活性阈值,不带来检测硬件木马的额外硬件开销,能够有效检测组合逻辑型硬件木马。本发明也可用作硬件木马可检测设计方法中目标节点选取。

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